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本申请涉及一种芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该芯片功耗评估方法包括：获取待测芯片的至少两个波形文件，并计算得到各该波形文件对应的平均功耗；获取各该波形文件的占比信息；根据该各波形文件对应的占比信息和该各波形文件对应的平均...
该专利属于杭州行芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州行芯科技有限公司授权不得商用。

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