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本发明公开了一种仪表的集成电路快速集成测试装置及方法，包括测试箱，测试箱顶部两侧的外壁上均固定安装有纵向移动机构，且纵向移动机构的上方设置有竖向移动机构，竖向移动机构的上方安装有可滑动的横向移动机构，横向移动机构的上方安装有同步杆，且同步杆...
该专利属于深圳市聚合云智能控制有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市聚合云智能控制有限公司授权不得商用。

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