功放测试系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种功放测试系统，所述功放测试系统包括信号生成单元、阻抗调节单元、检测单元和控制单元。其中，所述阻抗调节单元包括输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路，待测功放设置在所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路之间，所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路分别用于进行输入阻抗调节和输出阻抗调节，所述控制单元用于通过检测单元确定待测功放的状态参数，并根据所述状态参数控制所述输入阻抗调节电路和所述输出阻抗调节电路进行阻抗调节以对所述待测功放进行测试。其中，所述状态参数包括待测功放的增益和效率。通过所述功放测试系统可以提高对于待测功放的测试效率，同时降低测试成本。同时降低测试成本。同时降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
功放测试系统


[0001]本专利技术涉及测试领域，具体涉及一种功放测试系统。

技术介绍

[0002]功放匹配电路的设计需要获取功放管的高效率阻抗点和高功率阻抗点等数据，在现有技术中，这些数据可以通过负载牵引系统进行测试得到。然而，现有负载牵引系统不仅价格过于昂贵，而且其所测试得到的最佳性能阻抗点与功放管在电路板上所实际测试得到的性能往往存在偏差。同时，对于无内部谐波抑制的功放管，现有负载牵引系统还需要单独进行二次谐波控制，这使得负载牵引系统过于复杂。

技术实现思路

[0003]有鉴于此,本专利技术实施例提供了一种功放测试系统，以提高对于待测功放的测试效率，同时降低测试成本。
[0004]第一方面，提供了一种功放测试系统，所述系统包括：
[0005]信号生成单元，用于向待测功放提供测试射频信号；
[0006]阻抗调节单元，包括输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路，其中，所述待测功放设置在所述阻抗调节电路和输出阻抗调节电路之间，所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路分别用于进行输入阻抗调节和输出阻抗调节；
[0007]检测单元，用于检测所述测试射频信号在输入所述输入阻抗调节电路前的输入功率和从所述输出阻抗调节电路输出后的输出功率；以及
[0008]控制单元，用于根据所述输入功率和所述输出功率确定所述待测功放的状态参数，并根据所述状态参数控制所述输入阻抗调节电路和所述输出阻抗调节电路进行阻抗调节以对所述待测功放进行测试,所述状态参数包括所述待测功放的增益和效率。
>[0009]在一些实施例中，所述阻抗调节单元还包括：
[0010]栅极偏置电路，设置在所述输入阻抗调节电路和所述待测功放之间，所述栅极偏置电路用于向所述待测功放提供栅极电压。
[0011]在一些实施例中，所述阻抗调节单元还包括：
[0012]谐波抑制电路，设置在所述待测功放和所述输出阻抗调节电路之间，所述谐波抑制电路用于抑制二次谐波分量。
[0013]在一些实施例中，所述谐波抑制电路还与所述控制单元连接，所述控制单元用于在进行阻抗调节操作后控制所述谐波抑制电路抑制二次谐波分量。
[0014]在一些实施例中，所述阻抗调节单元还包括：
[0015]阻抗变换器，与所述输出阻抗调节电路连接，所述阻抗变换器用于进行实数部分的阻抗调节。
[0016]在一些实施例中，所述阻抗变换器还与所述控制单元连接，所述控制单元用于控制所述阻抗变换器进行实数部分的阻抗调节。
[0017]在一些实施例中，所述输出阻抗调节电路包括变压器。
[0018]在一些实施例中，所述输出阻抗调节电路包括第一可调电感、第一可调电容、第二可调电容和第三可调电容；
[0019]其中，所述第一可调电感和第一可调电容以串联方式连接在所述输出阻抗调节电路的信号输入端和信号输出端之间，所述第二可调电容连接在所述信号输入端与接地端之间，所述第三可调电容连接在所述信号输出端与接地端之间。
[0020]在一些实施例中，所述检测单元包括：
[0021]第一功率计，设置在所述输入阻抗调节电路的信号输出端和所述控制单元之间，用于检测所述测试射频信号的输入功率；
[0022]第二功率计，设置在所述输出阻抗调节电路的信号输出端连接和所述控制单元之间，用于检测所述测试射频信号的输出功率；以及
[0023]频谱仪，设置在所述输出阻抗调节电路的信号输出端连接和所述控制单元之间，用于对所述测试射频信号进行频谱分析。
[0024]在一些实施例中，所述信号生成单元包括：
[0025]信号源，用于生成射频信号；
[0026]推动功率放大器，用于放大所述射频信号以向所述待测功放提供所述测试射频信号。
