一种发光二极管检测系统及方法技术方案

本发明专利技术属于发光二极管检测技术领域，尤其涉及一种发光二极管检测系统及方法，包括支撑架、升降机构、检测机构和承载机构，升降机构设置于支撑架顶部，检测机构设置于升降机构与承载机构之间，并连接于升降机构上，承载机构设置于支撑架上。本申请提供一种发光二极管检测系统，通过第一传感器或第二传感器检测发光二极管是否正常工作，从而实现高效地批量检测发光二极管，升降气缸下移，使得电磁铁靠近于发光二极管，并吸附检测出的正常工作的发光二极管，从而将坏的发光二极管和正常的发光二极管区分开，实现发光二极管的精准批量转移，提高测量的准确性，从而正常的灯珠和正常的灯珠能完全区别。完全区别。完全区别。

【技术实现步骤摘要】
一种发光二极管检测系统及方法


[0001]本专利技术属于发光二极管检测
，尤其涉及一种发光二极管检测系统及方法。

技术介绍

[0002]随着科技进步和生活品质的提升，LED灯珠(发光二极管)已经广泛应用到了人类的日常生活当中。现有技术中，最常用的方法是通过探针对LED灯珠进行通电，并通过光电探测器接收光信号，从而对每一颗LED灯珠逐一进行光电检测，然后将不能正常工作的LED灯珠位置数据转移到转移机器上，由转移机器去除不复合要求的LED灯珠，此方法在切换LED灯珠的位置时，探针需要机械性移动，分别对大量LED灯珠进行通电，测量效率极低，且探针可能会遮蔽LED灯珠的发光面积，影响测量的准确性，探针的尺寸有限，对于极小尺寸的LED灯珠，探针可能难以对准或容易压伤LED灯珠。
[0003]上述方法中，测量数据和转移数据的量非常巨大，在检测灯珠和处理大量数据的过程中容易出错，而转移机器转移LED灯珠时需要精密的光学对位，错误的数据会导致LED灯珠错误的转移，使得正常的灯珠和不正常的灯珠不能完全区别。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种发光二极管检测系统及方法，旨在解决现有技术中的测量效率极低，影响测量的准确性，正常的灯珠和不正常的灯珠不能完全区别的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术实施例提供的一种发光二极管检测系统，包括支撑架、升降机构、检测机构和承载机构，所述升降机构设置于所述支撑架顶部，所述检测机构设置于所述升降机构与所述承载机构之间，并连接于所述升降机构上，所述承载机构设置于所述支撑架上；
[0006]所述升降机构包括升降气缸和升降板，所述升降气缸设置于所述支撑架顶部，所述升降板设置于所述升降气缸输出端；
[0007]所述检测机构包括第一透明基板、检测线层、电磁铁、第一传感器和第二传感器，所述第一透明基板、检测线层、电磁铁依次设置、连接，所述第一透明基板与所述升降板连接，所述检测线层设置于所述第一透明基板与所述电磁铁之间，所述电磁铁设置有多个，并设置于所述检测线层上，所述检测线层上的电路分别与每个所述电磁铁单独电性连接；所述第一传感器设置于所述升降板与所述第一透明基板之间，并连接于所述升降板上；所述检测线层上连接有驱动电源；
[0008]所述承载机构包括第二透明基板和导电层，所述第二透明基板连接于所述支撑架底部，所述导电层设置于所述第二透明基板上，所述导电层用于连接发光二极管；所述第二传感器设置于第二透明基板与支撑架之间，并与所述支撑架连接；所述导电层上连接有供电电源。
[0009]作为本专利技术可选的方案，所述支撑架顶部连接有轴套，所述轴套内活动连接有限
位轴，所述升降板连接与所述限位轴连接。
[0010]作为本专利技术可选的方案，多个所述电磁铁均匀地分布于所述检测线层上，且相邻所述电磁铁间隔设置。
[0011]作为本专利技术可选的方案，所述第一传感器和第二传感器分别设置有两个。
[0012]作为本专利技术可选的方案，所述导电层连接所述发光二极管的一端电极，所述发光二极管的另一端电极与所述电磁铁相对。
[0013]作为本专利技术可选的方案，所述电磁铁与所述发光二极管之间设置有间隙，所述间隙的大小为10～50mm。
[0014]作为本专利技术可选的方案，所述发光二极管设置于所述电磁铁的正下方，并与所述电磁铁一一对应。
[0015]基于相同的专利技术构思，本申请还提供一种发光二极管检测方法，所述发光二极管检测方法包括以下步骤：
[0016]一：将发光二极管放置于导电层，并将发光二极管与电磁铁一一对应，且发光二极管与电磁铁之间隔开有间隙；
[0017]二：对导电层施加供电电源，使得每个发光二极管通电产生电流，此时能正常工作的发光二极管发光，不良的发光二极管不发光；
