芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定解析线程的解析位置，使各解析线程对STDF中对应解析位置内解析芯片测试信息；芯片测试信息携带有位置信息，并包含芯片的起止测试信息；根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置；将所有目标位置发送给对应的解析线程，以使各解析线程对STDF中在目标位置内的测试结果依次进行解析，得到解析后的芯片测试结果。通过本申请的方法，能够通过多个解析线程解析STDF中芯片测试数据，加快了芯片测试数据的解析速度。加快了芯片测试数据的解析速度。加快了芯片测试数据的解析速度。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体而言，涉及芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在半导体芯片测试
，定义了一种标准的测试数据文件STDF，STDF通过统一格式保存所有的芯片测试数据，芯片测试数据包含有芯片测试信息和芯片测试结果。由于STDF是一种二进制文件，因此在读取芯片测试数据时，需要对STDF中的芯片测试数据解析成工程师可以看懂的数据。
[0003]目前，对STDF中的芯片测试数据进行解析时，是按照芯片测试数据在STDF中的存储顺序进行解析的；但是，当STDF中的芯片测试数据的数量非常大时，这种解析方式的解析速度就会非常慢。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质，能够通过多个解析线程解析STDF中芯片测试数据，加快了芯片测试数据的解析速度。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试数据的解析方法，该芯片测试数据的解析方法包括：
[0006]获取待解析的芯片测试数据文件STDF，及STDF的占用空间和解析线程数量；
[0007]根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定各解析线程的解析位置；
[0008]将各解析位置发送给对应解析线程，以使各解析线程对STDF中对应解析位置内的测试信息进行解析，得到解析后的芯片测试信息；芯片测试信息携带有位置信息，并包含芯片的起止测试信息；
[0009]根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置；
[0010]将所有目标位置发送给对应的解析线程，以使各解析线程对STDF中在目标位置内的测试结果依次进行解析，得到解析后的芯片测试结果。
[0011]在一种可能的实施方式中，根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定各解析线程的解析位置，包括：
[0012]根据占用空间和所述解析线程的数量，确定各解析线程对应的起始解析节点；
[0013]根据各解析线程对应的起始解析节点、STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点；
[0014]针对每个解析线程，将STDF中从解析线程的目标起始解析节点开始，至与解析线程对应下一个解析线程的目标起始解析节点之前的所有节点，确定为解析线程的解析位置。
[0015]在一种可能的实施方式中，根据各解析线程对应的起始解析节点、STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点，包括：
[0016]将解析线程对应的起始解析节点，作为解析线程的读取节点；
[0017]在STDF中，从读取节点开始读取四个字节；
[0018]将四个字节中后两个字节的内容，与预设标准记录类型进行匹配，得到匹配结果；
[0019]若匹配失败，则更新起始解析节点，并跳转到将解析线程对应的起始解析节点，作为解析线程的读取节点，以开始执行；
[0020]若匹配成功，则判断匹配成功的次数是否达到预设次数；
[0021]若匹配成功的次数未达到预设次数，则更新读取节点；并跳转到在STDF中，从读取节点开始读取四个字节，以继续执行；
[0022]若匹配成功的次数达到预设次数，则将当前起始解析节点确定为解析线程对应的目标起始解析节点。
[0023]在一种可能的实施方式中，起止测试信息包括开始测试信息和结束测试信息；根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置，包括：
[0024]针对每个解析线程，判断解析线程解析得到的开始测试信息和结束测试信息的数量是否相同；
[0025]若开始测试信息和结束测试信息的数量不相同，则根据开始测试信息和结束测试信息的解析时间，对开始测试信息和结束测试信息，分别按照从前往后、从后往前的顺序进行同时遍历；
[0026]检测当前遍历的开始测试信息的解析时间，是否在当前遍历的结束测试时间之后，得到检测结果；
[0027]根据检测结果，确定解析线程的目标起止测试信息；
[0028]根据目标起止测试信息对应的位置信息，确定解析线程的目标位置。
[0029]在一种可能的实施方式中，根据检测结果，确定解析线程的目标起止测试信息，包括：
[0030]若检测结果为当前遍历的开始测试信息的解析时间，在当前遍历的结束测试信息的解析时间之后，则将在当前遍历的开始测试信息之前解析的开始测试信息和结束测试信息，确定为解析线程的目标起止测试信息；
