核电厂高压限流熔断器耐受试验方法技术

本发明专利技术公开了一种核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，包括：环境模拟步骤：通过与待测熔断器连接的RLC负载装置模拟待测熔断器的待保护负载的真实负载环境；试验步骤：进行N次短暂失电再启动试验；其中，每一次短暂失电再启动试验包括：向待测熔断器输入持续第一设定时间T1的第一冲击电流I1后，失电持续第二设定时间T2；结果分析步骤：对进行试验步骤后的待测熔断器进行直阻变化测试、X光测试、温升测试和开断测试，进而根据各项测试结果生成试验结果。本发明专利技术具有试验准确、全面的优点。全面的优点。全面的优点。

【技术实现步骤摘要】
核电厂高压限流熔断器耐受试验方法


[0001]本专利技术涉及高压限流熔断器
，尤其涉及一种核电厂高压限流熔断器耐受试验方法。

技术介绍

[0002]高压限流熔断器(简称熔断器)是核电厂中确保厂用配电系统安全的重要设备，其中，熔断器在异常工作条件下的耐受性能是确保其可靠性的重要表征之一。而在相关技术中，虽然会对针对地对熔断器的耐受性能进行相关试验，比如模拟脉冲冲击和老化等，但是忽视了熔断器实际应用场景的对其耐受性能的影响，以及相关试验缺乏全面性，导致熔断器即使通过试验，仍可能在实际应用中，在特殊工况(如负载短暂失电后再启动)下因误动作导致安全重要设备失去电源，继而影响核电厂的安全及正常运行。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种核电厂高压限流熔断器耐受试验方法。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，包括：
[0005]环境模拟步骤：通过与待测熔断器连接的RLC负载装置模拟所述待测熔断器的待保护负载的真实负载环境；
[0006]试验步骤：进行N次短暂失电再启动试验；其中，每一次所述短暂失电再启动试验包括：向所述待测熔断器输入持续第一设定时间T1的第一冲击电流I1后，失电持续第二设定时间T2；
[0007]结果分析步骤：对进行所述试验步骤后的待测熔断器进行直阻变化测试、X光测试、温升测试和开断测试，进而根据各项测试结果生成试验结果。
[0008]优选地，所述试验步骤还包括：进行M次连续冲击再启动试验；
[0009]其中，每一次所述连续冲击再启动试验包括：向所述待测熔断器输入持续第三设定时间T3的第二冲击电流I2，失电持续所述第四设定时间T4后，再次向所述待测熔断器输入持续所述第三设定时间T3的第二冲击电流I2后，将输入到所述待测熔断器的电流降至第三冲击电流I3且持续第五设定时间T5后，失电持续所述第四设定时间T4。
[0010]优选地，所述试验步骤还包括：进行U次启动电流冲击试验；
[0011]其中，每一次所述启动电流冲击试验包括：向所述待测熔断器输入持续第六设定时间T6的第四冲击电流I4后，将输入到所述待测熔断器的电流降至第五冲击电流T5且持续第七设定时间T7后，失电持续第八设定时间T8后。
[0012]优选地，在所述试验步骤中，还包括：
[0013]将所述待测熔断器放置在用于模拟现场环境的环境箱后，通过可编程交流电压源向所述待测熔断器输入各项试验所需的冲击电流。
[0014]优选地，在所述试验步骤中，还包括：
[0015]在进行每一项试验时，根据相应试验的需求以及所述待保护负载的额定电流，通过调节所述RLC负载装置的负载可调参数，以分别设置所述第一、第二、第三、第四和第五冲击电流的值。
[0016]优选地，所述直阻变化测试包括：
[0017]测试所述待测熔断器进行所述试验步骤前后的直流电阻，以判断所述待测熔断器的直流电阻变化率是否在预定误差范围内，若是判定直阻变化测试合格，否则判定直阻变化测试不合格。
[0018]优选地，所述X光测试包括：
[0019]对所述待测熔断器进行X光检测，以判断所述待测熔断器的形貌是否符合设定标准，若是判定X光测试合格，否则判定X光测试不合格。
[0020]优选地，所述判断所述待测熔断器的形貌是否符合设定标准，包括下列中的至少一个：
[0021]判断所述待测熔断器的熔体是否出现脱焊、断裂或变形现象；
[0022]判断所述熔体分布是否均匀；
[0023]判断所述待测熔断器的M效应点的清晰度是否符合清晰度标准；
[0024]判断所述待测熔断器的撞击器点火弹簧线圈是否断裂；以及
[0025]判断所述待测熔断器的管壁与所述熔体的距离是否大于设计值。
[0026]优选地，所述温升测试包括：
[0027]向所述待测熔断器持续输入设定频率的温升测试电流，以采集并判断所述待测熔断器中设定部件的温升是否均低于相应的温升限值，若是判定温升测试合格，否则判定温升测试不合格。
[0028]优选地，所述开断测试包括：
