一种优化测试方法、电子设备及存储介质技术

本申请公开了一种优化测试方法、电子设备及存储介质，该方法包括：获取电驱系统的电磁干扰测试数据；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对不符合的电磁干扰测试数据进行分析，以确定电驱系统中待调整的电磁干扰测试元件，并对电驱系统中相应的电磁干扰测试元件进行调整，使得电磁干扰测试数据符合预设需求。上述方案，能够有效提高优化测试的效率。能够有效提高优化测试的效率。能够有效提高优化测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种优化测试方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及电磁兼容
，特别是涉及一种优化测试方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有的电磁兼容技术中，对于永磁同步电驱系统产品进行传导发射测试时，一般是参考电磁兼容标准来进行试验，特别涉及到在传导发射高压电压法测试超标不通过时，直接调整电驱系统的接地方式或是屏蔽方式，又或是选择不同材质的磁环型号方式，以通过随机尝试上述方式争取使得高压电压法测试通过，从而导致电磁兼容整改测试效率低下，且成本也会增加。

技术实现思路

[0003]本申请至少提供一种优化测试方法、电子设备及存储介质，能够有效提高优化测试的效率。
[0004]本申请第一方面提供了一种优化测试方法，包括：获取电驱系统的电磁干扰测试数据；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对不符合的电磁干扰测试数据进行分析，以确定电驱系统中待调整的电磁干扰测试元件，并对电驱系统中相应的电磁干扰测试元件进行调整，使得电磁干扰测试数据符合预设需求。
[0005]其中，电磁干扰测试数据为与电驱系统电连接的滤波电路的滤波性能参数，预设需求为预设滤波参数，电磁干扰测试元件为滤波电路中的元件；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求，包括：将滤波性能参数与预设滤波参数进行对比，得到对比结果；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对电磁干扰测试数据中相应的元件进行调整，包括：基于对比结果为滤波性能参数与预设滤波参数不符合，对滤波电路中的元件进行调整。/>[0006]其中，滤波电路包括：第一磁环，设置于滤波电路的一端，用于降低低频谐波分量噪声；第二磁环，设置于滤波电路的另一端，用于降低高频谐波分量噪声；第一电容，设置于第一磁环与第二磁环之间，用于滤除差模噪声产生的干扰；第二电容，设置于第一磁环与第二磁环之间，与第一电容并联，用于滤除共模噪声产生的干扰。
[0007]其中，基于对比结果为滤波性能参数与预设滤波参数不符合，对滤波电路中的元件进行调整，包括：获取第一磁环的磁导率数据和比损耗数据；利用第三磁环替换第一磁环，其中，第三磁环的磁导率数据高于第一磁环的磁导率数据，第三磁环的比损耗数据低于第一磁环的比损耗数据；和/或，基于对比结果为滤波性能参数与预设滤波参数不符合，对滤波电路中的元件进行调整，包括：获取第二磁环的磁导率数据和电阻率数据；利用第四磁环替换第二磁环，其中，第四磁环的磁导率数据低于第二磁环的磁导率数据，第四磁环的电阻率数据高于第二磁环的电阻率数据；和/或，基于对比结果为滤波性能参数与预设滤波参数不符合，对滤波电路中的元件进行调整，包括：获取第一电容和第二电容的电容量；利用
第三电容替换第一电容和/或第二电容，其中，根据对比结果确定第三电容的电容量。
[0008]其中，电磁干扰测试数据为与电驱系统连接的第一接地组件的接地阻抗数据，预设需求为预设接地需求，电磁干扰测试元件为第一接地组件；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求，包括：将接地阻抗数据与预设接地需求进行对比，得到对比结果；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对电磁干扰测试数据中相应的元件进行调整，包括：基于对比结果为接地阻抗数据与预设接地需求不符合，对第一接地组件进行调整。
[0009]其中，对第一接地组件进行调整，包括：将接地阻抗数据低于第一接地组件的接地阻抗数据的第二接地组件替换第一接地组件。
[0010]其中，对第一接地组件进行调整，还包括：更换第一接地组件的接地位置。
[0011]其中，电磁干扰测试数据为屏蔽测试数据，预设需求为屏蔽需求；检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求，包括：将电驱系统的屏蔽测试数据与屏蔽需求进行对比，得到对比结果；响应于电磁干扰测试数据不符合预设需求，对电磁干扰测试数据中相应的元件进行调整，包括：基于对比结果为屏蔽测试数据与屏蔽需求不符合，对电驱系统输入端的导线新增屏蔽层。
[0012]本申请第二方面提供了一种电子设备，包括相互耦接的存储器和处理器，处理器用于执行存储器中存储的程序指令，以实现上述第一方面中的优化测试方法。
[0013]本申请第三方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序指令，程序指令被处理器执行时实现上述第一方面中的优化测试方法。
