一种随机存储器及其替换匹配电路制造技术

本申请公开了一种随机存储器及其替换匹配电路，该替换匹配电路包括锁存电路和逻辑门电路，锁存电路包括地址锁存模块和使能锁存模块，地址锁存模块用来锁存被替换电路的地址信息，第一逻辑门模块连接地址锁存模块，并接收输入地址信息，以确定输入地址信息与地址锁存模块中锁存的地址信息是否一致；第二逻辑门模块连接地址锁存模块中的一个地址锁存单元，以使连接第二逻辑门模块的地址锁存单元作为辅助使能锁存单元，配合使能锁存模块锁存的第一使能信息，从而使第二逻辑门模块产生对应的第二使能信息，通过上述方式，提高了随机存储器的可靠性。的可靠性。的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种随机存储器及其替换匹配电路


[0001]本申请涉及存储
，特别涉及一种随机存储器及其替换匹配电路。

技术介绍

[0002]存储器的存储阵列包括多条字线(WL，word line)、多条位线(BL，bit line)和多个存储单元，每个存储单元分别连接一条字线WL和一条位线BL。
[0003]在随机存储器的测试阶段，如果检测到随机存储器存在一损坏区域，会用一替换区域作为代替，并设置一替换匹配电路。替换匹配电路用于存储损坏区域的地址，并将输入地址与存储的地址匹配，匹配成功则激活替换区域。但是，替换区域也有可能损坏，替换区域损坏时，也会影响随机存储器的可靠性。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本申请提供一种随机存储器及其替换匹配电路，能够提高随机存储器的可靠性。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种随机存储器的替换匹配电路，该替换匹配电路包括：锁存电路，用于接收并锁存烧录信息，其中，烧录信息包括被替换电路的地址信息和第一使能信息，锁存电路包括地址锁存模块和使能锁存模块，地址锁存模块包括多个地址锁存单元，以用来锁存被替换电路的地址信息；逻辑门电路，包括第一逻辑门模块和第二逻辑门模块，其中，第一逻辑门模块连接地址锁存模块，并接收输入地址信息，以确定输入地址信息与地址锁存模块中锁存的地址信息是否一致；第二逻辑门模块连接使能锁存模块和地址锁存模块中的一个地址锁存单元，以使连接第二逻辑门模块的地址锁存单元作为辅助使能锁存单元，配合使能锁存模块锁存的第一使能信息，从而使第二逻辑门模块产生对应的第二使能信息。
[0006]其中，在使用替换匹配电路替换被替换电路时，作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息，和使能锁存模块锁存的第一使能信息之一为逻辑高电平，以使第二逻辑门模块产生的第二使能信息为使能状态；而作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息，和使能锁存模块锁存的第一使能信息之另一为逻辑低电平，以使其具有烧录使能更改能力，在替换匹配电路损坏时，锁存逻辑低电平的作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元或使能锁存模块中的锁存信息可被烧录更改为逻辑高电平，从而使第二逻辑门模块产生的第二使能信息可更改为非使能状态。
[0007]其中，在使用替换匹配电路替换被替换电路时，当作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息为逻辑低电平，则使能锁存模块烧录的第一使能信息为逻辑高电平；当作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息为逻辑高电平，则使能锁存模块烧录的第一使能信息为逻辑低电平。
[0008]其中，第二逻辑门模块为异或逻辑门，连接使能锁存模块和作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元，以对作为辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息，和使
能锁存模块锁存的第一使能信息，执行异或运算，从而产生第二使能信息。
[0009]其中，第一逻辑门模块包括多个第一逻辑门单元，每个第一逻辑门单元连接一个对应的地址锁存单元，并接收输入地址信息中的一位对应的输入地址位信息，以判断输入地址位信息与地址锁存单元锁存的地址位信息是否一致。
[0010]其中，每个第一逻辑门单元分别为同或逻辑门。
[0011]其中，进一步包括：判断电路，连接第一逻辑门模块和第二逻辑门模块，以在第一逻辑门模块确定输入地址信息与地址锁存模块中锁存的地址信息一致，且第二逻辑门模块产生的第二使能信息为使能状态时，发出工作使能信号至替换电路，以使替换电路替换被替换电路进行工作。
