【技术实现步骤摘要】
电容阵列的控制方法、电容阵列及逐次逼近型模数转换器
[0001]本申请涉及模拟数字转换
,具体涉及一种电容阵列的控制方法、电容阵列及逐次逼近型模数转换器。
技术介绍
[0002]模数转换器(Analog to Digital Converter,ADC)是能够将连续变化的模拟信号转换为离散的数字信号的器件。真实世界的模拟信号如温度、压力、声音或者图像等,通常需要转换成数字信号形式以便于储存、处理和发射。ADC按工作原理可以分为直接ADC和间接ADC,其中,逐次逼近型模数转换器(Successive Approximation Register ADC,SAR
‑
ADC)又称为二进制搜索ADC是一种直接ADC,凭借着其较低的功耗以及较小的芯片面积,占据着大部分中高分辨率和中高转换速率的ADC市场。
[0003]SAR
‑
ADC主要包括采样保持电路、比较器、数字模拟转换器(Digital to Analog Converter,DAC)电路、SAR逻辑控制电路以及时钟和时序控制电路,其中,采样保持电路由采样开关和采样电容构成(通常采样电容由DAC电路的DAC电容阵列实现),用于将输入模拟信号采样到采样电容上;比较器用来比较输入信号与参考信号的大小,输出“0”或“1”一方面用于控制DAC电容阵列的切换,另一方面存入寄存器等待得到N位数字码后同时输出;DAC电路是一组二进制权重的电容阵列,由比较器输出控制切换电容上/下极板上的电压,使参考信号以二进制的方式逐次逼近输入信号,此 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容阵列的控制方法,其特征在于,所述电容阵列应用于逐次逼近型模数转换器,所述电容阵列包括与比较器的正端连接的正端电容阵列以及与所述比较器的负端连接的负端电容阵列,所述方法包括:在待转换模拟信号采样阶段,控制所述正端电容阵列中的每一正端电容的下极板接收第一参考电平信号,以及所述负端电容阵列中的每一负端电容的下极板接地;所述第一参考电平信号的幅值小于所述逐次逼近型模数转换器的量化量程最大值;所述待转换模拟信号采样结束后,控制所述负端电容的下极板由接地切换为接收所述第一参考电平信号。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在对所述待转换模拟信号进行模数转换时,根据所述比较器的正端和负端之间的电平关系控制目标正端电容的下极板或目标负端电容的下极板由接收所述第一参考电平信号切换为接收第二参考电平信号;所述目标正端电容为所述正端电容阵列中排列位数与所述比较器的当前输出结果的数据位相对应的正端电容,所述目标负端电容为所述负端电容阵列中排列位数与所述当前输出结果的数据位相对应的负端电容,所述第二参考电平信号的幅值为所述逐次逼近型模数转换器的量化量程最大值。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述比较器的正端和负端之间的电平关系控制目标正端电容的下极板或目标负端电容的下极板由接收所述第一参考电平信号切换为接收第二参考电平信号,包括:若所述比较器的正端电平大于所述比较器的负端电平,则控制所述目标负端电容的下极板由接收所述第一参考电平信号切换为接收所述第二参考电平信号;若所述比较器的正端电平小于所述比较器的负端电平,则控制所述目标正端电容的下极板由接收所述第一参考电平信号切换为接收所述第二参考电平信号。4.一种电容阵列,其特征在于,所述电容阵列应用于逐次逼近型模数转换器,所述电容阵列包括与比较器的正端连接的正端电容阵列以及与所述比较器的负端连接的负端电容阵列;在待转换模拟信号采样阶段,所述正端电容阵列中的每一正端电容的下极板均与第一输入端之间电性导通,所述负端电容阵列中的每一负端电容的下极板均与接地端之间电性导通;所述第一输入端为第一参考电平信号的输入端,所述第一参考电平信号的幅值小于所述逐次逼近型模数转换器的量化量程最大值;所述待转换模拟信号采样结束后,所述负端电容的下极板由与所述接地端之间电性导通切换为与所述第一输入端之间电性导通。5.根据权利要求4所述的电容阵列,其特征在于,所述正端电容阵列中的每一正端电容的下极板分别连接有第一选择开关,所述负端电容阵列中的每一负端电容的下...
【专利技术属性】
技术研发人员:王丰俊,蔡冲,
申请(专利权)人:武汉市聚芯微电子有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。