[0031]并将当前遍历的开始测试信息，及在当前遍历的开始测试信息之后解析的开始测试信息和结束测试信息，确定为解析线程对应的下一个解析线程解析得到的起止测试信息。
[0032]在一种可能的实施方式中，根据目标起止测试信息对应的位置信息，确定解析线程的目标位置，包括：
[0033]按照解析时间，同时顺序遍历目标起止测试信息中的开始测试信息和结束测试信息；
[0034]将当前遍历的开始测试信息和结束测试信息对应的位置信息，确定为解析线程的目标位置。
[0035]在一种可能的实施方式中，该方法还包括：
[0036]将解析后的芯片测试结果添加到芯片起止测试信息文件中，与解析后的芯片测试结果对应目标位置对应的起止测试信息之间；
[0037]其中，芯片起止测试信息文件中包含有各解析线程解析得到的芯片测试信息。
[0038]在一种可能的实施方式中，根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定各解析线程的解析位置，包括：
[0039]根据占用空间和所述解析线程的数量，确定各解析线程对应的起始解析节点；
[0040]根据各解析线程对应的起始解析节点、STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点；
[0041]针对每个解析线程，将STDF中从解析线程的目标起始解析节点开始，至与解析线程对应下一个解析线程的目标起始解析节点之前的所有节点，确定为解析线程的解析位置。
[0042]在一种可能的实施方式中，根据各解析线程对应的起始解析节点、STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点，包括：
[0043]将解析线程对应的起始解析节点，作为解析线程的读取节点；
[0044]在STDF中，从读取节点开始读取四个字节；
[0045]将四个字节中后两个字节的内容，与预设标准记录类型进行匹配，得到匹配结果；
[0046]若匹配失败，则更新起始解析节点，并跳转到将解析线程对应的起始解析节点，作为解析线程的读取节点，以开始执行；
[0047]若匹配成功，则判断匹配成功的次数是否达到预设次数；
[0048]若匹配成功的次数未达到预设次数，则更新读取节点；并跳转到在STDF中，从读取节点开始读取四个字节，以继续执行；
[0049]若匹配成功的次数达到预设次数，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试数据的解析方法，其特征在于，所述芯片测试数据的解析方法包括：获取待解析的芯片测试数据文件STDF，及所述STDF的占用空间和解析线程数量；根据所述STDF、所述占用空间和所述解析线程的数量，确定各解析线程的解析位置；将各解析位置发送给对应解析线程，以使各解析线程对所述STDF中对应解析位置内的测试信息进行解析，得到解析后的芯片测试信息；所述芯片测试信息携带有位置信息，并包含芯片的起止测试信息；根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置；将所有所述目标位置发送给对应的解析线程，以使各解析线程对所述STDF中在所述目标位置内的测试结果依次进行解析，得到解析后的芯片测试结果。2.根据权利要求1所述的芯片测试数据的解析方法，其特征在于，所述根据所述STDF、所述占用空间和所述解析线程的数量，确定各解析线程的解析位置，包括：根据所述占用空间和所述解析线程的数量，确定各解析线程对应的起始解析节点；根据各解析线程对应的起始解析节点、所述STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点；针对每个解析线程，将所述STDF中从所述解析线程的目标起始解析节点开始，至与所述解析线程对应下一个解析线程的目标起始解析节点之前的所有节点，确定为所述解析线程的解析位置。3.根据权利要求2所述的芯片测试数据的解析方法，其特征在于，所述根据各解析线程对应的起始解析节点、所述STDF，确定各解析线程对应的目标起始解析节点，包括：将所述解析线程对应的起始解析节点，作为所述解析线程的读取节点；在所述STDF中，从所述读取节点开始读取四个字节；将所述四个字节中后两个字节的内容，与预设标准记录类型进行匹配，得到匹配结果；若匹配失败，则更新所述起始解析节点，并跳转到所述将所述解析线程对应的起始解析节点，作为所述解析线程的读取节点，以开始执行；若匹配成功，则判断匹配成功的次数是否达到预设次数；若所述匹配成功的次数未达到预设次数，则更新所述读取节点；并跳转到所述在所述STDF中，从所述读取节点开始读取四个字节，以继续执行；若所述匹配成功的次数达到预设次数，则将当前起始解析节点确定为所述解析线程对应的目标起始解析节点。4.根据权利要求1所述的芯片测试数据的解析方法，其特征在于，所述起止测试信息包括开始测试信息和结束测试信息；所述根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置，包括：针对每个解析线程，判断所述解析线程解析得到的开始测试信息和结束测试信息的数量是否相同；若所述开始测试信息和所述结束测试信息的数量不相同，则根据所述开始测试信息和所述结束测试信息的解析时间，对所述开始测试信息和所述结束测试信息，分别按照从前往后、从后往前的顺序进行同时遍历；检测当前遍历的开始测试信息的解析时间，是否在当前遍历的结束测试时间...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈紫，周浩，钱大君，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：