[0012]其中，被替换电路包括损坏的字线、位线或者存储单元。
[0013]其中，地址锁存模块包括n个地址锁存单元，以用来锁存被替换电路的n位的地址信息；接收的输入地址信息为n位的输入地址信息。
[0014]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种随机存储器，该随机存储器包括如上的替换匹配电路。
[0015]本申请的有益效果在于，本申请提供的随机存储器的替换匹配电路包括锁存电路和逻辑门电路，锁存电路包括地址锁存模块和使能锁存模块，地址锁存模块用来锁存被替换电路的地址信息，第一逻辑门模块连接地址锁存模块，并接收输入地址信息，以确定输入地址信息与地址锁存模块中锁存的地址信息是否一致；第二逻辑门模块连接地址锁存模块中的一个地址锁存单元，以使连接第二逻辑门模块的地址锁存单元作为辅助使能锁存单元，配合使能锁存模块锁存的第一使能信息，从而使第二逻辑门模块产生对应的第二使能信息，通过上述方式，利用原有的地址锁存单元中的一个与使能锁存模块共同来确定使能信号，一方面可以在替换电路正常时，利用替换电路来代替损坏区域的电路，也可以在替换电路损坏时，对损坏电路进行标记，使损坏的替换电路不可用，提高了存储器的可靠性；另一方面不增加地址信号的位数、锁存单元的数量，即不会增加电路的复杂度。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0017]图1是本申请提供的随机存储器一实施例的结构示意图；
[0018]图2是冗余字线/位线的示意图；
[0019]图3是本申请提供的替换匹配电路一实施例的结构示意图；
[0020]图4是本申请提供的替换匹配电路另一实施例的结构示意图；
[0021]图5是本申请随机存储器的测试方法一实施例的流程示意图；
[0022]图6是本申请随机存储器的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0023]图7是本申请提供的替换匹配电路再一实施例的电路示意图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0026]参阅图1，图1是本申请提供的随机存储器一实施例的结构示意图，该随机存储器100可以是动态随机存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)，也可以是静态随机存储器(Static Random Access Memory，SRAM)。其中，该随机存储器100包括控制器、接口电路、行解本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种随机存储器的替换匹配电路，其特征在于，包括：锁存电路，用于接收并锁存烧录信息，其中，所述烧录信息包括被替换电路的地址信息和第一使能信息，所述锁存电路包括地址锁存模块和使能锁存模块，所述地址锁存模块包括多个地址锁存单元，以用来锁存所述被替换电路的地址信息；逻辑门电路，包括第一逻辑门模块和第二逻辑门模块，其中，所述第一逻辑门模块连接所述地址锁存模块，并接收输入地址信息，以确定所述输入地址信息与所述地址锁存模块中锁存的地址信息是否一致；所述第二逻辑门模块连接所述使能锁存模块和所述地址锁存模块中的一个地址锁存单元，以使连接所述第二逻辑门模块的所述地址锁存单元作为辅助使能锁存单元，配合所述使能锁存模块锁存的第一使能信息，从而使所述第二逻辑门模块产生对应的第二使能信息。2.根据权利要求1所述的替换匹配电路，其特征在于，在使用所述替换匹配电路替换被替换电路时，作为所述辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息，和所述使能锁存模块锁存的所述第一使能信息之一为逻辑高电平，以使所述第二逻辑门模块产生的所述第二使能信息为使能状态；而作为所述辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息，和所述使能锁存模块锁存的所述第一使能信息之另一为逻辑低电平，以使其具有烧录使能更改能力，在所述替换匹配电路损坏时，锁存逻辑低电平的作为所述辅助使能锁存单元的地址锁存单元或所述使能锁存模块中的锁存信息可被烧录更改为逻辑高电平，从而使所述第二逻辑门模块产生的所述第二使能信息可更改为非使能状态。3.根据权利要求2所述的替换匹配电路，其特征在于，在使用所述替换匹配电路替换被替换电路时，当作为所述辅助使能锁存单元的地址锁存单元锁存的地址位信息为逻辑低电平，则所述使能锁存模块烧录的所述第一使能信息为逻辑高电平；当作...

【专利技术属性】
技术研发人员：白瑞杰，李瑞天，
申请(专利权)人：西安格易安创集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：