触控芯片的检测方法、装置和电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，属于电子技术领域。该触控芯片的检测方法包括：对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。在异常。在异常。

【技术实现步骤摘要】
触控芯片的检测方法、装置和电子设备


[0001]本申请属于电子
，具体涉及一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，触摸屏也从之前的电阻屏发展为现在支持多指触摸的电容屏，电容屏是一种高灵敏度、高精度的触摸屏幕技术。因此，电容屏的生产制造过程需要高度的自动化和精密度，以确保产品的质量和稳定性。
[0003]其中，对于电容屏这一模组的测试，在模组端(即电容屏未安装到终端设备上之前)和整机端(即电容屏安装到终端设备上之后)均可以进行测试。主要包括如下几项：互容原始电容值、噪声检测、自容原始电容值、开路测试、短路测试等，其中，每个测试项的都存在一定的局限性，因此，现有技术中电容屏模组的误检测几率较高。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的是提供一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，能够解决现有技术中电容屏模组的误检测几率较高的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测方法，所述方法包括：
[0006]对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；
[0007]根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。
[0008]第二方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测装置，所述装置包括：
[0009]采样模块，用于对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；
[0010]检测模块，用于根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。
[0011]第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器和存储器，所述存储器存储可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
[0012]第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
[0013]第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述
通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的方法。
[0014]第六方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面所述的方法。
[0015]在本申请实施例中，能够对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得目标接收通道的第一采样数据，从而根据目标接收通道的第一采样数据，检测触控芯片是否存在异常，其中，内部互容采样为在目标过程中采集数据，目标过程为触控芯片的发射通道发射的信号通过触控芯片的内部电路传导，并由触控芯片的接收通道接收的过程，目标接收通道包括触控芯片的至少一个接收通道，第一采样数据用于指示目标接收通道的噪声特征。
[0016]由此可见，在本申请实施例中，可以对电容屏的触控芯片的内部电路进行采样，从而基于内部电路的噪声特征来检测触控芯片是否存在异常，这样，可以避免连接触控芯片的触控面板(即外围电路)的干扰影响对触控芯片的检测，从而提升检测异常触控芯片的准确率，进而降低电容屏模组的误检测几率。
附图说明
[0017]图1是本申请实施例的触控芯片的检测方法的流程图；
[0018]图2是本申请实施例中触控芯片的内部电路中部分示意图；
[0019]图3是本申请实施例中检测触控芯片涉及的触控芯片的内部电路中部分示意图；
[0020]图4是本申请实施例中个触控芯片测试1000次AFE电路噪声值的结果示意图；
[0021]图5是本申请实施例中10个触控芯片各测试20次某一条接收通道的AFE电路噪声值；
[0022]图6是本申请实施例中的一帧噪声数据的示意图；
[0023]图7是本申请实施例的触控芯片的检测装置的结构框图；
[0024]图8是本申请实施例的电子设备的示意框图之一；
[0025]图9是本申请实施例提供的电子设备的示意框图之二。
具体实施方式
[0026]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0027]本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0028]下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的触控芯片的检测方法进行详细地说明。
[0029]第一方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测方法，如图1所示，该方法可以包括如下步骤：
[0030]步骤101：对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据。
[0031]其中，触控芯片(Integrated Circuit，IC)，是处理触摸操作的IC。触摸屏(例如电容屏)的功能区是一块有阻抗的导电玻璃，线路汇聚在一块，通过FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)连接，一般触控IC设置在FPC上或者电子设备的主板上。例如手指在触摸屏上操作时，电荷的变化会通过导电玻璃里的线路传送到FPC，再经过FPC上的触控IC的处理，将信号传送给电子设备的主板，主板给出相应的反馈，从而实现触摸操作。
