一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统，包括与红外焦平面探测器对准且相隔一预设距离设置的面源黑体，使得黑体辐射均匀照射在红外焦平面探测器上；包括：步骤S1，将面源黑体温度设置为第一预设温度，获取红外焦平面探测器的像元在预设积分时间下的第一像元电压数据；步骤S2，将温度设置为第二预设温度，获取红外焦平面探测器的像元在同一预设积分时间下的第二像元电压数据；步骤S3，计算出像元响应电压；步骤S4，获取红外焦平面探测器的光学的F数、积分电容、像元面积以及普朗克光子发射率，并结合预设积分时间以及计算得到的像元响应电压计算得到量子效率。有益效果：测试方法简便，数据采集方便、数据处理简单。单。单。

【技术实现步骤摘要】
一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及红外焦平面探测
，尤其涉及一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统。

技术介绍

[0002]红外焦平面探测器属于第三代红外成像器件，是红外系统的核心部件，具有集成度高、噪声等效温差低、探测能力强等优点，广泛用于军事、工业、农业、医疗、森林防火等各个领域。
[0003]量子效率是器件对光敏感性的精确测量。由于光子的能量与波长的倒数成比例，量子效率的测量通常是在一段波长范围内进行。底片的量子效率通常少于10％，而感光耦合元件在某些波长位置具有超过90％的效率。
[0004]现有技术中尚无一个完整的理论可以对红外焦平面探测器的量子效率的计算过程以及其影响因素进行定量分析等。

技术实现思路

[0005]为了解决以上技术问题，本专利技术提供了一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统。
[0006]本专利技术所解决的技术问题可以采用以下技术方案实现：
[0007]一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法，包括红外焦平面探测器以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，包括红外焦平面探测器以及与所述红外焦平面探测器对准且相隔一预设距离设置的面源黑体，使得黑体辐射均匀照射在所述红外焦平面探测器上；并包括以下步骤：步骤S1，将所述面源黑体温度设置为一第一预设温度，获取所述红外焦平面探测器的像元在一预设积分时间下的第一像元电压数据；步骤S2，将所述面源黑体温度设置为一第二预设温度，获取所述红外焦平面探测器的像元在同一所述预设积分时间下的第二像元电压数据；步骤S3，根据所述第一像元电压数据和所述第二像元电压数据计算出所述第一预设温度和所述第二预设温度之间的像元响应电压；步骤S4，获取所述红外焦平面探测器的光学接口的F数、所述红外焦平面探测器上读出电路的积分电容、像元面积以及普朗克光子发射率，并结合所述预设积分时间以及计算得到的所述像元响应电压计算得到所述量子效率。2.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，所述步骤S3，具体包括：对所述第一像元电压数据和所述第二像元电压数据作差处理，得到所述像元响应电压。3.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，所述步骤S4之后，还包括：调整所述第一预设温度和所述第二预设温度，按照步骤S1
‑
S4的流程测量相同积分时间的条件下温度调整后对应的像元响应电压，以得到不同黑体温度下的量子效率。4.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，所述量子效率采用下述公式计算得到：其中，F表示所述红外焦平面探测器的光学接口的F数；n表示补偿系数；K表示增益；C表示所述读出电路的积分电容；j
‑
j0表示在所述第一预设温度和所述第二预设温度下的所述普朗克光子发射率的差值；A
d
表示所述像元面积；t
int
表示所述预设积分时间；η表示所述量子效率。5.根据权利要求4所述的红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，所述普朗克光子发射率采用下述公式确定：其中，λ表...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊伟钉，邱伟强，阎蒋伟，陈天晴，谭必松，杜宇，毛剑宏，
申请(专利权)人：浙江珏芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：