本实用新型专利技术公开了导热硅胶片低干扰性测试装置，包括测试箱，还包括开设在测试箱内部的安装槽，所述测试箱的内部在安装槽的分割作用下形成第一测试腔及第二测试腔，所述安装槽上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框，所述安装框上开设有方形槽，所述方形槽上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片，所述测试箱上设置有用于对测试导热硅胶片低干扰性测试的测试组件。本实用新型专利技术的导热硅胶片低干扰性测试装置，通过第一电磁辐射测量仪及第二电磁辐射测量仪测量的数值差计算出安装框上测试导热硅胶片对电磁辐射的低干扰性性能，完成测试，整个检测操作简单、实施便捷，便于测试装置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。
【技术实现步骤摘要】
导热硅胶片低干扰性测试装置
[0001]本技术属于导热硅胶片测试
，具体地说，涉及导热硅胶片低干扰性测试装置。
技术介绍
[0002]导热硅胶片是以硅胶为基材，添加金属氧化物等各种辅材，通过特殊工艺合成的一种导热介质材料，在行业内，又称为导热硅胶垫，为提高导热硅胶片在使用时的抗电磁干扰性能，在导热硅胶片上设置有导热吸波材料，通过导热吸波材料吸收投射到导热硅胶片表面的电磁波能量并进行反射与折射。
[0003]为保证导热硅胶片上设置导热吸波材料后的抗干扰性能，需要通过测试装置对导热硅胶片的低干扰性进行测试，现有的测试装置操作繁琐且实施不便，不便于对导热硅胶片快速进行低干扰性测试。
[0004]有鉴于此特提出本技术。
技术实现思路
[0005]为解决上述技术问题，本技术采用技术方案的基本构思是：
[0006]导热硅胶片低干扰性测试装置,包括测试箱，还包括开设在测试箱内部的安装槽，所述测试箱的内部在安装槽的分割作用下形成第一测试腔及第二测试腔，所述安装槽上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框，所述安装框上开设有方形槽，所述方形槽上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片，所述测试箱上设置有用于对测试导热硅胶片低干扰性测试的测试组件；
[0007]所述测试组件包括分别安装在第一测试腔与第二测试腔上的第一电磁辐射测量仪与第二电磁辐射测量仪，所述测试箱上安装有用于第一电磁辐射测量仪与第二电磁辐射测量仪测试后数值显示的显示器，所述第一测试腔的内部安装有电磁辐射发生器。
[0008]所述升降组件包括固定在测试箱上端的第一L型架，所述第一L型架与安装槽之间转动连接有螺纹杆，所述安装框上固定有螺纹套，所述螺纹杆与螺纹套相互啮合设置，所述第一L型架上安装有用于螺纹杆驱动的驱动电机。
[0009]所述导向组件包括固定在测试箱上端的第二L型架，所述第一L型架与第二L型架在测试箱上对称设置，所述安装框上开设有滑动孔，所述滑动孔上滑动连接有圆杆，所述圆杆的两端分别与第二L型架及安装槽的内壁相固定。
[0010]所述限位组件在方形槽的上下两侧对称设置有两组。
[0011]所述限位组件包括开设在方形槽上的矩形槽，所述矩形槽上滑动连接有限位板，所述限位板位于矩形槽外部的侧壁上开设有斜面，所述矩形槽的内部设置有用于限位板连接的连接组件。
[0012]所述连接组件包括固定在矩形槽内部的多个套管，各个所述套管上滑动连接有滑杆，所述滑杆的另一端有限位板相固定，各个所述套管的侧壁上套设有弹簧，所述弹簧的两
端分别与限位板及矩形槽的内壁相连接。
[0013]本技术与现有技术相比具有以下有益效果：
[0014]本技术的导热硅胶片低干扰性测试装置，通过第一电磁辐射测量仪及第二电磁辐射测量仪测量的数值差计算出安装框上测试导热硅胶片对电磁辐射的低干扰性性能，完成测试，整个检测操作简单、实施便捷，便于测试装置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。
[0015]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的描述。
附图说明
[0016]在附图中：
[0017]图1为本技术的整体外形结构示意图；
[0018]图2为本技术的测试箱内部结构示意图；
[0019]图3为本技术的升降组件及导向组件结构示意图；
[0020]图4为本技术的限位组件及连接组件结构示意图；
[0021]图5为图4中A处的放大图。
[0022]图中：1
‑
测试箱；101
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第一测试腔；102
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第二测试腔；2
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安装槽；301
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第一电磁辐射测量仪；302
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第二电磁辐射测量仪；303
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显示器；304
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电磁辐射发生器；4
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安装框；501
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第一L型架；502
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螺纹杆；503
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螺纹套；504
