一种SOC芯片测试方法及系统技术方案

一种SOC芯片测试方法及系统，涉及集成电路技术。本发明专利技术的测试方法包括测试用例集初始化、测试用例集创建、测试用例集运行、测试用例集释放。本发明专利技术还提供了一种SOC芯片测试系统，包括测试用例集管理单元、测试空间管理单元、测试用例集单元、被测模块驱动程序单元、被测模块单元、RAM空间。本发明专利技术能以较少的RAM占用，实现对SOC芯片多个模块多个测试用例的统一高效管理，且便于测试结果汇总，能大大提高SOC芯片测试质量及效率。片测试质量及效率。片测试质量及效率。

【技术实现步骤摘要】
一种SOC芯片测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及集成电路技术，尤其涉及一种SOC芯片测试方法及系统。

技术介绍

[0002]一颗SOC(System on Chip)芯片应用到终端产品中一般需要经过前期的设计、验证、测试、晶圆制造，以及后期的测试、封装、成品测试、板级测试等环节，在整个生产链条中，芯片测试环节贯穿了整个芯片的设计和量产的过程。随着SOC芯片集成度越来越高，模块及功能越来越丰富，芯片可能潜在的问题越来越多，对芯片的测试要求逐步提高，相应的测试用例也逐步增加。然而，随着芯片的功能模块越来越多，各个功能模块包括的工作模式也错综复杂，于是，测试用例程序与日俱增，随之而来的问题是：
[0003]1占用较多RAM。由于成本的考量，一般SOC芯片的FLASH存储资源较为丰富，RAM存储资源相对较为有限，FLASH资源足够存储丰富的测试用例，而RAM资源却随着测试用例的增多而显得捉襟见肘，某些测试场景下为不占用过多RAM，可能会减少部分测试用例，但这会使得对SOC芯片的测试不太充分，最终影响到SOC芯片的测试质量。
[0004]2测试用例管理混乱。对于越来越复杂的SOC芯片，往往需要多名工程师协作共同完成测试，由于工程师个体经验差异，在缺乏统一测试架构指导及管理的情况下，各自的测试用例可能存在一定差异，这极大地增加了测试用例整合、维护及未来重用的难度，最终影响到SOC芯片的测试效率。
[0005]3测试结果难以统计。对于每个测试用例的测试结果，缺乏统一的统计、分析、判断，增加了所有测试用例的测试结果汇总难度，最终影响到SOC芯片的测试评价。
[0006]因此，现在亟需一种SOC芯片测试方法及系统来解决上述问题。

