芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该芯片功耗评估方法包括：获取待测芯片的至少两个波形文件，并计算得到各该波形文件对应的平均功耗；获取各该波形文件的占比信息；根据该各波形文件对应的占比信息和该各波形文件对应的平均功耗，获得该待测芯片的目标功耗评估结果。通过本申请，解决了芯片功耗评估效率低的问题，实现了高效、精确的芯片平均功耗评估方法。精确的芯片平均功耗评估方法。精确的芯片平均功耗评估方法。

【技术实现步骤摘要】
芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质


[0001]本申请涉及集成电路
，特别是涉及芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质。

技术介绍

[0002]功耗分析对于芯片的性能评估非常重要。传统的提供功耗分析波形的方法是，通过人工查看仿真后的波形文件，确认运行的程序的软件配置符合功耗分析的要求后，再将仿真波形文件按要求分段截取作为功耗分析的输入。随着芯片设计越来越复杂，所应用的场景越来越多样化，功耗分析的工作量也随之增大。在相关技术中，在不同应用场景下，每次调整波形文件时都需要重新开始计算设计芯片的平均功耗，使得芯片功耗评估的效率低下。
[0003]目前针对相关技术中芯片功耗评估的效率低的问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种芯片功耗评估方法、装置、系统、电子装置和存储介质，以至少解决相关技术中芯片功耗评估的效率低的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片功耗评估方法，所述方法包括：获取待测芯片的至少两个波形文件，并计算得到各所述波形文件对应的平均本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片功耗评估方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片的至少两个波形文件，并计算得到各所述波形文件对应的平均功耗；获取各所述波形文件的占比信息；根据各所述波形文件对应的占比信息和各所述波形文件对应的平均功耗，获得所述待测芯片的平均功耗评估结果。2.根据权利要求1所述的芯片功耗评估方法，其特征在于，所述获取待测芯片的至少两个波形文件，并计算得到各所述波形文件对应的平均功耗；获取各所述波形文件的占比信息，包括：获取待测芯片的应用场景，确定所述应用场景对应的至少两个任务；获取所述应用场景对应的至少两个任务的波形文件，并根据所述波形文件计算各个任务对应的平均功耗，得到各所述波形文件对应的平均功耗；获取各所述波形文件对应的任务在所述应用场景中的占比信息作为各所述波形文件的占比信息。3.根据权利要求1所述的芯片功耗评估方法，其特征在于，所述计算得到各所述波形文件对应的平均功耗，包括：获取所述波形文件中的至少一个功耗类型对应的功耗计算信息；根据所述至少一个功耗类型对应的功耗计算条件以及功耗计算信息计算所述功耗类型对应的功耗；根据所述至少一个功耗类型对应的功耗得到所述波形文件对应的平均功耗。4.根据权利要求3所述的芯片功耗评估方法，其特征在于，所述功耗类型包括动态功耗类型和静态功耗类型；所述根据所述至少一个功耗类型对应的功耗计算条件以及功耗计算信息计算所述功耗类型对应的功耗；根据所述至少一个功耗类型对应的功耗得到所述波形文件对应的平均功耗，包括：对每个所述波形文件分别进行解析得到对应的动态数据、静态数据；利用所述动态功耗类型对应的功耗计算条件，根据所述动态功耗类型对应的功耗计算信息和所述动态数据计算得到动态功耗；利用所述静态功耗类型对应的功耗计算条件，根据所述静态功耗类型对应的功耗计算信息和所述静态数据得到静态功耗；根据所述静态功耗和所述动态功耗得到所述波形文件对应的所述平均功耗。5.根据权利要求4所述的芯片功耗评估方法，其特征在于，所述静态功耗类型包括固有漏功耗和栅漏功耗；和/或，所述动态功耗类型包括内部功耗和开关功耗。6.根据权利要求3所述的芯片功耗评估方法，其特征在于，所述根据各所述波形文件对应的占比信息和各所述波形文件对应的平均功耗，计算得到所述待测芯片的平均功耗评估结果，包括：针对每一波形文件，获取波形文件中各个功耗类型对应的功耗；针对待测芯片的每一功耗类型，根据各所述波形文件...

【专利技术属性】
技术研发人员：张云霞，张润捷，肖文林，
申请(专利权)人：杭州行芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：