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驱动电机；601
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第二L型架；602
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滑动孔；603
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圆杆；7
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方形槽；801
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矩形槽；802
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限位板；803
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斜面；901
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套管；902
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滑杆；903
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弹簧；10
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测试导热硅胶片。
具体实施方式
[0023]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，以下实施例用于说明本技术。
[0024]如图1至图5所示，导热硅胶片低干扰性测试装置，包括测试箱1，还包括开设在测试箱1内部的安装槽2，测试箱1的内部在安装槽2的分割作用下形成第一测试腔101及第二测试腔102，安装槽2上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框4，安装框4上开设有方形槽7，方形槽7上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片10，测试箱1上设置有用于对测试导热硅胶片10低干扰性测试的测试组件；
[0025]测试组件包括分别安装在第一测试腔101与第二测试腔102上的第一电磁辐射测量仪301与第二电磁辐射测量仪302，测试箱1上安装有用于第一电磁辐射测量仪301与第二电磁辐射测量仪302测试后数值显示的显示器303，第一测试腔101的内部安装有电磁辐射发生器304；
[0026]此处需要说明的是：通过限位组件及升降组件的相互配合，驱动安装框4下降运动至测试箱1的内部并使安装框4上的测试导热硅胶片10位于第一测试腔101与第二测试腔102之间，测试时，通过第一电磁辐射测量仪301及第二电磁辐射测量仪302测量的数值差计算出安装框4上测试导热硅胶片10对电磁辐射的低干扰性性能，完成测试，整个检测操作简单、实施便捷，便于测试装置对测试导热硅胶片10低干扰性性能的快速测试。
[0027]升降组件包括固定在测试箱1上端的第一L型架501，第一L型架501与安装槽2之间转动连接有螺纹杆502，安装框4上固定有螺纹套503，螺纹杆502与螺纹套503相互啮合设置，第一L型架501上安装有用于螺纹杆502驱动的驱动电机504；导向组件包括固定在测试箱1上端的第二L型架601，第一L型架501与第二L型架601在测试箱1上对称设置，安装框4上开设有滑动孔602，滑动孔602上滑动连接有圆杆603，圆杆603的两端分别与第二L型架601及安装槽2的内壁相固定；
[0028]此处需要说明的是：通过驱动电机504，驱动螺纹杆502进行转动，在螺纹杆502转动的过程中，通过螺纹杆502与螺纹套503之间的相互啮合传动，驱动安装框4受力进行运动，在安装框4运动的过程中，通过滑动孔602与圆杆603本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.导热硅胶片低干扰性测试装置，包括：测试箱(1)；其特征在于，还包括：开设在测试箱(1)内部的安装槽(2)，所述测试箱(1)的内部在安装槽(2)的分割作用下形成第一测试腔(101)及第二测试腔(102)，所述安装槽(2)上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框(4)，所述安装框(4)上开设有方形槽(7)，所述方形槽(7)上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片(10)，所述测试箱(1)上设置有用于对测试导热硅胶片(10)低干扰性测试的测试组件；所述测试组件包括分别安装在第一测试腔(101)与第二测试腔(102)上的第一电磁辐射测量仪(301)与第二电磁辐射测量仪(302)，所述测试箱(1)上安装有用于第一电磁辐射测量仪(301)与第二电磁辐射测量仪(302)测试后数值显示的显示器(303)，所述第一测试腔(101)的内部安装有电磁辐射发生器(304)。2.根据权利要求1所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述升降组件包括固定在测试箱(1)上端的第一L型架(501)，所述第一L型架(501)与安装槽(2)之间转动连接有螺纹杆(502)，所述安装框(4)上固定有螺纹套(503)，所述螺纹杆(502)与螺纹套(503)相互啮合设置，所述第一L型架(501)上安装有用于螺纹杆(502)驱动的驱动电机(504)。3.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁学森，
申请(专利权)人：华中技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：
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