套圈漏工自动分检装置制造方法及图纸

技术编号:3864608 阅读:179 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
套圈漏工自动分检装置,属于机械加工检验装置,现有技术存在设备通用性差、检验效率低等缺陷,本发明专利技术的特点是对应料道设置有向控制器发送来件信号的来件感知开关,在料道的上、下两侧分别设置有检验机构和受控于控制器的升降机构,检验机构包括被限位的可上下伸缩的触杆以及与该触杆联动的摆爪,触杆指向升降机构且由位置保持件将其保持在接近升降机构的位置,摆爪上安装向控制器发送检验信号的探头。其探头可以在摆爪上可以调节,因此适于对任何形式、规格的套圈进行检验,设备的通用性好,而且调试也相对现有技术更换专用构件简单,省时省力,由于其完成检验的结构简单,因此检验一件套圈所需要的时间也相对缩短。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于一种机械加工检验装置,具体的说是一种用于检验套圈套圏 (如轴承的内、外圈)漏加工的自动分检装置。
技术介绍
套圈(如轴承的内、外圈以及其它五金类圆型套圈等)的制造加工多是 经过多道工序实现的,以轴承的内、外圏为例, 一般的加工流程是①车沟道 和边角—②车一端密封槽和倒角—③车另一端密封槽和倒角,上述几个操作 是在不同的设备上完成的,由于各设备之间的料道和人为因素的影响,存在漏加工的套圈,因此套圈就必须进行100%全检,增加检验费用;并且由于现 有的检验手段是人工检验,难以杜绝漏检的发生,影响后续作业甚至在后续 作业中造成其它构件的报废,严重时还会发生生产事故。目前市场上出现了替代人工检验的设备,但是这样的设备要么只能选择 性的对某类套圈进行检验,要么就是设备结构复杂,制造和使用成本高,检 验时需要对不同类型或者型号的套圏配置不同专用构件,当更换套圈时,就 需要更换对应的专用构件,因此设备的通用性差,更换专用构件以及调试如 同设备維修一样, 一般需要3-5个小时,费时费力,而且检验效率低,完成 一件套圏的检验一般需要3-5秒。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题和提出的技术任务是克服现有技术存在的设备 通用性差、检验效率低等缺陷,提供一种通用性好、检验效率高的套圈漏工 自动分检装置。为此,本专利技术采用以下技术方案套圈漏工自动分检装置,包括料道和控制器,其特征是 在所述料道的上、下两侧分别设置有检验机构和升降机构,所述的检验 机构包括可上下伸缩的触杆以及与该触杆联动的摆爪,所述的触杆指向所述 的升降机构且由位置保持件将其保持在接近所述升降机构的位置,所述的摆爪上安装向所述控制器发送检验信号的探头,所述的升降机构具有一个承载座;对应所述的料道设有位于所述承载座前侧的来料档门、位于所述承载座 后侧的定位档门、向所述控制器发送来件信号的来件感知开关以及位于所述 定位档门后侧的分拣机构;所述的升降机构、定位档门受控于所述的控制器。本专利技术的有益效果是1、 由控制器控制升降机构、来料档门、定位档门的动作令套圈沿料道逐 个、适时地到达检验机构进行检验,自动化程度高,检验速度快(检验每件 产品需要1.2秒左右),班产量在二万五千只以上。2、 结构简单,调试方便,更换产品调式可在半小时内完成。3、 对产品的定位准确,检验精确。附图说明图1为本专利技术一种结构的立体图。图2为图1所示结构的另一个角度的立体图。图3为图1所示结构的第三个角度的立体图。图4为本专利技术承载座的一种结构示意图。图5为本专利技术检测机构的一种结构示意图。图6为本专利技术料道的一种截面结构示意图。图7为本专利技术的结构原理示意图。图8为图7的左视图。图中1- 料道,ll-支撑板,12-料道壁;2- 来件感知开关;3- 检验机构,31-支架,32-触杆,33-摆爪,34-纟笨头,35-位置保持件, 36-销轴,37-受力臂,38-滑动销,39-长孔,310-横向定位件,311-搁置架, 312-直线轴承;4- 升降机构,41-升降气缸,42-承载座,43-斜面,44-承载槽;5- 来料档门,51-来料气缸;6- 定位档门,61-定位气缸;7- 分拣出口, 8-分拣门,81-分拣气缸;9- 机架,91-底座,92-支杆,93-顶板;10- 套圏。具体实施例方式以下对本专利技术做进一 步的说明。