本发明专利技术涉及电容测量技术领域。一种可以精准测量电容值的结构，包括测试底座，测试底座上前侧固定设有测试支架，测试支架上设有可以纵向滑动的探针固定板，探针固定板上设有向下延伸的探针，探针固定板通过滑动结构和限位结构安装在测试支架上，测试底座的后侧设有可以向前后左右滑动调节的微调机构，微调机构上设有可拆卸的测试定位板，测试定位板上开设有电容槽。本发明专利技术提供了一种可以快速测量电容的静态电容值，减少人工操作的同时可以保证数据精准，节省人力和成本的一种可以精准测量电容值的结构；解决了现有技术中存在的通过LCR表进行测量时电容尺寸较小非常不便，测量时需要计算接触前后的电容值之差，无法保证测量的精准度的技术问题。度的技术问题。度的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
一种可以精准测量电容值的结构
[0001]本专利技术涉及电容测量
，尤其涉及一种可以精准测量电容值的结构。
技术介绍
[0002]印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，小到电子手表、计算器，大到计算机，通讯电子设备，军用武器系统，只要有集成电路等电子元器件，为了它们之间的电气互连，都要使用印制板。
[0003]在电路板使用之前，需要测量电路板上电容的静态电容值，点现有的测试电容方法大都是通过LCR表进行测量，需要持笔测量，由于有些电容的尺寸很小，所以在测量电容时非常不便，且测量时需要计算接触前后的电容值之差，才能得到测试数据，目前振荡回路外部负载电容大多使用贴片电容，且在皮法(pF)级別，使用常用测量的仪器 LCR表精度在纳法(nF)级别，无法保证测量的精度，因此具有改进的必要。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种可以快速测量电容的静态电容值，减少人工操作的同时可以保证数据精准，节省人力和成本的一种可以精准测量电容值的结构；解决了现有技术中存在的通过LCR表进行测量时电容尺寸较小非常不便，测量时需要计算接触前后的电容值之差，无法保证测量的精准度的技术问题。
[0005]本专利技术的上述技术问题是通过下述技术方案解决的：一种可以精准测量电容值的结构，包括测试底座，所述的测试底座上前侧固定设有测试支架，测试支架上设有可以纵向滑动的探针固定板，探针固定板上设有向下延伸的探针，探针固定板通过滑动结构和限位结构安装在测试支架上，测试底座的后侧设有可以向前后左右滑动调节的微调机构，微调机构上设有可拆卸的测试定位板，测试定位板上开设有电容槽。电容槽内放置电容，根据待测试电容的尺寸可以选择更换不同的测试定位板，测试支架上的滑动结构可以带动探针固定板纵向滑动，限位结构的作用是限制探针向下滑动至最低处的距离，这样可以保证探针延伸至最低处时刚好位于电容的两端，避免探针过度延伸。
[0006]作为优选，所述的微调机构包括固定在测试底座上的下滑块，下滑块上设有可以向前后两侧滑动的下滑动定位板，下滑动定位板的前侧固定设有下定位架，下定位架上转动安装有与下滑动定位板固定连接的下微分调节头。下滑动定位板可以沿下滑块向前后两侧滑动，通过旋转下微分调节头调节下滑动定位板与下定位架之间的距离，进而精准的调节下滑动定位板的前后位置。
[0007]作为优选，所述的微调机构还包括固定在下滑动定位板上的上滑块，上滑块上设有可以向左右两侧滑动的上滑动定位板，测试定位板固定在上滑动定位板上，上滑动定位板的一侧固定设有上定位架，上定位架上转动安装有与上滑动定位板固定连接的上微分调节头 。上滑动定位板可以沿上滑块向左右两侧滑动调节，通过旋转上微分调节头来调节上滑动定位板与上定位架之间的距离，进而进准的调节上滑动定位板的位置，测试定位板固
定安装在上滑动定位板上，所以通过调节上微分调节头和下微分调节头即可调节测试定位板的前后左右位置。
[0008]作为优选，所述的滑动结构包括与探针固定板连接的测试头固定架，测试头固定架的背面设有滑轨，测试支架上开设有与滑轨贴合的导轨。探针固定板与测试头固定架固定连接，测试头固定架背面的滑轨可以沿测试支架上的导轨纵向滑动，所以探针固定板可以沿导轨纵向滑动。
[0009]作为优选，所述的滑动结构还包括安装在测试支架左侧的转轴，转轴上转动设有与测试头固定架连接的压杆。压杆与测试头固定架连接，当手动向下扳动压杆时，探针固定板会向上抬高，松手后在重力作用下探针固定板会向下坠落，限位结构会限制探针固定板的最低位置，配合实现测量电容的电容值。
[0010]作为优选，所述的限位结构包括固定安装在滑轨侧壁的限位板，限位板为L型板，限位板的一端与滑轨固定连接，另一端与测试支架右侧壁相对滑动，测试支架的右侧壁上设有可以纵向调节高度的限位螺栓，限位螺栓的自由端抵在限位板的底面。L型的限位板一端与滑轨固定连接，另一端沿测试支架的右侧壁滑动，限位螺栓抵在限位板的底面，通过调节限位螺栓的高度调节探针固定板的最低位置。
