一种光谱摄像头模组的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光谱摄像头模组的测试方法及系统，包括搭建测试光源装置并初始化测试光源、获取第一图像并基于第一图像对光谱摄像头模组的光学中心进行测试、基于第一图像对光谱摄像头模组的匀光性能进行测试、获取第二图像并基于第二图像对光谱摄像头模组的光效性能进行测试、获取第三图像并基于第三图像对光谱摄像头模组的混光性能进行测试；与现有技术相比，本发明专利技术能够对光谱摄像头模组的各项光学性能进行一站式的测试，从而节约测试时间，提高测试效率及出货效率，且测试精度较高。且测试精度较高。且测试精度较高。

【技术实现步骤摘要】
一种光谱摄像头模组的测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及摄像头模组性能测试
，特别是涉及一种光谱摄像头模组的测试方法及系统。

技术介绍

[0002]视觉技术通过模拟人眼甚至超越人眼来感受世界万物，普通摄像头模组主要是模拟人眼所看到的波长范围在380～780nm之间的可见光，人眼所能看见的所有光谱和颜色均是由红色、绿色、蓝色这三原色组合而来的。而随着人工智能的到来，人眼所看到的信息已远远无法满足人类所需要的信息以及对事物的分析，由此，可以通过光谱成像来提取人眼无法捕获的其他信息，如提取红外、紫外等不可见光波段，将其应用在健康管理、色温管理、增强现实、活体认证、障碍物检测、水质环境监测、土壤污染监测、血氧监测、物质检测等场景。因此，模组厂对光谱摄像头模组的检测显得尤为重要，其中一般涉及到光效、光斑大小、偏心、匀光、混光、滤光片测试。
[0003]但现有的测试装置通常智能进行单一性能的测试，使得光谱摄像头模组在完成一个性能测试后需要转移到另一测试装置中进行其他性能的测试，如此一来，一是光谱摄像头模组在转移过程中需要反复的从测试装置上拆下及安装，进而浪费大量时间在光谱摄像头模组的拆装上，从而测试效率较低，影响出货效率；二是光谱摄像头模组在转移至另一测试装置中是，需对应重新设置拍摄参数，如此进一步降低的测试效率并且还可能导致不同的测试装置之间的测试参数之间存在误差，从而导致测试精度降低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种光谱摄像头模组的测试方法及系统，以解决现有技术中测试项目单一、测试效率慢以及测试精度低的问题。
[0005]为达到上述目的，本专利技术的一技术方案提供一种光谱摄像头模组的测试方法，包括以下步骤：
[0006]S1：搭建测试光源装置并初始化测试光源；
[0007]S2：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第一图像并基于所述第一图像对光谱摄像头模组的光学中心进行测试；
[0008]S3：基于所述第一图像对所述光谱摄像头模组的匀光性能进行测试；
[0009]S4：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第二图像并基于所述第二图像对光谱摄像头模组的光效性能进行测试；
[0010]S5：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第三图像并基于所述第三图像对光谱摄像头模组的混光性能进行测试。
[0011]进一步的，在步骤S1中，所述测试光源至少包括通用光源和有色光源。
[0012]进一步的，所述步骤S2包括以下子步骤：
[0013]S201：根据设定的第一拍摄参数获取光谱摄像头模组在通用光源和/或有色光源
下的第一图像；
[0014]S202：对所述第一图像进行预处理，得到所述第一图像的第一灰度图；
[0015]S203：基于所述第一灰度图计算第一灰度图中的光斑中心坐标及光斑大小；
[0016]S204：根据所述光斑中心坐标及光斑大小对所述光谱摄像头模组的光学中心进行测试。
[0017]进一步的，在步骤S202中，对第一图像进行预处理的具体方法为：
[0018]提取第一图像的第一原始raw图，将所述第一原始raw图转换成bmp图像并对所述bmp图像进行灰度处理得到第一图像的第一灰度图；所述第一灰度图表示为：
[0019]gray[i*j]＝B*bmp[i*j]+G*bmp[(i+1)*j]+R*bmp[(i+2)*j]；
