提供一种不增大检测电路的规模而能够对随着显示部的面内倾斜或分散而劣化的像素的显示进行校正的显示装置。显示装置具有显示部和信号线，该显示部由发光量根据电流量而发生变化的多个像素构成，该信号线用于对上述像素输入显示信号电压，上述显示装置具备：开关电路，其通过上述信号线的切换，输出通过向上述像素提供电源而得到的与上述像素的像素状态对应的信号；以及Ａ／Ｄ变换器，其沿着上述显示部的水平线上依次检测与上述像素的像素状态对应的信号，其中，上述Ａ／Ｄ变换器构成为具备变更其参考电压的电路，按将上述水平线上的像素数分割为多个的每个块而检测与其块内的各像素的像素状态对应的信号。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种显示装置，例如涉及一种其显示元件由自发光元 件构成的显示装置。
技术介绍
通过各种信息处理装置的普及，存在各种与作用相应的显示装 置。其中，显示元件由自发光元件构成的所谓的称为自发光型的显示 装置受到关注。已知在这种显示装置中作为其显示元件例如使用有机EL(Electro Luminescence: 电致发光)元件、或者有机发光二极管 (Organic Light Emitting Diode)等。这种显示装置不需要背光灯，面 向低功耗，另外与以往的液晶显示器相比具有像素的视觉辨认性较 高、响应速度较快等优点。并且，这种发光元件具有与二极管类似的 特性，能够根据流过元件的电流量来控制亮度。在日本特开 2006-91709号公报等中公开了这种自发光型显示装置。但是，在这样构成的显示装置中，作为其发光元件的特性，无法 避免元件的内部电阻值由于使用期间、周围环境而发生变化。特别是 具有如下性质当使用期间增大时，随时间的经过，内部电阻变高， 流过元件的电流减少。因此，例如在进行菜单显示等的情况下，当持 续点亮画面内的同一位置的像素时，在该部分发生余像现象。为了校 正该状态，需要检测l象素的状态。作为该检测方法，采用在显示的回 描期间检测像素的状态的方法。在回描期间不使像素发光，因此不施 加电压。为此，采用如下方法使用与用于发光的电源不同的电源， 在回描期间对像素施加某固定的电流并检测在该状态下的电压，由此 根据电压的变化来检测余像中的劣化。并且，作为检测并校正像素状 态的方法，例如日本特开2006-91860号公报所示那样，已知如下方法在显示部的发光元件的各行方向上排列设置监视器元件，利用基本电 流源对上述监视器元件提供恒流，将在该监视器元件中产生的电压施 加到与监视器元件并排地配置在行方向上的多个发光元件，从而对该 发光元件进行恒压驱动。但是，上述专利文献2中示出的显示装置只能在设置有监视器元 件的行方向上检测显示部中的各像素的状态，没有考虑列方向的分散 特性。因此，虽然期望在各像素中检测其状态，但是无法避免检测电 路的规模增大。因而，期望不增大检测电路的规模而对随着显示部的 面内倾斜、分散而劣化的像素的显示进行校正。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种不增大检测电路的规模而能够对随 着显示部的面内倾斜、分散而劣化的像素的显示进行校正的显示装 置。本专利技术的显示装置理想的是在最初(例如显示部的左端)设定检 测的基准值，在一帧或一个线的一次检测中不变更基准值，但是实际 上由于外因而使检测值的变动量变得较大，为了避免这个问题，细分 检测区域。检测电压由于面内倾斜的影响而发生变动，但是如果设为 在检测器(A/D变换器)的检测范围内能够对应的变动范围，则电路的 规模不会增大。因此，将针对一个参考电压的检测像素数进行细分化， 使得检测电压变动范围收敛到A/D变换器的检测范围内，换言之进行 模块化后进行检测。根据本专利技术的一个实施方式，是一种具有显示部和信号线的显示 装置，该显示部由发光量根据电流量而发生变化的多个像素构成，该 信号线用于对上述像素输入显示信号电压，上述显示装置的特征在 于，具备开关电路，其通过上述信号线的切换，输出通过向上述像 素提供电源而得到的与上述像素的像素状态对应的信号；以及A/D变 换器，其沿着上述显示部的水平线上依次检测与上述像素的像素状态 对应的信号，其中，上述A/D变换器构成为具备变更其参考电压的电路，按将上述水平线上的像素数分割为多个的每个块而检测与其块内 的各像素的像素状态对应的信号。根据本专利技术的显示装置，不增大检测电路(A/D变换器)的规模而 能够对随着显示部的面内倾斜、分散而劣化的像素的显示进行校正。 根据说明书整体记载会明确本专利技术的其它效果。