[0029]采集并判断所述待测熔断器进行开断动作时所对应的最大及最小开断电流是否符合设定要求，以及判断所述待测熔断器在输入最大开断能量后是否正常进行开断动作，若所述最大及最小开断电流符合设定要求且所述待测熔断器在输入最大开断能量后可以正常进行开断动作，则判定开断测试合格，反之判定开断测试不合格。
[0030]实施本专利技术的技术方案，进行环境模拟步骤：通过RLC负载装置模拟待测熔断器的待保护负载的真实负载环境，以提高耐受试验的准确性；进行试验步骤：对待测熔断器进行N次短暂失电再启动试验，以模拟待保护负载多次发生短暂失电后再启动的工况，实现了待测熔断器在特殊工况下模拟试验，可提高耐受试验的全面性；进行结果分析步骤：对试验步骤后的待测熔断器进行直阻变化测试、X光测试、温升测试和开断测试等测试，以根据各项测试结果生成试验结果，给出了明确的试验合格判定方法；可以理解的，实施本专利技术可以准确地评估待测熔断器的耐受性能，有利于维系核电厂安全运行。
附图说明
[0031]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0032]图1是本专利技术一些实施例中核电厂高压限流熔断器耐受试验方法的流程示意图；
[0033]图2是本专利技术一些实施例中进行短暂失电再启动试验时所对应的冲击电流波形图；
[0034]图3是本专利技术一些实施例中进行连续冲击再启动试验时所对应的冲击电流波形图；
[0035]图4是本专利技术一些实施例中进行启动电流冲击试验时所对应的冲击电流波形图；
[0036]图5是本专利技术一些实施例中核电厂高压限流熔断器耐受试验方法的试验回路结构图。
具体实施方式
[0037]为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的具体实施方式。
[0038]需要说明的是，附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
[0039]附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
[0040]参见图1，是本专利技术一些实施例中核电厂高压限流熔断器耐受试验方法的流程示意图，该方法包括环境模拟步骤、试验步骤和结果分析步骤。
[0041]环境模拟步骤：通过与待测熔断器连接的RLC负载装置10模拟待测熔断器的待保护负载的真实负载环境。由于待保护负载可能是核电厂日常运行的重要设备，为了不影响核电厂的正常本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，其特征在于，包括：环境模拟步骤：通过与待测熔断器连接的RLC负载装置(10)模拟所述待测熔断器的待保护负载的真实负载环境；试验步骤：进行N次短暂失电再启动试验；其中，每一次所述短暂失电再启动试验包括：向所述待测熔断器输入持续第一设定时间T1的第一冲击电流I1后，失电持续第二设定时间T2；结果分析步骤：对进行所述试验步骤后的待测熔断器进行直阻变化测试、X光测试、温升测试和开断测试，进而根据各项测试结果生成试验结果。2.根据权利要求1所述的核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，其特征在于，所述试验步骤还包括：进行M次连续冲击再启动试验；其中，每一次所述连续冲击再启动试验包括：向所述待测熔断器输入持续第三设定时间T3的第二冲击电流I2，失电持续所述第四设定时间T4后，再次向所述待测熔断器输入持续所述第三设定时间T3的第二冲击电流I2后，将输入到所述待测熔断器的电流降至第三冲击电流I3且持续第五设定时间T5后，失电持续所述第四设定时间T4。3.根据权利要求1或2所述的核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，其特征在于，所述试验步骤还包括：进行U次启动电流冲击试验；其中，每一次所述启动电流冲击试验包括：向所述待测熔断器输入持续第六设定时间T6的第四冲击电流I4后，将输入到所述待测熔断器的电流降至第五冲击电流T5且持续第七设定时间T7后，失电持续第八设定时间T8后。4.根据权利要求3所述的核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，其特征在于，在所述试验步骤中，还包括：将所述待测熔断器放置在用于模拟现场环境的环境箱(20)后，通过可编程交流电压源(30)向所述待测熔断器输入各项试验所需的冲击电流。5.根据权利要求4所述的核电厂高压限流熔断器耐受试验方法，其特征在于，在所述试验步骤中，还包括：在进行每一项试验时，根据相应试验的需求以及所述待保护负载的额定电流，通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵波，刘君伟，刘鹏，孔祥海，
申请(专利权)人：福建宁德核电有限公司，
类型：发明
国别省市：