[0032]另外，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程。由此可知，在本申请实施例中，对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，即为：由触控芯片的目标发射通道发射的信号，通过触控芯片的内部电路传到，从而由触控芯片的目标接收通道接收，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控芯片的检测方法，其特征在于，所述方法包括：对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，包括：在M个频点，分别对所述目标接收通道进行N次内部互容采样，得到所述目标接收通道的每一个接收通道在每一个频点下的N个模拟前端电路噪声值，其中，一次所述内部互容采样采集得到一个所述模拟前端电路噪声值，所述模拟前端电路包括所述触控芯片的内部电路中的可编程增益放大电路、用于进行电流和电压控制的电路和采样保持电路；根据计算得到所述目标接收通道包括的每一个接收通道的第一采样数据的值AFE Circuit Noise；其中，Amp[j][i]表示一个接收通道在第j个频点下的第i个模拟前端电路噪声值，M和N分别为大于或等于1的整数。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常，包括：对比所述目标接收通道包括的每一个接收通道的第一采样数据的数值，与所述接收通道对应的第一卡控值；在所述接收通道的第一采样数据的数值小于或等于所述接收通道对应的第一卡控值的情况下，确定所述接收通道不存在异常，或者，在所述接收通道的第一采样数据的数值大于所述接收通道对应的第一卡控值的情况下，确定所述接收通道存在异常；在所述目标接收通道中的至少一个所述接收通道存在异常的情况下，确定所述触控芯片存在异常，或者，在所述目标接收通道包括的所述接收通道均不存在异常的情况下，确定所述触控芯片不存在异常。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常，包括：对比所述目标接收通道包括的每一个接收通道的第一采样数据的数值，与所述接收通道对应的第一卡控值；在所述接收通道的第一采样数据的数值小于或等于所述接收通道对应的第一卡控值的情况下，确定所述接收通道不存在异常，或者，在所述接收通道的第一采样数据的数值大于所述接收通道对应的第一卡控值的情况下，确定所述接收通道存在异常；在所述目标接收通道包括的所述接收通道均不存在异常的情况下，将所述目标接收通道中包括的中间接收通道中每相邻的两个接收通道划分为一组，得到P个分组，其中，P为正整数，所述中间接收通道包括所述触控芯片的接收通道中，与所述触控芯片连接的触控面板的第一区域对应的接收通道，所述第一区域包括所述触控面板上除第二区域之外的区
域，所述第二区域的边界距离所述触控面板的边界小于目标距离；在第v个分组中的接收通道的第一采样数据的数值均大于第二卡控值的情况下，确定第v个所述分组存在异常，或者，在第v个所述分组中的接收通道的第一采样数据的数值中，至少一个数值小于或等于所述第二卡控值的情况下，确定第v个分组不存在异常，其中，v为1至P的整数，所述第二卡控值小于所述第一卡控值；在至少一个分组存在异常的情况下，确定所述触控芯片存在异常，或者，在第1至P个分组均不存在异常的情况下，确定所述触控芯片不存在异常。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值相同，或者，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标接收信道中包括的各个接收信道对应的第一卡控值中存在不同的值，与边缘接收通道对应的第一卡控值，小于与中间接收通道对应的第一卡控值；其中，所述中间接收通道包括所述触控芯片的接收通道中，与所述触控面板的第一区域对应的接收通道；所述边缘接收通道包括所述触控芯片的接收通道中，与所述触控芯片连接的触控面板的第二区域对应的接收通道；所述第二区域的边界距离所述触控面板的边界小于目标距离，所述第一区域包括所述触控面板上除所述第二区域之外的区域。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述触控芯片不存在异常的情况下，获取所述目标接收通道包括的各个接收通道的第一参数，其中，所述第一参数为所述接收通道的第一采样数据的值与所述接收通道对应的第一卡控值之差的绝对值；在存在至少一个小于或等于第一阈值的所述第一参数的情况下，获取所述触控芯片连接的触控面板的报点数据对应的目标框；提升所述目标框对应的坐标对应的接收通道的报点阈值。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述提升所述目标框对应的坐标对应的接收通道的报点阈值，包括：在所述目标框满足目标条件的情况下，提升所述目标框对应的坐标对应的接收通道的报点阈值；其中，所述目标条件包括：所述触控面板上所述目标框的区域内检测到由干扰引起的触发事件；所述目标框内包括的节点数量小于目标数量；所述目标框内包括的节点的第二参数中的最大值位于抖动接收通道上，其中，所述第二参数为节点对应的接收通道的第二采样数据的数值，所述第二采样数据为所述触控芯片的发射通道发射的信号经过所述触控面板传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的信号的特征值；其中，一个节点对应触控芯片的一个接收通道和一个发射通道；所述抖动接收通道的所述第二采样数据的数值与所述抖动接收通道对应的第一卡控
值之差的绝对值小于第二阈值。9.一种触控芯片的检测装置，其特征在于，所述装置包括：采样模块，用于对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：