如图1、 2、 3、 7、 8所示,本专利技术的套圏漏工自动分检装置包括料道1 和控制器,其根本构思是在料道1的上、下两侧分别设置有检验机构3和 升降机构4,检验机构3包括可上下伸缩的触杆32以及与该触杆32联动的 摆爪33,触杆32指向升降机构4且由作为位置保持件35的弹簧将其保持在 接近升降机构4的位置,摆爪33上安装向控制器发送检验信号的探头34, 升降机构4具有一个承载座42;对应料道1设有位于^c载座42前侧的来料 档门5、位于承载座42后侧的定位档门6、向控制器发送来件信号的来件感 知开关2以及位于定位档门6后侧的分拣机构;升降机构4、来料档门5、定 位档门6受控于控制器。当套圏在某工序已经完成加工,即可对这些套圈进行逐一检验,因此, 本专利技术的套圈漏工自动分检装置可以用于套圈的任一加工工序之后对该工序 的套圈进行检验。检验时,套圈10沿料道1经过开启的来料档门5滚动至升 降机构4上方并被定位档门6阻挡定位停留在该位置,由来件感知开关2感 知后将来件信号发送给控制器,由控制器控制升降机构4动作,承载座42 升高,托起套圈10并进一步将套圈举起,举起套圏的过程中触动触杆32, 由触杆32联动摆爪33,由摆爪33上的探头34对套圈的加工部位进行检验, 由控制器识别探头34与套圏的接触状态(一般的,未加工完成的,该部位的 材料未经去除,探头与该部位易接触,加工完成的,该部位的材料已经去除, 探头与该部位不易接触)并指令分拣机构动作将完工套圈与漏工套圈进行分 拣。其中,在来件感知开关感知一个套圈到达位置后与套圏返回料道期间 控制器指令来料档门5关闭料道l以免更多的套圏移动来干扰检验,从及时 执行该动作考虑,控制器用来件感知开关感知的信号指令来料档门关闭料道 为佳;控制器指令升降机构4复位以使套圏返回料道,检验机构也在位置保持件35的作用下复位;控制器指令定位档门开启使套圈沿料道向下游移动。 按照上述过程,对一个套圈完成检验后,令来料档门开启料道、定位档门关 闭料道,即可对下一个套圈进行4企验,由此逐一进4亍。据此,可以i殳计适当 的控制程序赋予控制器即可,各个动作构件的协调关系并不局限于此。作为对上述技术方案的进一步完善和补充,本专利技术还包括以下附加的技 术特征,以便在实施本专利技术的根本构思时选用来增加套圏漏工自动分检装置 的性能检验机构3 (参见图5 )包括一个支架31,触杆32导向(具体通过直线 轴承312实现)在该支架31上,摆爪33与触杆32通过摆动机构联动;具体 的,该摆动机构为将摆爪33通过销轴36安装在支架31上,从摆爪33上延 伸出来一个受力臂37,在该受力臂37上安装一个滑动销38,在触杆32上开 设一个长孔39,将长孔39套在滑动销38上(将长孔39与滑动销38的位置 进行互换也是可以的),则触杆32做上下伸縮时,即能够可靠的联动摆爪33 摆动。摆爪33为两个,二者位于料道1的两侧并对称于触杆32,由此可以对 那些具有对称的加工部位的套圈IO进行检验,轴承套圈多是这样的产品。承载座42 (参见图4)由两个相向的斜面43形成字母"V"形的定位承 载槽44,且两个斜面43沿料道1 一前一后布置,由此可以在纵向(即料道 的延伸方向)对套圈定位,便于精确检验;尤其是当两个摆爪33对称位于料 道l的两侧时,使得套圏到达后不需要调整姿态即可直接对其进行检验。料道1 (参见图6 )包括倾斜的支撑板11以及位于该支撑板11上的料道 壁12,倾斜的支撑板11利于对套圈IO进行导向,即套圈IO在料道1内滚 动时,套圈10呈倾倒状,套圈10的一个端面可以贴着一个津+道壁12而实现 定位。在支撑板11上形成料道1的部位开设分拣出口 7,分拣机构包括该分拣 出口 7以及设置在该分拣出口 7处的分拣门8,由此可以通过分拣机构将某 类套圏(如漏工套圈或者完工套圈)分拣出来,余下的即是另本文档来自技高网...

【技术保护点】
套圈漏工自动分检装置,包括料道(1)和控制器,其特征是: 在所述料道(1)的上、下两侧分别设置有检验机构(3)和升降机构(4),所述的检验机构(3)包括可上下伸缩的触杆(32)以及与该触杆(32)联动的摆爪(33),所述的触杆(32) 指向所述的升降机构(4)且由位置保持件(35)将其保持在接近所述升降机构(4)的位置,所述的摆爪(33)上安装向所述控制器发送检验信号的探头(34),所述的升降机构(4)具有一个承载座(42); 对应所述的料道(1)设有位于所述承载座 (42)前侧的来料档门(5)、位于所述承载座(42)后侧的定位档门(6)、向所述控制器发送来件信号的来件感知开关(2)以及位于所述定位档门(6)后侧的分拣机构; 所述的升降机构(4)、来料档门(5)、定位档门(6)受控于所述的控制器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈海江
申请(专利权)人:新昌县海博机械有限公司
类型:发明
国别省市:33[]

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