本发明专利技术公开了一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法，包括测试箱，测试箱顶部两侧的外壁上均固定安装有纵向移动机构，且纵向移动机构的上方设置有竖向移动机构，竖向移动机构的上方安装有可滑动的横向移动机构，横向移动机构的上方安装有同步杆，且同步杆的端部设置有阻尼转轴，同步杆端部通过阻尼转轴设置有安装板，安装板上通过卡扣固定安装有测试仪，测试箱顶部的中心处固定设置有支撑组件，两个测试仪之间与支撑组件上方设置有待测仪表。本发明专利技术通过设置的通过纵向移动机构、竖向移动机构和横向移动机构实现对测试仪位置的调节，从而实现对待测仪表的安装，以达到对待测仪表进行快速测试的目的。测仪表进行快速测试的目的。测仪表进行快速测试的目的。
【技术实现步骤摘要】
一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法
[0001]本专利技术涉及仪表测试
，具体涉及一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法。
技术介绍
[0002]仪表集成电路生产制造需要经过上百道主要工序。其技术范围覆盖了从微观到宏观的全尺度，地球上诸多先进的技术在集成电路行业中得到了淋漓尽致的体现。由于集成电路制造的精密性以及对成本和利润的追求，为了保证芯片的质量，需要在整个生产过程中对生产过程及时地进行监测，为此，几乎每一步主要工艺完成后，都要对芯片进行相关的工艺参数监测，以保证产品质量的可控性。
[0003]根据测试内容的不同，集成电路测试分为工艺参数测试和电学参数测试两大类。当然，为了保证集成电路芯片的生产效率，没有必要在每个主要工序后对所有的参数进行测试，所以在大部分工序后仅仅对几个关键的工艺参数和电学参数进行监测，这样花费的时间较短，可以保证生产效率。同时，为了保证质量，在几个关键节点会集中地对整个电学参数进行检测，这种集中检测涉及集成电路所有的关键参数，所以花费的时间较长，但是对于保证产品质量却能起到关键作用。
[0004]如申请号为CN202211432972.9的一种车辆电子仪表测试工装及电子仪表测试方法，涉及电子仪表测试
其中电子仪表测试方法基于车辆电子仪表测试工装，车辆电子仪表测试工装包括主控模块、第一电源模块、信号调理模块及第二电源模块。其中主控模块用于接收用户的指令，信号调理模块与主控模块间隔设置且通讯连接，用于根据主控模块的信号发出相应的模拟干扰信号，第一电源模块与主控模块连接，用于向主控模块供电，第二电源模块与信号调理模块连接，用于向信号调理模块供电。通过第二电源模块模拟整车的负载电源，以模拟电子仪表在整车电池亏电时的工况，可以在负载电源亏电时进行模拟测试，以避免到主机厂进行整车测试，提高了电子仪表的开发效率。
[0005]上述以及在现有技术中的仪表的集成电路的测试装置，对仪表的集成电路的测试质量不佳，同时不便于实现对仪表的快速安装，实现对仪表的快速测试的目的。因此，亟需设计一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法来解决上述问题。
技术实现思路
[0006]本专利技术的目的是提供一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法，以解决现有技术中的上述不足之处。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0008]一种仪表的集成电路快速集成测试装置，包括测试箱，所述测试箱顶部两侧的外壁上均固定安装有纵向移动机构，且纵向移动机构的上方设置有竖向移动机构，所述竖向移动机构的上方安装有可滑动的横向移动机构，所述横向移动机构的上方安装有同步杆，且同步杆的端部设置有阻尼转轴，所述同步杆端部通过阻尼转轴设置有安装板，所述安装
板上通过卡扣固定安装有测试仪，所述测试箱顶部的中心处固定设置有支撑组件，两个所述测试仪之间与支撑组件上方设置有待测仪表。
[0009]进一步地，所述测试箱正面两侧的外壁上均固定安装有合页轴，且测试箱的正面通过合页轴设置有可对开的储物门。
[0010]进一步地，所述测试箱底部的外壁上焊接有底座，且底座呈倒T形结构，底座底部的外壁上固定粘接有防滑垫。
[0011]进一步地，所述纵向移动机构包括固定安装在测试箱顶部外壁上的纵支架，所述纵支架的内部通过轴承安装有纵向丝杆，所述纵向丝杆上传动连接有可在纵支架上滑动的连接组件，所述纵向丝杆的外端部固定设置有从动轮，且从动轮的外部设置有传动皮带，所述传动皮带远离从动轮的一端设置有主动轮，所述纵支架的一侧外壁上固定设置有纵向伺服电机，所述主动轮固定安装在纵向伺服电机的输出轴上。
[0012]进一步地，所述纵支架顶部两侧的外壁上均固定安装有滑轨，且连接组件包括套接在纵向丝杆外部的滑移座和滑块，所述滑块滑动卡接在滑轨的外壁上。
[0013]进一步地，所述竖向移动机构包括竖支架，所述竖支架的内部通过轴承设置有竖向丝杆，所述竖向丝杆的顶端固定安装有竖向伺服电机，且竖向伺服电机一侧固定设置有安装在竖支架上的固定架，所述竖向丝杆的外部滑动套接有滑动螺母。
[0014]进一步地，所述横向移动机构包括横支架，所述横支架的内部通过轴承设置有横向丝杆，所述横向丝杆的一端固定设置有横向伺服电机，所述横向丝杆的外部滑动连接有丝杆螺母，所述同步杆的一端固定安装在丝杆螺母上。
[0015]进一步地，所述支撑组件包括固定安装在测试箱顶部外壁上的外壳体，所述外壳体内部的下方设置有螺纹孔，且螺纹孔的内部螺纹插接有蜗杆，所述蜗杆顶端开有转动槽，所述外壳体顶端内部插接有插接在转动槽内部的升降杆，所述外壳体内部的上方开有滑槽，且升降杆的外部固定套接有卡接在滑槽内部的限位盘，所述外壳体的内部设置有与蜗杆相啮合的蜗轮，所述蜗轮的一端固定设置有摇把，所述升降杆的顶端固定安装有支撑台。
