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本申请提供了一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备，半导体芯片测试数据的存储方法包括将目标芯片的目标测试项目按照预设测试步骤进行行排序，确定目标测试项目对应的数据文件行信息；将目标测试项目下先后按照预设测试项目基本信息、预设测试步...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。

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