[0018]三：发光二极管发光后，第一传感器或第二传感器接收发光二极管发出的光信号，并处理获得的信息，判断每个发光二极管是否在正常工作，并记录正常发光二极管的位置信息；
[0019]四：根据第一传感器或第二传感器所获取的位置信息，通过检测线层的电路对与正常工作的发光二极管位置相对应的电磁铁进行供电，此时相应的电磁铁通电产生磁力，升降气缸下移，使得电磁铁靠近于发光二极管，并吸附检测出的正常工作的发光二极管，从而将坏的发光二极管和正常的发光二极管区分开。
[0020]本专利技术实施例提供的一种发光二极管检测系统及方法中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：
[0021]本申请提供一种发光二极管检测系统，将发光二极管放置于导电层，并将发光二极管与电磁铁一一对应，且发光二极管与电磁铁之间隔开有间隙，对导电层施加供电电源，使得每个发光二极管通电产生电流，此时能正常工作的发光二极管发光，不良的发光二极管不发光；发光二极管发光后，通过第一传感器或第二传感器检测发光二极管是否正常工作，从而实现高效地批量检测发光二极管，并记录正常发光二极管的位置信息；根据第一传感器或第二传感器所获取的位置信息，通过检测线层的电路对与正常工作的发光二极管位置相对应的电磁铁进行供电，此时相应的电磁铁通电产生磁力，升降气缸下移，使得电磁铁靠近于发光二极管，并吸附检测出的正常工作的发光二极管，从而将坏的发光二极管和正常的发光二极管区分开，实现发光二极管的精准批量转移，提高测量的准确性，从而正常的灯珠和正常的灯珠能完全区别。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些
实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本专利技术实施例提供的一种发光二极管检测系统的原理图。
[0024]图2为本专利技术实施例提供的一种发光二极管检测系统吸附发光二极管的原理图。
[0025]其中，图中各附图标记：
[0026]1、支撑架；2、升降机构；3、检测机构；4、承载机构；5、发光二极管；
[0027]11、轴套；12、限位轴；
[0028]21、升降气缸；22、升降板；
[0029]31、第一透明基板；32、检测线层；33、电磁铁；34、第一传感器；35、第二传感器；36、驱动电源；
[0030]41、第二透明基板；42、导电层；43、供电电源。
具体实施方式
[0031]下面详细描述本专利技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术的实施例，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0032]在本专利技术实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管检测系统，其特征在于，包括支撑架、升降机构、检测机构和承载机构，所述升降机构设置于所述支撑架顶部，所述检测机构设置于所述升降机构与所述承载机构之间，并连接于所述升降机构上，所述承载机构设置于所述支撑架上；所述升降机构包括升降气缸和升降板，所述升降气缸设置于所述支撑架顶部，所述升降板设置于所述升降气缸输出端；所述检测机构包括第一透明基板、检测线层、电磁铁、第一传感器和第二传感器，所述第一透明基板、检测线层、电磁铁依次设置、连接，所述第一透明基板与所述升降板连接，所述检测线层设置于所述第一透明基板与所述电磁铁之间，所述电磁铁设置有多个，并设置于所述检测线层上，所述检测线层上的电路分别与每个所述电磁铁单独电性连接；所述第一传感器设置于所述升降板与所述第一透明基板之间，并连接于所述升降板上；所述检测线层上连接有驱动电源；所述承载机构包括第二透明基板和导电层，所述第二透明基板连接于所述支撑架底部，所述导电层设置于所述第二透明基板上，所述导电层用于连接发光二极管；所述第二传感器设置于第二透明基板与支撑架之间，并与所述支撑架连接；所述导电层上连接有供电电源。2.根据权利要求1所述的一种发光二极管检测系统，其特征在于，所述支撑架顶部连接有轴套，所述轴套内活动连接有限位轴，所述升降板连接与所述限位轴连接。3.根据权利要求1所述的一种发光二极管检测系统，其特征在于，多个所述电磁铁均匀地分布于所述检测线层上，且相邻所述电磁铁间隔设置。4.根据权利要求1所述的一种发光...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海，
申请(专利权)人：东莞市英凯检测技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：