[0027]本专利技术实施例的功放测试系统包括信号生成单元、阻抗调节单元、检测单元和控制单元。其中，所述阻抗调节单元包括输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路，待测功放设置在所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路之间，所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路分别用于进行输入阻抗调节和输出阻抗调节，所述控制单元用于通过检测单元确定待测功放的状态参数，并根据所述状态参数控制所述输入阻抗调节电路和所述输出阻抗调节电路进行阻抗调节以对所述待测功放进行测试。其中，所述状态参数包括待测功放的增益和效率。通过所述功放测试系统可以提高对于待测功放的测试效率，同时降低测试成本。
附图说明
[0028]通过以下参照附图对本专利技术实施例的描述，本专利技术的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0029]图1为本专利技术实施例的功放测试系统的结构示意图；
[0030]图2为本专利技术实施例的信号生成单元的示意图；
[0031]图3为本专利技术实施例的输入阻抗调节电路的示意图；
[0032]图4为本专利技术实施例的输出阻抗调节电路的示意图；
[0033]图5为本专利技术实施例的另一输出阻抗调节电路的示意图；
[0034]图6为本专利技术实施例的阻抗调节单元的示意图；
[0035]图7为本专利技术实施例的栅极偏置电路的示意图；
[0036]图8为本专利技术实施例的谐波抑制电路的示意图；
[0037]图9为本专利技术实施例的阻抗变换器的示意图；
[0038]图10为本专利技术实施例的功放测试方法的示意图。
具体实施方式
[0039]以下基于实施例对本专利技术进行描述，但是本专利技术并不仅仅限于这些实施例。在下文对本专利技术的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本专利技术。为了避免混淆本专利技术的实质，公知的方法、过程、流程、元件和电路并没有详细叙述。
[0040]此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的附图都是为了说明的目的，并且附图不一定是按比例绘制的。
[0041]同时，应当理解，在以下的描述中，“电路”是指由至少一个元件或子电路通过电气连接或电磁连接构成的导电回路。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件/电路“连接在”两个节点之间时，它可以是直接耦接或连接到另一元件或者可以存在中间元件，元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的、或者其结合。相反，当称元件“直接耦接到”或“直接连接到”另一元件时，意味着两者不存在中间元件。
[0042]除非上下文明确要求，否则整个申请文件中的“包括”、“包含”等类似词语应当解释为包含的含义而不是排他或穷举的含义；也就是说，是“包括但不限于”的含义。
[0043]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0044]图1为本专利技术实施例的功放测试系统的结构示意图。如图1所示，所述功放测试系统包括信号生成单元11、阻抗调节单元、检测单元13和控制单元14。进一步地，所述阻抗调节单元中包括输入阻抗调节电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功放测试系统，其特征在于，所述系统包括：信号生成单元，用于向待测功放提供测试射频信号；阻抗调节单元，包括输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路，其中，所述待测功放设置在所述阻抗调节电路和输出阻抗调节电路之间，所述输入阻抗调节电路和输出阻抗调节电路分别用于进行输入阻抗调节和输出阻抗调节；检测单元，用于检测所述测试射频信号在输入所述输入阻抗调节电路前的输入功率和从所述输出阻抗调节电路输出后的输出功率；以及控制单元，用于根据所述输入功率和所述输出功率确定所述待测功放的状态参数，并根据所述状态参数控制所述输入阻抗调节电路和所述输出阻抗调节电路进行阻抗调节以对所述待测功放进行测试,所述状态参数包括所述待测功放的增益和效率。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述阻抗调节单元还包括：栅极偏置电路，设置在所述输入阻抗调节电路和所述待测功放之间，所述栅极偏置电路用于向所述待测功放提供栅极电压。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述阻抗调节单元还包括：谐波抑制电路，设置在所述待测功放和所述输出阻抗调节电路之间，所述谐波抑制电路用于抑制二次谐波分量。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述谐波抑制电路还与所述控制单元连接，所述控制单元用于在进行阻抗调节操作后控制所述谐波抑制电路抑制二次谐波分量。5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述阻抗调节单元还包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：万腾，李竞波，刘垠，
申请(专利权)人：四川恒湾科技有限公司，
类型：发明
国别省市：