[0011]作为优选，所述的限位结构还包括固定在测试支架右侧壁的限位块，限位螺栓与限位块通过螺纹配合，限位螺栓外套设有限位螺母。限位螺栓穿过限位块，限位螺栓与限位块通过螺纹配合，限位螺栓外的限位螺母可以锁紧限位螺栓，固定限位螺栓的位置。
[0012]作为优选，所述的探针固定板上固定设有测试头固定块。测试头固定块上用于安装测试头，测试头与探针连接，用于与探针配合测量电容的电容值，测试头可以将测量结果输出到电脑程序中，便于观察结果。
[0013]作为优选，所述的测试底座上固定设有不良品收集盒。不良品收集盒的作用是收集检测不合格的电容。
[0014]因此，本专利技术的一种可以精准测量电容值的结构具备下述优点：可以快速测量电容的静态电容值，可以适用于测量不同尺寸电容的电容值，便于操作和调节电容的位置，可以根据不同情况调节探针向下延伸的距离，减少人工操作的同时可以保证数据精准，节省人力和成本。
附图说明
[0015]图1是本专利技术的一种可以精准测量电容值的结构的立体结构示意图。
[0016]图2是图1的不同视角的立体结构示意图。
[0017]图3是图2中A处放大图的主视剖视结构示意图。
[0018]图4是图2中B处放大图。
[0019]图中，测试底座1，测试支架2，导轨3，滑轨4，探针固定板5，测试头安装块6，探针7，转轴8，压杆9，限位板10，限位块11，限位螺栓12，限位螺母13，下滑块14，下滑动定位板15，下定位架16，下微分调节头17，上滑块18，上滑动定位板19，测试定位板20，电容槽21，上定位架22，上微分调节头23，不良品收集盒24。
具体实施方式
[0020]下面通过实施例，并结合附图，对专利技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0021]实施例：
[0022]如图1和2和3和4所示，一种可以精准测量电容值的结构，包括测试底座1，测试底座1上前侧固定安装有测试支架2，测试支架2上安装有滑动结构，滑动结构包括测试支架2上固定安装的导轨3，导轨3上滑动安装有滑轨4，滑轨4上固定安装有探针固定板5，探针固定板5上固定安装有测试头安装块6，探针固定板5的底面固定安装有2根探针7，滑动结构还包括安装在测试支架2左侧的转轴8，转轴8上转动安装有与与测试头固定架连接的压杆9，测试支架2的右侧安装有限位结构，限位结构包括固定安装在滑轨4侧壁的限位板10，限位板10为L型板，限位板10的一端与滑轨4固定连接，另一端与测试支架2右侧壁相对滑动，限位板10下方的测试支架2上固定安装有限位块11，限位块11内旋有限位螺栓12，限位螺栓12外套设有限位螺母13，测试底座1的后侧安装有微调机构，微调机构包括固定在测试底座1上的下滑块14，下滑块14上安装有向前后两侧滑动的下滑动定位板15，下滑动定位板15的前侧固定安装有下定位架16，下定位架16上转动安装有与下滑动定位板15固定连接的下微本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可以精准测量电容值的结构，包括测试底座，其特征在于：所述的测试底座上前侧固定设有测试支架，测试支架上设有可以纵向滑动的探针固定板，探针固定板上设有向下延伸的探针，探针固定板通过滑动结构和限位结构安装在测试支架上，测试底座的后侧设有可以向前后左右滑动调节的微调机构，微调机构上设有可拆卸的测试定位板，测试定位板上开设有电容槽。2.根据权利要求1所述的一种可以精准测量电容值的结构，其特征在于：所述的微调机构包括固定在测试底座上的下滑块，下滑块上设有可以向前后两侧滑动的下滑动定位板，下滑动定位板的前侧固定设有下定位架，下定位架上转动安装有与下滑动定位板固定连接的下微分调节头。3.根据权利要求2所述的一种可以精准测量电容值的结构，其特征在于：所述的微调机构还包括固定在下滑动定位板上的上滑块，上滑块上设有可以向左右两侧滑动的上滑动定位板，测试定位板固定在上滑动定位板上，上滑动定位板的一侧固定设有上定位架，上定位架上转动安装有与上滑动定位板固定连接的上微分调节头。4.根据权利要求1所述的一种可以精准测量电容值的结构，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：张利慧，穆佳男，郭海洋，李宇晨，陈龙，
申请(专利权)人：宁波晶创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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