[0014]上述方案，在对电驱系统进行电磁干扰测试的过程中，通过获取电驱系统的电磁干扰测试数据，并检测电磁干扰测试数据是否符合预设需求，以此判断电驱系统的电磁干扰测试是否合格，若检测的结果为电磁干扰测试数据不符合预设需求，则根据检测结果对电驱系统中相应的电磁干扰测试元件进行调整，使得电磁干扰测试数据符合预设需求，以至于电驱系统的电磁干扰测试达到合格标准，从而能够解决测试通过率低的问题，并缩短了产品开发的周期，提高了工作效率。
[0015]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本申请。
附图说明
[0016]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，这些附图示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于说明本申请的技术方案。
[0017]图1是本申请优化测试方法一实施例的流程示意图；
[0018]图2是本申请滤波电路一实施例的拓扑结构示意图；
[0019]图3是本申请优化测试方法另一实施例的流程示意图；
[0020]图4是本申请优化测试方法又一实施例的流程示意图；
[0021]图5是本申请电子设备一实施例的框架示意图；
[0022]图6是本申请计算机可读存储介质一实施例的框架示意图。
具体实施方式
[0023]下面结合说明书附图，对本申请实施例的方案进行详细说明。
[0024]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请。
[0025]本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外，本文中的“多”表示两个或者多于两个。
[0026]请参阅图1，图1是本申请优化测试方法一实施例的流程示意图。
[0027]具体而言，可以包括如下步骤：
[0028]步骤S110：获取电驱系统的电磁干扰测试数据。
[0029]在本申请中的电驱系统是以电动机作为动力能源的驱动系统，示例性地，测试的电驱系统为三合一永磁同步电驱系统，该三合一永磁同步电驱系统高度集成电机、减速器、控制器。对电驱系统进行电磁干扰测试的目的是为了测试电驱系统在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰是否超过一定的限值，并使得周围环境正常工作的其他设备无法忍受该电磁干扰。
[0030]在一些实施例中，可利用CE(Conducted Emission，传导发射)测试法对电驱系统进行电磁干扰测试，测试电驱系统内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种优化测试方法，其特征在于，包括：获取电驱系统的电磁干扰测试数据；检测所述电磁干扰测试数据是否符合预设需求；响应于所述电磁干扰测试数据不符合所述预设需求，对所述不符合的电磁干扰测试数据进行分析，以确定所述电驱系统中待调整的电磁干扰测试元件，并对所述电驱系统中相应的电磁干扰测试元件进行调整，使得所述电磁干扰测试数据符合所述预设需求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电磁干扰测试数据为与所述电驱系统电连接的滤波电路的滤波性能参数，所述预设需求为预设滤波参数，所述电磁干扰测试元件为滤波电路中的元件；所述检测所述电磁干扰测试数据是否符合预设需求，包括：将所述滤波性能参数与所述预设滤波参数进行对比，得到对比结果；所述响应于所述电磁干扰测试数据不符合所述预设需求，对所述电磁干扰测试数据中相应的元件进行调整，包括：基于所述对比结果为所述滤波性能参数与所述预设滤波参数不符合，对所述滤波电路中的元件进行调整。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述滤波电路包括：第一磁环，设置于所述滤波电路的一端，用于降低低频谐波分量噪声；第二磁环，设置于所述滤波电路的另一端，用于降低高频谐波分量噪声；第一电容，设置于所述第一磁环与所述第二磁环之间，用于滤除差模噪声产生的干扰；第二电容，设置于所述第一磁环与所述第二磁环之间，与所述第一电容并联，用于滤除共模噪声产生的干扰。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述对比结果为所述滤波性能参数与所述预设滤波参数不符合，对所述滤波电路中的元件进行调整，包括：获取所述第一磁环的磁导率数据和比损耗数据；利用第三磁环替换所述第一磁环，其中，所述第三磁环的磁导率数据高于所述第一磁环的磁导率数据，所述第三磁环的比损耗数据低于所述第一磁环的比损耗数据；和/或，所述基于所述对比结果为所述滤波性能参数与所述预设滤波参数不符合，对所述滤波电路中的元件进行调整，包括：获取所述第二磁环的磁导率数据和电阻率数据；利用第四磁环替换所述第二磁环，其中，所述第四磁环的磁导率数据低于所述第二磁环的磁导率数据，所述第四磁环...

【专利技术属性】
技术研发人员：张命令，熊燕飞，及非凡，戴涵哲，
申请(专利权)人：浙江零跑科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：