内存SPD读写测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种内存SPD读写测试方法、装置、电子设备和存储介质，属于计算机技术领域。其中，内存SPD读写测试方法包括：通过修改基本输入输出系统BIOS代码，开启在操作系统下通过中央处理器CPU的串行存在检测SPD控制器或寄存器对服务器的所有DDR5内存的SPD访问权限；在确定SPD访问权限处于开启状态的情况下，通过在操作系统下运行DDR5内存SPD访问工具以及测试命令，对服务器的待测DDR5内存的SPD读写性能进行测试，可降低测试成本，同时可实现批量DDR5内存的SPD读写操作及性能测试。量DDR5内存的SPD读写操作及性能测试。量DDR5内存的SPD读写操作及性能测试。

【技术实现步骤摘要】
内存SPD读写测试方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种内存SPD读写测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着计算机内存容量的增大和速度的加快，对内存各种性能的要求越来越高，其中，读取内存的串行存在检测(serial presence detect，SPD)内容，以及验证SPD写保护功能是内存的一项重要测试。内存SPD的读写性能测试一般需要通过测试设备进行。DDR5是第5代双倍数据速率同步动态随机存取内存，具有一些全新特性，可以提高性能、降低功耗并增强数据完整性。针对DDR5内存，其SPD的读写性能测试，因开发平台、中央处理器(Central Processing Unit,CPU)架构等的变更，前期开发的DDR4内存的测试设备无法继续应用于DDR5内存，若要对DDR5内存进行SPD的读写性能测试，只能重新设计开发或购买针对DDR5内存的测试设备，导致测试成本较高，并且使用测试设备无法实现批量DDR5内存的SPD读写操作或读写性能测试。
专利技术内容
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存SPD读写测试方法，其特征在于，包括：通过修改基本输入输出系统BIOS代码，开启在操作系统下通过中央处理器CPU的串行存在检测SPD控制器或寄存器对服务器的所有DDR5内存的SPD访问权限；在确定所述SPD访问权限处于开启状态的情况下，通过在所述操作系统下运行DDR5内存SPD访问工具以及测试命令，对所述服务器的待测DDR5内存的SPD读写性能进行测试。2.根据权利要求1所述的内存SPD读写测试方法，其特征在于，所述通过在所述操作系统下运行DDR5内存SPD访问工具以及测试命令，对所述服务器的待测DDR5内存的SPD读写性能进行测试，包括：通过在所述操作系统下运行DDR5内存SPD访问工具，对所述CPU的寄存器或SPD控制器进行访问，并通过所述CPU的寄存器或SPD控制器对所述服务器的所有DDR5内存的SPD进行寻址；通过运行所述测试命令，对所述服务器的待测DDR5内存的SPD进行读写性能测试，得到所述待测DDR5内存的SPD读写性能测试结果。3.根据权利要求2所述的内存SPD读写测试方法，其特征在于，所述通过运行所述测试命令，对所述服务器的待测DDR5内存的SPD进行读写性能测试，得到所述待测DDR5内存的SPD读写性能测试结果，包括：运行第一测试命令，得到第一SPD信息，所述第一测试命令用于读取所述服务器的所有DDR5内存的SPD信息；确定第二测试命令，所述第二测试命令用于写入目标内容至所述待测DDR5内存的SPD；运行所述第二测试命令，将所述目标内容写入至所述待测DDR5内存的SPD空间；运行所述第一测试命令，得到第二SPD信息；比较所述第一SPD信息和第二SPD信息，确定所述待测DDR5内存的SPD的写保护功能测试是否通过；在所述写保护功能测试通过的情况下，重启所述服务器；运行所述第一测试命令，得到第三SPD信息；比较所述第二SPD信息和第三SPD信息，若所述第二SPD信息和第三SPD信息一致，则确定所述待测DDR5内存的SPD读写性能测试通过。4.根据权利要求3所述的内存SPD读写测试方法，其特征在于，所述确定第二测试命令，包括：获取所述待测DDR5内存的槽位信息；基于...

【专利技术属性】
技术研发人员：高文艳，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：