本发明专利技术提供了一种比较器迟滞性能测试装置、方法及设备，设计比较器测试技术领域。该装置包括：滤波器；所述滤波器与待测比较器的输入端连接，所述滤波器用于对输入电源进行滤波处理，输出第一电压至所述待测比较器；分别与所述待测比较器的输出端和所述滤波器的输出端连接的上位机；所述上位机用于获取所述待测比较器的输出电压的变化值和所述滤波器输出的第一电压，以及根据所述输出电压的变化值和所述第一电压，得到所述待测比较器的迟滞性能信息。本发明专利技术的方案，通过在待测比较器之前设置滤波器的方式，为所述待测比较器提供低噪声环境，解决了现有技术中比较器的输出容易在高低之间反复切换，导致测试结果与实际值的偏差值较大的问题。值较大的问题。值较大的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种比较器迟滞性能测试装置、方法及设备
[0001]本专利技术涉及比较器性能测试
，特别涉及一种比较器迟滞性能测试装置、方法及设备。
技术介绍
[0002]比较器迟滞性能测试为将迟滞配置成某一级别，固定负端的电压为VDDA/2，改变正端的电压，记录比较器输出从高到低的阈值与从低到高的阈值之差，即为迟滞。修改迟滞的配置级别、改变一下输入电压的电压值，完成多个迟滞级别的测试。现有技术中对于中低迟滞级别甚至高级别的迟滞，比较器的输出容易在高低之间反复切换，导致测试结果与实际值的偏差值较大，无法实现迟滞性能的测试。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例提供一种比较器迟滞性能测试装置、方法及设备，用于解决现有技术中比较器的输出容易在高低之间反复切换，导致测试结果与实际值的偏差值较大的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]本专利技术实施例提供一种比较器迟滞性能测试装置，包括：滤波器；
[0006]所述滤波器与待测比较器的输入端连接，所述滤波器用于对输入电源进行滤波处理，输出第一电压至所述待测比较器；
[0007]分别与所述待测比较器的输出端和所述滤波器的输出端连接的上位机；
[0008]所述上位机用于获取所述待测比较器的输出电压的变化值和所述滤波器输出的第一电压，以及根据所述输出电压的变化值和所述第一电压，得到所述待测比较器的迟滞性能信息。
[0009]进一步地，所述装置还包括：测试板，所述待测比较器设置于所述测试板上，所述测试板用于使能所述待测比较器工作。
[0010]进一步地，所述装还包括：
[0011]设置于所述待测比较的输出端和所述上位机之间的示波器，所述示波器用于获取待测比较器的输出电压的变化值，并将待测比较器的输出电压的变化值传输至所述上位机。
[0012]进一步地，所述装置还包括：
[0013]万用表，所述万用表设置于所述滤波器的输出端和所述上位机之间，用于采集所述滤波器输出的第一电压，并将所述第一电压传输给所述上位机。
[0014]进一步地，所述上位机还与所述输入电源连接，用于控制所述输入电源的输出电压。
[0015]进一步地，所述滤波器，包括：
[0016]第一滤波电容、第一滤波电路、第二滤波电容、第二滤波电路以及第三滤波电路；
[0017]所述第一滤波电容与所述第一滤波电路、所述第二滤波电路以及所述第三滤波电路并联连接，所述第二滤波电容一端与所述第一滤波电容和所述第一滤波电路连接，另一端接地。
[0018]进一步地，所述第一滤波电容包括至少两个并联连接的电容；
[0019]所述第二滤波电容包括至少两个并联连接的电容；
[0020]所述第一滤波电路包括串联连接的第一电阻和第一电容；
[0021]所述第二滤波电路包括串联连接的第二电阻和第二电容；
[0022]所述第三滤波电路包括串联连接的第三电阻和第三电容。
[0023]本专利技术实施例还提供一种比较器迟滞性能测试方法，包括：
[0024]获取不同测试环境下的测试数据，所述测试数据包括：万用表采集的所述滤波器输出的第一电压和示波器所采集的所述待测比较器的输出电压的变化值；
[0025]根据所述测试数据，获取所述待测比较器的迟滞性能信息；
[0026]其中，不同的测试环境对应的测试参数不同，所述测试参数包括以下至少一项：
[0027]待测比较器的迟滞级别；
[0028]输入电源输出的电压值；
[0029]测试温度。
[0030]进一步地，所述方法还包括：
[0031]控制输入电源的第一极输出第二电压，第二极输出以预设频率以及预设步长变化的电压；
[0032]所述第一极为正极，所述第二极为负极；或者，所述第一极为负极，所述第二极为正极；
[0033]其中，所述第二电压输入所述滤波器并经过所述滤波器处理后输出为所述第一电压。
[0034]本专利技术实施例还提供一种比较器迟滞性能测试设备，包括：
[0035]第一获取模块，用于获取不同测试环境下的测试数据，所述测试数据包括：万用表采集的滤波器输出的第一电压和示波器所采集的待测比较器的输出电压的变化值；