[0016]一种仪表的集成电路快速集成测试方法，包括所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，包括以下步骤：S1：将待测仪表快速固定在测试仪上，通过纵向移动机构、竖向移动机构和横向移动机构实现对测试仪位置的调节，从而实现对待测仪表的安装；
[0017]S2：通过向待测仪表输入激励信号，激励信号经待测仪表之后，通过收集输出信号对测试的结果进行收集，然后把收集的测试结果输入至数据存储单元进行储存，并通过测试结果比对，把数据存储单元存储的数据与理想的输出结果做对比，从而判断对仪表测试的性能。
[0018]进一步地，将输入激励信号记为A，然后通过待测仪表之后，将收集的输出信号记为B，此时把B存储在数据存储单元中，将理想输出结果记为C，最后将B和C进行比对，从而得出待测仪表的优良。
[0019]在上述技术方案中，本专利技术提供的一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法，通过设置的通过纵向移动机构、竖向移动机构和横向移动机构实现对测试仪位置的调节，从而实现对待测仪表的安装，以达到对待测仪表进行快速测试的目的，采用对待测仪表的输入激励信号，让待测仪表做出具体的动作，然后对待测仪表做出的结果进行收集信号，然后与理想结果做比对，从而快速判断仪表的优良特性。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本专利技术一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法实施例提供的结构示意图。
[0022]图2为本专利技术一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法实施例提供的结构示意图。
[0023]图3为本专利技术一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法实施例提供的移动机构结构局部放大图。
[0024]图4为本专利技术一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法实施例提供的支撑组件结构示意图。
[0025]图5为本专利技术一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法实施例提供的测试方法流本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种仪表的集成电路快速集成测试装置，包括测试箱(1)，其特征在于，所述测试箱(1)顶部两侧的外壁上均固定安装有纵向移动机构(5)，且纵向移动机构(5)的上方设置有竖向移动机构(6)，所述竖向移动机构(6)的上方安装有可滑动的横向移动机构(7)，所述横向移动机构(7)的上方安装有同步杆(75)，且同步杆(75)的端部设置有阻尼转轴(8)，所述同步杆(75)端部通过阻尼转轴(8)设置有安装板(9)，所述安装板(9)上通过卡扣固定安装有测试仪(10)，所述测试箱(1)顶部的中心处固定设置有支撑组件(12)，两个所述测试仪(10)之间与支撑组件(12)上方设置有待测仪表(11)。2.根据权利要求1所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，其特征在于，所述测试箱(1)正面两侧的外壁上均固定安装有合页轴(2)，且测试箱(1)的正面通过合页轴(12)设置有可对开的储物门(3)。3.根据权利要求1所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，其特征在于，所述测试箱(1)底部的外壁上焊接有底座(4)，且底座(4)呈倒T形结构，底座(4)底部的外壁上固定粘接有防滑垫。4.根据权利要求1所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，其特征在于，所述纵向移动机构(5)包括固定安装在测试箱(1)顶部外壁上的纵支架(51)，所述纵支架(51)的内部通过轴承安装有纵向丝杆(52)，所述纵向丝杆(52)上传动连接有可在纵支架(51)上滑动的连接组件(53)，所述纵向丝杆(52)的外端部固定设置有从动轮(55)，且从动轮(55)的外部设置有传动皮带(56)，所述传动皮带(56)远离从动轮(55)的一端设置有主动轮(57)，所述纵支架(51)的一侧外壁上固定设置有纵向伺服电机(58)，所述主动轮(57)固定安装在纵向伺服电机(58)的输出轴上。5.根据权利要求4所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，其特征在于，所述纵支架(51)顶部两侧的外壁上均固定安装有滑轨(54)，且连接组件(53)包括套接在纵向丝杆(52)外部的滑移座(62)和滑块(59)，所述滑块(59)滑动卡接在滑轨(54)的外壁上。6.根据权利要求1所述的一种仪表的集成电路快速集成测试装置，其特征在于，所述竖向移动机构(6)包括竖支架(61)，所述竖支架(61)的内部通过轴承设置有竖向丝杆(63)，所述竖向丝杆(63)的顶端固定安装有竖向伺服电机(64)...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶计安，叶旭文，任玲，黄朝发，曾万苇，何福斌，
申请(专利权)人：深圳市聚合云智能控制有限公司，
类型：发明
国别省市：
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