技术实现思路

[0007]基于以上问题，本专利技术的第一目的在于提供一种SOC芯片测试方法，该方法能以较少的RAM占用，实现对多个测试用例的统一管理，且便于测试结果汇总，提高SOC芯片测试质量及效率。
[0008]本专利技术实现其第一专利技术目的所采用的技术方案是，一种SOC芯片测试方法，其步骤包括：
[0009](1)测试用例集初始化：测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请测试管理数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；
[0010](2)测试用例集创建：创建至少一个测试用例集数据结构用RAM空间，每个测试用例集包括至少一个测试用例，在每个测试用例集下，创建至少一个测试用例数据结构用RAM空间；
[0011]一般地，一个被测模块可能有多种工作模式，每个工作模式至少对应一个测试用例，多个测试用例的集合就是测试用例集；
[0012](3)测试用例集运行：首先依次运行归属于第一个测试用例集的所有测试用例，将测试结果反馈至测试管理数据结构；然后依次运行归属于第二个测试用例集的所有测试用例，将测试结果反馈至测试管理数据结构；直至所有测试用例集的所有测试用例运行完成；
[0013](4)测试用例集释放：测试空间管理单元按照步骤(3)中完全相反的顺序，依次释放测试用例数据结构用RAM空间和测试用例集数据结构用RAM空间，最后测试空间管理单元释放测试管理数据结构用RAM空间。
[0014]进一步，所述步骤(2)包括如下具体步骤：
[0015](2.1)测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请一个新的测试用例集数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；
[0016](2.2)若存在上一个测试用例集，则对上一个测试用例集数据结构进行更新，否则对测试管理数据结构进行更新；
[0017](2.3)测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请一个归属于该测试用例集的新的测试用例数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；
[0018](2.4)若存在上一个测试用例，则对上一个测试用例数据结构进行更新，否则对测试用例集数据结构进行更新；
[0019](2.5)若该测试用例集中还有新的测试用例，则转向步骤(2.3)，否则转向步骤(2.6)；
[0020](2.6)若还有新的测试用例集，则转向步骤(2.1)，否则结束测试用例集创建过程。
[0021]更进一步，所述测试管理数据结构包括如下字段：
[0022]指针字段，存储下级测试用例集数据结构地址；
[0023]名字字段，存储测试用例集名字；
[0024]初始程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行初始化的程序的地址空间；
[0025]配置程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行配置的程序的地址空间；
[0026]运行程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行运行的程序的地址空间；
[0027]释放程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行释放的程序的地址空间；
[0028]成功统计字段，用于当每个测试用例测试通过时，存储成功的测试结果；
[0029]失败统计字段，用于当每个测试用例测试失败时，存储失败的测试结果；
[0030]如下表1所示：
[0031]表1：测试管理数据结构
[0032]起始地址指针字段：存储下级测试用例集数据结构地址起始地址+0x04名字字段：存储测试用例集名字起始地址+0x08初始程序字段：存储测试用例集初始程序地址起始地址+0x0C配置程序字段：存储测试用例集配置程序地址
起始地址+0x10运行程序字段：存储测试用例集运行程序地址起始地址+0x14释放程序字段：存储测试用例集释放程序地址起始地址+0x18成功统计字段：所有测试用例运行成功结果统计起始地址+0x1C失败统计字段：所有测试用例运行失败结果统计
[0033]测试管理数据结构实际占用的RAM地址空间由测试空间管理单元从测试用RAM空间分配而来，假如当次申请得到的起始地址为0x20000000，则依次占用0x20000004，0x20000008，0x20000000C，0x20000010，0x20000014，0x2000001C这段RAM地址空间。
[0034]一般地，测试管理数据结构只申请一次即可实现对所有测试用例集的管理。
[0035]所述测试用例集数据结构包括如下字段：
[0036]指针字段A，存储下级测试用例集数据结构地址；
[0037]名字字段A，存储测试用例集名字；
[0038]初始程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行初始化的程序的地址空间；
[0039]配置程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行配置的程序的地址空间；
[0040]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SOC芯片测试方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)测试用例集初始化：测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请测试管理数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；(2)测试用例集创建：创建至少一个测试用例集数据结构用RAM空间，每个测试用例集包括至少一个测试用例，在每个测试用例集下，创建至少一个测试用例数据结构用RAM空间；(3)测试用例集运行：首先依次运行归属于第一个测试用例集的所有测试用例，将测试结果反馈至测试管理数据结构；然后依次运行归属于第二个测试用例集的所有测试用例，将测试结果反馈至测试管理数据结构；直至所有测试用例集的所有测试用例运行完成；(4)测试用例集释放：测试空间管理单元按照步骤(3)中完全相反的顺序，依次释放测试用例数据结构用RAM空间和测试用例集数据结构用RAM空间，最后测试空间管理单元释放测试管理数据结构用RAM空间。2.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试方法，其特征在于，所述步骤(2)包括如下具体步骤：(2.1)测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请一个新的测试用例集数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；(2.2)若存在上一个测试用例集，则对上一个测试用例集数据结构进行更新，否则对测试管理数据结构进行更新；(2.3)测试用例集管理单元向测试空间管理单元申请一个归属于该测试用例集的新的测试用例数据结构用RAM空间，测试空间管理单元从测试用RAM空间分配一段RAM空间，对数据结构中各个字段空间进行初始化赋值；(2.4)若存在上一个测试用例，则对上一个测试用例数据结构进行更新，否则对测试用例集数据结构进行更新；(2.5)若该测试用例集中还有新的测试用例，则转向步骤(2.3)，否则转向步骤(2.6)；(2.6)若还有新的测试用例集，则转向步骤(2.1)，否则结束测试用例集创建过程。3.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试方法，其特征在于，所述测试管理数据结构包括如下字段：指针字段，存储下级测试用例集数据结构地址；名字字段，存储测试用例集名字；初始程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行初始化的程序的地址空间；配置程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行配置的程序的地址空间；运行程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行运行的程序的地址空间；释放程序字段，为一个地址指针，指向存储在FLASH空间对该测试用例集进行释放的程序的地址空间；
成功统计字段，用于当每个测试用例测试通过时，存储成功的测试结果；失败统计字段，用于当每个测试用例测试失败时，存储失败的测试结果；所述测试用例集数据结构包括如下字段：指针字段A，存储下级测试用例集数据结构地址；名字字段A，存储测试用例集...

【专利技术属性】
技术研发人员：周留洋，廖鑫，王廷纯，詹晖，
申请(专利权)人：成都环宇芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：