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本申请涉及一种平整度测量装置及其测量方法、显示装置。该平整度测量方法用于平整度测量装置，平整度测量装置包括测量平台、预设平整度标准件和光学组件，预设平整度标准件和待测量件之间具有间隙，测量平台和光学组件之间在水平方向能够相对移动，测量方法包...
该专利属于惠科股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠科股份有限公司授权不得商用。

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