温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法，其系统包括FPGA处理芯片，FPGA处理芯片电连接有DDR3存储器、ADC电流采样芯片和被测ADC芯片，FPGA处理芯片与上位机连接通信，上位机向FPGA处理芯片发送测试信号指令对...
该专利属于陕西省电子技术研究所有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西省电子技术研究所有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。