一种可自动翻转型芯片测试设备制造技术

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，且公开了一种可自动翻转型芯片测试设备，包括机座，所述机座的上侧固定安装有机架，所述机架的前侧固定设置有控制机箱，所述机架上设置有对芯片进行传输的输送组件，所述输送组件上设置有若干个测试座，且测试座位于输送组件上呈均匀分布，所述测试座上设置有翻转机构。该可自动翻转型芯片测试设备，该装置当旋转轴出现失速现象时，通过旋转轴转动时的离心力作用力，使得离心件拉动弹性连接件并与感应开关发生接触，启动感应开关并将电能传输至电磁铁套上，促使电磁铁套通电产生磁性，并利用该磁性对固定铁套产生吸力，从而将其吸住锁定，使旋转轴停止运行，并同步发出信息提箱相关人员及时对其进行检修。行检修。行检修。

【技术实现步骤摘要】
一种可自动翻转型芯片测试设备


[0001]本专利技术属于芯片测试
，尤其涉及一种可自动翻转型芯片测试设备。

技术介绍

[0002]芯片在封装完毕后，可能存在潜在缺陷，这些会导致芯片性能不稳定或者功能上存在潜在缺陷，如果这些存在潜在缺陷的芯片被用在关键设备上，有可能发生故障，造成用户财产损失或者生命危险，故芯片成品生产后，要对芯片进行检测，检测内容包括物理缺陷检测、磁感应检测等等。
[0003]目前，现有的测试设备在使用的过程中，还存在以下问题，市面上现有的芯片在进行测试时，芯片正面测试完毕后，需要人工或借助翻转装置将芯片翻转，再对芯片背面进行测试，且人工在翻转过程中无法保证芯片无损并确保测试精确度，翻转装置由于缺少防护装置，使其容易在芯片进行翻转的过程中出现不可控情况的发生，从而导致芯片出现侧翻的可能性，进而导致芯片测试设备可靠性较低，测试效率也较低；故存在不足，不能满足厂家的测试使用需求，因此，有必要进一步改进。
[0004]在中国专利申请号为201710883239.1中公开了一种触控芯片电性测试装置、设备及测试方法，包括用来承载定位芯片板的载盘模组、分设在载盘模组上下两侧的第一、第二测试模组，第一测试模组包括可上下移动的探针座及设在探针座的若干组测试探针，每组测试探针分别用于与相应的触控芯片上的多个焊点对应触接，第一测试模组和第二测试模组分设在所述载盘模组的上下两侧实现了同步检测，但是由于这种传输方式使用两套检测测试模块，单套的测试模块的成本极高，也增加了设备整体的投入成本，并且由于检测时这两种检测的位置不一致，会受到芯片载板以及光线等环境因素的影响，会间接造成两组检测模块的测试结果不一致存在细微的差别性，影响了精准度。
[0005]于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供可自动翻转型芯片测试设备，以期达到更具有实用价值性的目的。