[0036]第二获取模块，用于根据所述测试数据，获取所述待测比较器的迟滞性能信息；
[0037]其中，不同的测试环境对应的测试参数不同，所述测试参数包括以下至少一项：
[0038]待测比较器的迟滞级别；
[0039]输入电源输出的电压值；
[0040]测试温度。
[0041]本专利技术的有益效果是：
[0042]本专利技术实施例的比较器迟滞性能测试装置，通过在输入电源与待测比较器之间设置滤波器的方式，对输入待测比较器的电压进行处理，为所述待测比较器提供低噪声环境，使得比较器输出稳定的电压值，排除噪声对测试结果的影响。解决了现有技术中比较器的输出容易在高低之间反复切换，导致测试结果与实际值的偏差值较大的问题。
附图说明
[0043]图1表示本专利技术实施例的比较器迟滞性能测试装置的结构示意图；
[0044]图2表示本专利技术实施例的滤波器的内部电路结构示意图；
[0045]图3表示本专利技术实施例的比较器迟滞性能测试方法的步骤示意图；
[0046]图4表示本专利技术比较器迟滞性能测试设备的示意图。
具体实施方式
[0047]为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。在下面的描述中，提供诸如具体的配置和组件的特定细节仅仅是为了帮助全面理解本专利技术的实施例。因此，本领域技术人员应该清楚，可以对这里描述的实施例进行各种改变和修改而不脱离本专利技术的范围和精神。另外，为了清楚和简洁，省略了对已知功能和构造的描述。
[0048]应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本专利技术的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。
[0049]本专利技术针对现有技术中比较器的输出容易在高低之间反复切换，导致测试结果与实际值的偏差值较大的问题，提供一种比较器迟滞性能测试装置、方法及设备。
[0050]如图1所示，本专利技术实施例提供一种比较器迟滞性能测试装置，包括：滤波器；
[0051]所述滤波器与待测比较器的输入端连接，所述滤波器用于对输入电源进行滤波处理，输出第一电压至所述待测比较器；
[0052]分别与所述待测比较器的输出端和所述滤波器的输出端连接的上位机；
[0053]所述上位机用于获取所述待测比较器的输出电压的变化值和所述滤波器输出的第一电压，以及根据所述输出电压的变化值和所述第一电压，得到所述待测比较器的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，包括：滤波器；所述滤波器与待测比较器的输入端连接，所述滤波器用于对输入电源进行滤波处理，输出第一电压至所述待测比较器；分别与所述待测比较器的输出端和所述滤波器的输出端连接的上位机；所述上位机用于获取所述待测比较器的输出电压的变化值和所述滤波器输出的第一电压，以及根据所述输出电压的变化值和所述第一电压，得到所述待测比较器的迟滞性能信息。2.根据权利要求1所述的比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，还包括：测试板，所述待测比较器设置于所述测试板上，所述测试板用于使能所述待测比较器工作。3.根据权利要求1所述的比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，还包括：设置于所述待测比较的输出端和所述上位机之间的示波器，所述示波器用于获取待测比较器的输出电压的变化值，并将待测比较器的输出电压的变化值传输至所述上位机。4.根据权利要求1所述的比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，还包括：万用表，所述万用表设置于所述滤波器的输出端和所述上位机之间，用于采集所述滤波器输出的第一电压，并将所述第一电压传输给所述上位机。5.根据权利要求1所述的比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，所述上位机还与所述输入电源连接，用于控制所述输入电源的输出电压。6.根据权利要求1所述的比较器迟滞性能测试装置，其特征在于，所述滤波器，包括：第一滤波电容、第一滤波电路、第二滤波电容、第二滤波电路以及第三滤波电路；所述第一滤波电容与所述第一滤波电路、所述第二滤波电路以及所述第三滤波电路并联连接，所述第二滤波电容一端与所述第一滤波电容和所述第一滤波电路连接，另一端接地。7.根据权利要求6所述的比较器迟...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建华，张亚元，肖青，孙东昱，刘勇，
申请(专利权)人：中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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