附图说明图l是表示本专利技术的显示装置的概要的结构图。 图2是表示本专利技术的显示装置的像素的检测部的结构图。 图3是表示像素的检测部中的A/D变换部的结构图。 图4是表示A/D变换部内的A/D电路的结构图。 图5是表示像素的检测中的理想状态的线检测的图。 图6是表示像素的检测中的实际环境的线检测的图。 图7是表示面板的显示部中的线检测中的每个线的变化的图。 图8是说明上述A/D变换器的范围构成的图。 图9A和图9B是表示本专利技术的按每个模块进行的像素的检测的 说明图。图IO是表示块检测与该块内的像素的关系的图。图ll是表示第一实施方式中的显示与检测的定时的图。图12是表示第一实施方式中的显示部的垂直方向上的检测方法的图。图13是关于第一实施方式中的整体控制的流程图。图14是关于第一实施方式中的检测控制的流程图。图15是表示第二实施方式中的显示与检测的定时的图。图16是关于第二实施方式中的检测控制的流程图。图17是第三实施方式中的块内的检测像素数的一例的图。图18是关于第三实施方式中的检测控制的流程图。图19是表示第四实施方式中的显示部的垂直方向上的检测方法的图。图20是表示第五实施方式中的显示部的垂直方向上的检测方法的图。图21是表示第六实施方式中的显示部的垂直方向上的检测方法的图。具体实施例方式参照附图说明本专利技术的实施例。此外，在各图和各实施例中，对 相同或类似的结构要素附加相同的附图标记，并省略说明。 (第一实施方式)图l是表示本专利技术的显示装置的概要的结构图。显示装置由驱动 器1和显示部2构成。驱动器1具备显示控制部3、检测开关4、检 测部5、检测用电源6。显示部2具备显示用电源7、显示元件8、像 素控制部9、开关IO。来自外部的显示数据被输入到驱动器1的显示 控制部3。显示控制部3进行上述显示数据的定时控制、信号控制。 驱动器l内的信号的流动大体分为三种路径，能够理解为显示路径、 检测路径、校正路径。在上述显示路径中的流动如下上述显示数据 经过显示控制部3、检测开关4进入显示部2，经过像素控制部9用 显示用电源7驱动显示元件8。上述检测路径中的流动如下从显示 元件8经过开关10、检测开关4进入检测部5。校正路径中的流动如 下从检测部5进入显示控制部3，校正上述显示数据。上述检测开 关4对显示时和检测时的数据方向进行切换。在显示时利用显示用电 源7来作为显示部2的电源，在检测时利用检测用电源6来作为显示 部2的电源。在本实施例中，将电源的个数表示为2个，但是有时根 据结构来增减电源的个数，电源的种类也由电流源、电压源构成。像 素控制部9在显示时根据上述显示数据进行显示用电源7的控制，在图2是进一步详细地说明图1所示的结构图的图。并且，作为显 示装置，示出了例如将有机EL元件作为显示元件(图中用标记8表示) 的显示装置。显示元件8的驱动电源在检测时和显示时具有独立的形式。即，在检测时使用检测用电流源11来作为检测用电源6，在显示 时使用显示用电压源12来作为显示用电源7。理想的是对显示有贡献 的显示元件共用显示用电压源12。开关14通过信号线18与显示运算 部16连接，在显示时接通。检测用电流源11通过检测线13与开关 15连接。在此，开关14和开关15不会同时接通。显示运算部16进 行各开关、电源的控制以及检测和校正。移位寄存器17既可以嵌入 在显示运算部16中，也可以配置为独立的控制部，由显示运算部16 进行控制。信本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示装置，具有显示部和信号线，该显示部由发光量根据电流量而发生变化的多个像素构成，该信号线用于对上述像素输入显示信号电压，上述显示装置的特征在于，具备： 开关电路，其通过上述信号线的切换，输出通过向上述像素提供检测用电源而得到的与 上述像素的像素状态对应的信号；以及 Ａ／Ｄ变换器，其沿着上述显示部的水平线上依次检测与上述像素的像素状态对应的信号， 其中，上述Ａ／Ｄ变换器构成为具备变更其参考电压的电路，按将上述水平线上的像素数分割为多个的每个块而检测与其块内 的各像素的像素状态对应的信号。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：石井雅人，笠井成彦，河野亨，秋元肇，
申请(专利权)人：株式会社日立显示器，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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