技术实现思路

[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种可自动翻转型芯片测试设备，由以下具体技术手段所达成：一种可自动翻转型芯片测试设备，所述机座的上侧固定安装有机架，所述机架的前侧固定设置有控制机箱，所述机架上设置有对芯片进行传输的输送组件，所述输送组件上设置有若干个测试座，且测试座位于输送组件上成均匀分布，所述测试座上设置有翻转机构，所述翻转机构利用旋转轴与夹持部相固定连接，所述夹持部上设置有对芯片进行夹持的夹持组件，通过翻转机构对夹持状态下的芯片形成正反面的翻转作业；所述旋转轴所在的外周套设有防护部，使旋转轴贯穿防护部的中心轴并转动连接，所述防护部的内部设置有稳定组件和防护座；所述稳定组件包括稳定外套、稳定内套和减震部件，所述稳定外套的外侧与防护
部的内壁相固定安装，所述稳定内套的内侧与旋转轴的外侧相固定安装，所述稳定外套与稳定内套之间设置有减震部件，所述减震部件与稳定内套相固定安装，所述减震部件与稳定外套相滑动安装；所述防护座的内部设置有锁止组件，所述锁止组件包括固定铁套和电磁铁套，所述固定铁套固定套设在旋转轴的外周，所述电磁铁套的外侧壁与防护座的内壁相互贴合，使旋转轴、固定铁套以及电磁铁套依次套设，通过对所述电磁铁套通电实现对固定铁套以及旋转轴进行锁死；位于所述测试座所在的上部设置有测试机构，通过测试机构对芯片所在的正反面进行检测作业。
[0007]进一步的，所述输送组件包括输送电机、输送辊和输送带；所述输送电机固定设置在机架的外侧，所述输送辊活动设置在机架的内侧，所述输送电机利用输出端与输送辊相固定连接，所述输送辊的外侧设置有对芯片进行测试输送的输送带。
[0008]通过采用上述结构，通过输送电机的输出端带动输送辊进行转动，基于输送辊与输送带相接触时的作用力，带动测试座以及芯片进行移动，从而实现芯片的自动进料，同时提升了厂家的生产效率。
[0009]进一步的，所述夹持组件包括夹持座、弹性垫、夹持板、定位吸盘和通气阀；所述夹持座一侧固定设置有弹性垫，所述弹性垫远离夹持座的一侧固定安装有对芯片进行夹持的夹持板，所述夹持座相对着弹性垫的一侧且位于弹性垫之间设置有若干个定位吸盘，且定位吸盘成均匀对称分布，所述定位吸盘用于对芯片进行固定定位。
[0010]通过采用上述结构，通过夹持组件相对移动对芯片进行固定夹持，且夹持组件对芯片进行夹持的过程中，利用夹持板对芯片进行夹持，且通过弹性垫可起到缓冲的作用，有效避免因夹持板夹持力度过大造成芯片出现变形。
[0011]进一步的，所述夹持座的内部开设有内空腔，且内空腔与定位吸盘设置成相通，所述夹持座的外侧设置有对定位吸盘进行充放气的通气阀，且通气阀与夹持座的内空腔设置相通。
[0012]通过采用上述结构，利用定位吸盘与芯片相互接触，通过夹持座的挤压促使定位吸盘吸附在芯片外表面上，且定位吸盘内部的空气都通过夹持座中的内空腔由通气阀向外排出，从而使得定位吸盘形成负压状态，可有效保证定位吸盘对芯片的吸附力度，有效提高了芯片的稳定性。
[0013]进一步的，所述减震部件包括减震套、减震杆、减震滑块、减震板、弹簧和通孔；所述减震套一侧与稳定内套相固定安装，所述减震套上活动安装有减震杆，所述减震杆的两端分别安装有减震滑块和减震板，所述减震滑块位于减震杆靠近稳定外套的一端，且减震板位于减震杆远离减震滑块的一端并位于减震套中，所述减震杆以及减震套的外侧且位于稳定内套与减震滑块之间固定套设有弹簧，所述减震套的内部设有减震液，所述减震板上开设有若干个通孔，且通孔用于减震液的来回流动。
[0014]通过采用上述结构，通过旋转轴在转动的过程中带动稳定内套以及减震部件同步进行转动，通过减震部件在稳定外套的稳定滑槽中滑动，得以保证旋转轴在转动时的稳定性能。
[0015]进一步的，所述稳定外套的内侧开设有稳定滑槽，所述减震滑块位于稳定滑槽之中，所述减震滑块与稳定外套通过稳定滑槽滑动安装。
[0016]通过采用上述结构，通过旋转轴以及稳定内套同步出现晃动情况时，使得减震板在减震套的内部进行往复移动，利用减震套中的减震液通过通孔来回往复运动，同时施加在减震板上的反作用力可传递至旋转轴上，从而可有效保证转轴转动时的稳定性能，进而可提升对芯片的翻转效果。
