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本申请提供了一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。

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