一种强电检测电路及门开关和掉电记忆复用检测方法技术

一种强电检测电路，属于洗碗机技术领域。本发明专利技术包括门开关、导通截止模块、光耦检测模块、上拉电路模块、以及检测端口，光耦检测模块电连接导通截止模块和上拉电路模块，并通过导通截止模块电连接门开关，检测端口电连接上拉电路模块；门开关电连接市电，用于控制市电的接通和断开；光耦检测模块根据导通截止模块的导通和截止使其输出端接通和断开；检测端口根据光耦检测模块的接通和断开、及上拉电路模块的上拉牵制获取脉冲电平以用于门开关和掉电记忆复用检测。利用检测端口来进行门开关和掉电记忆检测，节省了芯片端口的使用量，减少了芯片运行的程序开销，提高了洗碗机运行的稳定性，防止洗碗机在长期使用中，出现卡死、按键失灵的故障。灵的故障。灵的故障。

【技术实现步骤摘要】
一种强电检测电路及门开关和掉电记忆复用检测方法


[0001]本专利技术属于洗碗机
，具体是涉及一种强电检测电路及门开关和掉电记忆复用检测方法。

技术介绍

[0002]目前市场上的洗碗机大多带有掉电记忆和门开关检测功能。
[0003]掉电记忆功能：在洗涤过程中遇到掉电时，可以将当前的运行参数记录到记忆芯片中，当洗碗机再次上电时，可以读取掉电前记录的参数，从而恢复掉电前的运行参数，让洗碗机继续运行；所涉及的运行参数包括洗涤剩余时间、洗涤步骤、洗涤阶段等。
[0004]门开关检测：在洗涤过程中，用户打开洗碗机的门，则暂停洗涤，等待洗碗机的门关闭后，才能继续洗涤。
[0005]目前市场上洗碗机的掉电记忆和门开关检测这两种功能是相互独立的，具有各自独立的电路。掉电记忆使用芯片的电压比较器端口，门开关检测使用门开关检测端口(即普通I/O口)，使用时，存在如下问题：
[0006](1)需同时使用芯片的电压比较器端口和门开关检测端口，芯片I/O端口开销大；
[0007](2)必须要开放电压比较器的中断响应，以降低芯片的资源开销；
[0008](3)用电压比较器响应掉电，掉电检测的档位只有芯片内设的几种电压值，灵敏度受限。
[0009]因此需要提出一种新的方案来解决上述问题。

