一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法，其系统包括FPGA处理芯片，FPGA处理芯片电连接有DDR3存储器、ADC电流采样芯片和被测ADC芯片，FPGA处理芯片与上位机连接通信，上位机向FPGA处理芯片发送测试信号指令对被测ADC芯片进行采样，被测ADC芯片连接有产生测试模拟信号的信号源，被测ADC芯片将测试模拟信号转化为数字信号传输至FPGA处理芯片，ADC电流采样芯片采集被测ADC芯片的电流、电压模拟信号并转换为数字信号传输至FPGA处理芯片，FPGA处理芯片将数字信号作为测试数据存储至DDR3存储器，FPGA处理芯片读取DDR3存储器的测试数据并进行处理后以获得被测ADC芯片的测试性能参数。本发明专利技术减轻了FPGA处理芯片内部总线的负担，提高了模数转换芯片的测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法


[0001]本专利技术属于ADC测试
，具体涉及一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法。

技术介绍

[0002]随着工业控制技术的飞速发展，ADC(模数转换器)在数据采集系统中发挥的作用越来越重要，对模数转换芯片的需求也日益增加，而高速、高精度的数据采集系统已成为医疗设备、无人驾驶、高精度导航等诸多场景应用的解决方案。近年来电子信息技术不断发展，接口技术也多种多样，高速稳定的数据传输也成为数据采集系统发展的新趋势，ADC性能测试在ADC的增产与应用中成为了关键的一环，因此对于ADC高效性能测试变的至关重要。
[0003]在传统的ADC测试系统中，由于包含多种测试模块，测试系统结构臃肿繁杂，集成度不够高，而且受限于多个测试模块间的走线干扰，对测试数据有一定的影响，在实际测试中对测试人员的技术要求也较高，同时测试周期长、测试成本高，因此传统的ADC测试系统不利于ADC高效性能测试。
[0004]目前，模数转换芯片的性能测试多数依赖于专业测试机构，而专业测试机构一般采用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的ADC性能测试系统，其特征在于：包括FPGA处理芯片(5)，所述FPGA处理芯片(5)上连接有DDR3存储器(6)、ADC电流采样芯片(2)和被测ADC芯片(3)，所述FPGA处理芯片(5)同时与上位机(4)连接通信，所述上位机(4)向所述FPGA处理芯片(5)发送测试信号指令对被测ADC芯片(3)进行采样，所述被测ADC芯片(3)上连接有产生测试模拟信号的信号源(1)，所述被测ADC芯片(3)将测试模拟信号转化为数字信号传输至所述FPGA处理芯片(5)，所述ADC电流采样芯片(2)采集被测ADC芯片(3)的电流、电压模拟信号并转换为数字信号传输至所述FPGA处理芯片(5)，所述FPGA处理芯片(5)将数字信号作为测试数据存储至所述DDR3存储器(6)，所述FPGA处理芯片(5)读取DDR3存储器(6)中的测试数据并进行处理以获得被测ADC芯片(3)的测试性能参数。2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的ADC性能测试系统，其特征在于：所述被测ADC芯片(3)的模拟信号管脚连接有外部信号发生器，所述外部信号发生器产生测试波形作为所述信号源(1)，所述被测ADC芯片(3)的数字信号管脚连接所述FPGA处理芯片(5)的I/O单元，所述ADC电流采样芯片(2)的模拟信号管脚连接所述被测ADC芯片(3)的电源接口，所述ADC电流采样芯片(2)的数字信号管脚连接所述FPGA处理芯片(5)的I/O单元，所述DDR3存储器(6)连接所述FPGA处理芯片(5)的I/O单元。3.根据权利要求1或2所述的一种基于FPGA的ADC性能测试系统，其特征在于：所述信号源(1)产生差分正弦的测试模拟信号；所述被测ADC芯片(3)将测试模拟信号转换为数字信号后输出四路LVDS信号以及时钟信号至所述FPGA处理芯片(5)。4.根据权利要求3所述的一种基于FPGA的ADC性能测试系统，其特征在于：所述ADC电流采样芯片(2)采集所述被测ADC芯片(3)的电流、电压模拟信号后并通过串行SPI将采样结果传输至所述FPGA处理芯片(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：李兵，刘天宇，何飞翔，崔红卫，金山，雷佳，袁博，谷雨，李跃阳，吕永国，高严，种含伟，杨挺轩，
申请(专利权)人：陕西省电子技术研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：