一种车用控制芯片老化测试系统技术方案

本发明专利技术涉及芯片技术领域，尤其是一种车用控制芯片老化测试系统，包括：主处理器模块；输入模块；主性能测试模块；输出模块；分区测试模块；分类模块；其中：主性能测试模块、分区测试模块均连接到主处理器模块的输出端；输入模块连接到主性能测试模块的输入端；输出模块连接到主性能测试模块的输出端；分区测试模块连接到主性能测试模块的输出端；分类模块连接到分区测试模块的输出端。本发明专利技术，通过设置主处理器模块、输入模块、主性能测试模块、输出模块、分区测试模块、分类模块，使其具有自动测试、性能测试、老化测试、分区测试、节省资源、分类存放功能。放功能。放功能。

【技术实现步骤摘要】
一种车用控制芯片老化测试系统


[0001]本专利技术涉及芯片
，尤其涉及一种车用控制芯片老化测试系统。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(integratedcircuit)，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分。芯片是一种集成电路，由大量的晶体管构成。不同的芯片有不同的集成规模，大到几亿；小到几十、几百个晶体管。晶体管有两种状态，开和关，用1、0来表示。多个晶体管产生的多个1与0的信号，这些信号被设定成特定的功能(即指令和数据)，来表示或处理字母、数字、颜色和图形等。芯片加电以后，首先产生一个启动指令，来启动芯片，以后就不断接受新指令和数据，来完成功能。汽车电子芯片是用于汽车上的芯片统称车用控制芯片，目前的车用控制芯片在长时间使用或在回收时，需要对其进行老化测试。
[0003]现有技术中的芯片老化测试系统在对芯片进行老化测试时，大多只对芯片的整体性能进行测试，若是芯片的性能下降或无法使用，则会被认定为老化不合格，则会将芯片作废本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种车用控制芯片老化测试系统，其特征在于，包括：主处理器模块；输入模块；主性能测试模块；输出模块；分区测试模块；分类模块；其中：所述主性能测试模块、分区测试模块均连接到主处理器模块的输出端；所述输入模块连接到主性能测试模块的输入端；所述输出模块连接到主性能测试模块的输出端；所述分区测试模块连接到主性能测试模块的输出端；所述分类模块连接到分区测试模块的输出端。2.根据权利要求1所述的一种车用控制芯片老化测试系统，其特征在于，所述主性能测试模块用于对芯片的整体性能进行测试。3.根据权利要求1所述的一种车用控制芯片老化测试系统，其特征在于，所述分区测试模块用于对芯片的各个组成部分进行分别测试。4.根据权利要求1所述的一种车用控制芯片老化测试系统，其特征在于，所述分类模块用于：将同一器件出现老化的多个芯片，存放在同一处。5.根据权利要求1所述的一种车...

【专利技术属性】
技术研发人员：王琦，姜豪，
申请(专利权)人：江苏海纳电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：