平整度测量装置及其测量方法、显示装置制造方法及图纸

本申请涉及一种平整度测量装置及其测量方法、显示装置。该平整度测量方法用于平整度测量装置，平整度测量装置包括测量平台、预设平整度标准件和光学组件，预设平整度标准件和待测量件之间具有间隙，测量平台和光学组件之间在水平方向能够相对移动，测量方法包括：获取待测量件的多个测量点位；驱动测量平台和光学组件相对移动，每次移动后使光学组件发出的光路穿过预设平整度标准件射向对应的测量点位，以得到多组干涉条纹图像；将多组干涉条纹图像对比，以得到待测量件的平整度。该平整度测量装置及其测量方法、显示装置，能够方便快速的测得大尺寸玻璃板的平整度，测量精度较高。高。高。

【技术实现步骤摘要】
平整度测量装置及其测量方法、显示装置


[0001]本申请涉及测量
，特别是涉及一种平整度测量装置及其测量方法、显示装置。

技术介绍

[0002]作为液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)电视的下一代技术，Mini LED(次毫米发光二极管)将传统的LED灯珠做得更小，其芯片大小仅为传统LED灯珠的四十分之一左右，整体光源布局更精密。通过超多分区技术实现对背光源的精细化控制。随着消费者对大尺寸，高解析度显示产品的不断追求，势必对技术设备也提出来越来越高的要求。
[0003]由于直下式Mini LED灯板是由成千上万的LED颗粒通过巨量转移的方式焊接在玻璃基灯板上，加之受制于目前技术能力的限制，大尺寸的显示产品一般采用灯板拼接的方式，如果板块平整度达不到要求，将严重影响电路板的成品合格率，造成后续大量的虚焊、漏焊以及无法焊接的情况的发生，最终将严重影响灯板产品的使用性能。现有技术中，玻璃基灯板一般通过大理石测量台和游标卡尺的配合测量平整度，此种测量方式复杂、效率较低且测量精度较低。<br/>
技术实现思路
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平整度测量方法，用于平整度测量装置，其特征在于，所述平整度测量装置包括测量平台、预设平整度标准件和光学组件，所述测量平台用于放置待测量件，所述预设平整度标准件位于所述待测量件上方，所述预设平整度标准件和所述待测量件之间具有间隙，所述测量平台和所述光学组件之间在水平方向能够相对移动，所述测量方法包括：获取所述待测量件的多个测量点位；驱动所述测量平台和所述光学组件相对移动，每次移动后使光学组件发出的光路穿过所述预设平整度标准件射向对应的测量点位，以得到多组干涉条纹图像；将多组所述干涉条纹图像对比，以得到所述待测量件的平整度。2.根据权利要求1所述的平整度测量方法，其特征在于，所述的将多组所述干涉条纹图像对比，以得到所述待测量件的平整度，具体方法包括：根据所述干涉条纹图像计算得到对应所述测量点位在所述间隙到预设平整度标准件的距离，得到多组距离数据的集合；获取所述集合中的最大数据和最小数据；根据所述最小数据和所述最大数据的比值的百分数确定所述待测量件的平整度。3.根据权利要求2所述的平整度测量方法，其特征在于，所述光学组件包括光路检测系统和图像传感器，所述的得到多组干涉条纹图像，具体方法包括：控制所述光路检测系统发射光源，利用等倾干涉原理使所述光源经所述光路检测系统发出所述光路并经所述预设平整度标准件后，在所述预设平整度标准件和所述待测量件处于空气层间隙的两表面反射，所形成两束相干反射光在所述图像传感器成像，得到所有测量点位对应的等倾干涉图样作为多组所述干涉条纹图像。4.根据权利要求3所述的平整度测量方法，其特征在于，所述干涉条纹图像包括多条明暗相间的干涉环，所述的得到多组距离数据的集合，具体方法包括：选取多组所述干涉条纹图像中在每组均出现在图像传感器视场内的干涉环作为参考干涉环；将所述参考干涉环与每组所述干涉条...

【专利技术属性】
技术研发人员：何洋，袁海江，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：