技术实现思路

[0010]本专利技术主要是解决上述现有技术所存在的技术问题，提供一种强电检测电路及门开关和掉电记忆复用检测方法。
[0011]本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种强电检测电路，包括门开关、导通截止模块、光耦检测模块、上拉电路模块、以及检测端口，所述光耦检测模块电连接导通截止模块和上拉电路模块，并通过导通截止模块电连接门开关，所述检测端口电连接上拉电路模块；所述门开关电连接市电，用于控制市电的接通和断开；所述光耦检测模块根据导通截止模块的导通和截止使其输出端接通和断开；所述检测端口根据光耦检测模块的接通和断开、及上拉电路模块的上拉牵制获取脉冲电平以用于门开关和掉电记忆复用检测。
[0012]作为优选，所述导通截止模块包括电阻R23、电阻R26、电阻R29和二极管D1，所述电阻R23、电阻R26和电阻R29依次串联，所述电阻R23的一端连接门开关，所述电阻R29的一端连接二极管D1的正极，所述二极管D1的负极连接光耦检测模块中光电耦合器IC3的端口A。
[0013]作为优选，所述上拉电路模块包括电阻R24、电阻R25、电阻R27、电阻R32和三极管Q1，所述电阻R24的一端接电阻R25的一端，且其公共连接端接5V电压，所述电阻R24的另一端接光耦检测模块中光电耦合器IC3的端口C，所述电阻R25的另一端接电阻R27的一端和三
极管Q1的集电极，所述电阻R27的另一端接检测端口，所述三极管Q1的基极接电阻R32的一端，所述电阻R32的另一端接光耦检测模块中光电耦合器IC3的端口E，所述三极管Q1的发射极接地。
[0014]本专利技术还提供了一种强电检测电路的门开关和掉电记忆复用检测方法，包括中断检测方法和主循环检测方法；
[0015]中断检测方法包括如下步骤：
[0016]1毫秒基准定时器检测检测端口的电平，若检测端口的电平为低电平0，则对变量A做自减处理；若检测端口的电平为高电平1，则保持变量A不变，不做自减处理；变量A为门开关的计数值；
[0017]主循环检测方法包括如下步骤：
[0018]步骤1，每隔1秒，执行扫描变量A是否<10，且每隔100毫秒，对变量A重装100数值；
[0019]步骤2，再次判断变量A是否<10，若变量A<10，则可以识别为有市电，且门开关闭合；若变量A≥10，则可以识别为没有市电或门开关打开，在此状态下，对当前洗涤状态进行保存，在有市电且门开关闭合时，则接当前洗涤状态继续工作。
[0020]本专利技术具有的有益效果：本专利技术利用检测端口来进行门开关和掉电记忆检测，节省了芯片端口的使用量，减少了芯片运行的程序开销，提高了洗碗机运行的稳定性，防止洗碗机在长期使用中，出现卡死、按键失灵的故障。
附图说明
[0021]图1是本专利技术强电检测电路的一种电路结构框图；
[0022]图2是本专利技术强电检测电路的一种电路图；
[0023]图3是本专利技术强电检测电路的门开关和掉电记忆复用检测方法的一种流程示意图。
[0024]图中：1、门开关；2、导通截止模块；3、光耦检测模块；4、上拉电路模块；5、检测端口。
具体实施方式
[0025]下面通过实施例，并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0026]实施例：一种强电检测电路，如图1、图2所示，包括门开关1、导通截止模块2、光耦检测模块3、上拉电路模块4、以及检测端口5，光耦检测模块3电连接导通截止模块2和上拉电路模块4，并通过导通截止模块2电连接门开关1，检测端口5电连接上拉电路模块4；门开关1电连接市电，用于控制市电的接通和断开；光耦检测模块3根据导通截止模块2的导通和截止使其输出端接通和断开；检测端口5根据光耦检测模块3的接通和断开、及上拉电路模块4的上拉牵制获取脉冲电平以用于门开关1和掉电记忆复用检测。
[0027]导通截止模块2包括电阻R23、电阻R26、电阻R29和二极管D1，电阻R23、电阻R26和电阻R29依次串联，电阻R23的一端连接门开关1的一端，门开关1的另一端连接电源火线，电阻R29的一端连接二极管D1的正极，二极管D1的负极连接光耦检测模块3中光电耦合器IC3的端口A。其中电阻R23、电阻R26和电阻R29相配合，起到分压的作用；作为优选，电阻R23、电阻R26和电阻R29的阻值均为510K。
[0028]上拉电路模块4包括电阻R24、电阻R25、电阻R27、电阻R32和三极管Q1，电阻R24的一端接电阻R25的一端，且其公共连接端接5V电压，电阻R24的另一端接光耦检测模块3中光电耦合器IC3的端口C，电阻R25的另一端接电阻R27的一端和三极管Q1的集电极，电阻R27的另一端接检测端口5，检测端口5作为门检测端口5，同时也作为掉电检测端口5，三极管Q1的基极接电阻R32的一端，电阻R32的另一端接光耦检测模块3中光电耦合器IC3的端口E，三极管Q1的发射极接地。
[0029]光耦检测模块3包括光电耦合器IC3、电阻R31和二极管D7，光电耦合器IC3的型号为PC817，端口A和端口K位于光电耦合器IC3的发光侧，端口C和端口E位于光电耦合器IC3的感应侧，二极管D7和电阻R31并联在光电耦合器IC3的端口A和端口K上，光电耦合器IC3的端口K连接电源零线。
[0030]使用时，通过电源火线和电源零线接入市电220V，由于市电是50Hz的交流电，电压波形包括正半周期和负半周期；当正半周期时，电压经二极管D1进入光电耦合器IC3，激发光电耦合器IC3的发光侧，从而触发光电耦合器IC3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种强电检测电路，其特征在于，包括门开关(1)、导通截止模块(2)、光耦检测模块(3)、上拉电路模块(4)、以及检测端口(5)，所述光耦检测模块(3)电连接导通截止模块(2)和上拉电路模块(4)，并通过导通截止模块(2)电连接门开关(1)，所述检测端口(5)电连接上拉电路模块(4)；所述门开关(1)电连接市电，用于控制市电的接通和断开；所述光耦检测模块(3)根据导通截止模块(2)的导通和截止使其输出端接通和断开；所述检测端口(5)根据光耦检测模块(3)的接通和断开、及上拉电路模块(4)的上拉牵制获取脉冲电平以用于门开关(1)和掉电记忆复用检测。2.根据权利要求1所述的一种强电检测电路，其特征在于，所述导通截止模块(2)包括电阻R23、电阻R26、电阻R29和二极管D1，所述电阻R23、电阻R26和电阻R29依次串联，所述电阻R23的一端连接门开关(1)，所述电阻R29的一端连接二极管D1的正极，所述二极管D1的负极连接光耦检测模块(3)中光电耦合器IC3的端口A。3.根据权利要求1所述的一种强电检测电路，其特征在于，所述上拉电路模块(4)包括电阻R24、电阻R25、电阻R27、电阻R32和三极管Q1，所述电阻R24的一端接电阻R25的一端，且其公共连接端接5V电压，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宁，钱宇超，孙成飞，黄旭男，应光辉，陆峰，
申请(专利权)人：浙江友嘉电器有限公司，
类型：发明
国别省市：