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一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统技术方案
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下载一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统的技术资料
文档序号:38857531
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本发明提供一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统,包括与红外焦平面探测器对准且相隔一预设距离设置的面源黑体,使得黑体辐射均匀照射在红外焦平面探测器上;包括:步骤S1,将面源黑体温度设置为第一预设温度,获取红外焦平面探测器的像元在预设积...
该专利属于浙江珏芯微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江珏芯微电子有限公司授权不得商用。
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