[0017]进一步的，所述旋转轴的外侧固定套设有离心环，且离心环位于锁止组件之间，所述离心环用于监测旋转轴的失速感应，所述离心环的外侧开设有凹槽，且凹槽中设置有离心件，所述离心件与离心环的凹槽内壁之间连接有弹性连接件；其中，所述防护座的内壁上设置有对电磁铁套进行供电的感应开关，且感应开关位于离心环的正外侧，所述离心件与感应开关相配合使用。
[0018]通过采用上述结构，通过旋转轴转动时的离心力作用力，使得离心件拉动弹性连接件向外进行移动，随着离心件的外移并使其与感应开关发生接触，进而启动感应开关并将电能传输至电磁铁套上，促使电磁铁套通电产生磁性，并利用该磁性对固定铁套产生吸力，从而将其吸住锁定，使旋转轴停止运行，并同步发出信息提醒相关人员及时对其进行检修，可有效避免设备出现失速情况对芯片的检测测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可自动翻转型芯片测试设备，包括机座（1），其特征在于：所述机座（1）的上侧固定安装有机架（2），所述机架（2）的前侧固定设置有控制机箱（3），所述机架（2）上设置有对芯片进行传输的输送组件（4），所述输送组件（4）上设置有若干个测试座（5），且测试座（5）位于输送组件（4）上成均匀分布，所述测试座（5）上设置有翻转机构（6），所述翻转机构（6）利用旋转轴（61）与夹持部（7）相固定连接，所述夹持部（7）上设置有对芯片进行夹持的夹持组件（8），通过翻转机构（6）对夹持状态下的芯片形成正反面的翻转作业；所述旋转轴（61）所在的外周套设有防护部（9），使旋转轴（61）贯穿防护部（9）的中心轴并转动连接，所述防护部（9）的内部设置有稳定组件（10）和防护座（11）；所述稳定组件（10）包括稳定外套（101）、稳定内套（102）和减震部件（103），所述稳定外套（101）的外侧与防护部（9）的内壁相固定安装，所述稳定内套（102）的内侧与旋转轴（61）的外侧相固定安装，所述稳定外套（101）与稳定内套（102）之间设置有减震部件（103），所述减震部件（103）与稳定内套（102）相固定安装，所述减震部件（103）与稳定外套（101）相滑动安装；所述防护座（11）的内部设置有锁止组件（15），所述锁止组件（15）包括固定铁套（151）和电磁铁套（152），所述固定铁套（151）固定套设在旋转轴（61）的外周，所述电磁铁套（152）的外侧壁与防护座（11）的内壁相互贴合，使旋转轴（61）、固定铁套（151）以及电磁铁套（152）依次套设，通过对所述电磁铁套（152）通电实现对固定铁套（151）以及旋转轴（61）进行锁死；位于所述测试座（5）所在的上部设置有测试机构（19），通过测试机构（19）对芯片正反面进行检测作业。2.根据权利要求1所述的一种可自动翻转型芯片测试设备，其特征在于：所述输送组件（4）包括输送电机（41）、输送辊（42）和输送带（43）；所述输送电机（41）固定设置在机架（2）的外侧，所述输送辊（42）活动设置在机架（2）的内侧，所述输送电机（41）利用输出端与输送辊（42）相固定连接，所述输送辊（42）的外侧设置有对芯片进行测试输送的输送带（43）。3.根据权利要求1所述的一种可自动翻转型芯片测试设备，其特征在于：所述夹持组件（8）包括夹持座（81）、弹性垫（82）、夹持板（83）、定位吸盘（84）和通气阀（85）；所述夹持座（81）一侧固定设置有弹性垫（82），所述弹性垫（82）远离夹持座（81）的一侧固定安装有对芯片进行夹持的夹持板（83），所述夹持座（81）相对着弹性垫（82）的一侧且位于弹性垫（82）之间设置有若干个定位吸盘（84），且定位吸盘（84）成均匀对称分布，所述定位吸盘（84）用于对芯片进行固定定位。4.根据权利要求3所述的一种可自动翻转型芯片测试设备，其特征在于：所述夹持座（81）的内部开设有内空腔，且内空腔与定位吸盘（84）设置成相通，所述夹持座（81）的外侧设置有对定位吸盘（84）进行充放气的通气阀（85），且通气阀（85）与夹持座（8...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶雪峰，代彬，赵鸣，姜豪，王沛，
申请(专利权)人：江苏海纳电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：