[0020]其中，gray[i*j]为第一灰度图，bmp[i*j]为bmp图像，i,j为图像的像素行和像素列，i＝1,2,...,w
‑
1，j＝1,2,...,h
‑
1，w,h分别为图像的宽和高，B,G,R分别为像素的三个颜色分量。
[0021]进一步的，在步骤S203中，计算第一灰度图中的光斑中心坐标及光斑大小的具体方法为：
[0022]S2031：确定第一灰度图中光斑边缘的灰度值的梯度变化值；
[0023]S2032：确定光斑边缘的感兴趣边界点，并根据所述图像的宽和高以及梯度变化值分别计算各感兴趣边界点的位置坐标；
[0024]S2033：根据所述感兴趣边界点的位置坐标分别计算光斑中心坐标和光斑大小；其中，所述光斑中心坐标表示为：
[0025][0026]其中：(x
S
,y
S
)为光斑中心坐标，x
S
,y
S
分别为光斑中心坐标的横坐标和纵坐标，(x
lu
,y
lu
),(x
rd
,y
rd
),(x
ld
,y
ld
),(x
ru
,y
ru
)分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的位置坐标，x
lu
,x
rd
,x
ld
,x
ru
分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的横坐标，y
lu
,y
rd
,y
ld
,y
ru
分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的纵坐标；
[0027]所述光斑大小表示为：
[0028][0029]其中：D
spot
为光斑大小，x
Δ
为x
lu
,x
rd
,x
ld
,x
ru
，y
Δ
为y
lu
,y
rd
,y
ld
,y
ru
。
[0030]进一步的，所述步骤S3包括以下子步骤：
[0031]S301：根据所述光斑中心坐标及光斑大小确定光谱摄像头模组的第一感兴趣区域；
[0032]S302：利用相对标准偏差分别统计第一感兴趣区域的横向标准偏差系数和纵向标准偏差系数；
[0033]所述横向标准偏差系数和纵向标准偏差系数分别表示为：
[0034][0035][0036]其中：RSD
x
为横向标准偏差系数，RSD
y
为纵向标准偏差系数，gray[i'*j']为第一感兴趣区域的第二灰度图，i',j'分别为第一感兴趣区域的像素行和像素列，i'＝1,2,...,w
‑
1，j'＝1,2,...,h
‑
1，w,h分别为图像的宽和高，n,m分别为第一感兴趣区域的像素行和像素列i',j'中像素的数量；
[0037]S303：根据所述横向标准偏差系数和纵向标准偏差系数对光谱摄像头模组的匀光性能进行测试。
[0038]进一步的，所述步骤S4包括以下子步骤：
[0039]S401：根据设定的第二拍摄参数获取光谱摄像头模组在通用光源和/或有色光源下的第二图像并提取所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱摄像头模组的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：搭建测试光源装置并初始化测试光源；S2：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第一图像并基于所述第一图像对光谱摄像头模组的光学中心进行测试；S3：基于所述第一图像对所述光谱摄像头模组的匀光性能进行测试；S4：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第二图像并基于所述第二图像对光谱摄像头模组的光效性能进行测试；S5：获取光谱摄像头模组在测试光源下的第三图像并基于所述第三图像对光谱摄像头模组的混光性能进行测试。2.根据权利要求1所述的光谱摄像头模组的测试方法，其特征在于，在步骤S1中，所述测试光源至少包括通用光源和有色光源。3.根据权利要求2所述的光谱摄像头模组的测试方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下子步骤：S201：根据设定的第一拍摄参数获取光谱摄像头模组在通用光源和/或有色光源下的第一图像；S202：对所述第一图像进行预处理，得到所述第一图像的第一灰度图；S203：基于所述第一灰度图计算第一灰度图中的光斑中心坐标及光斑大小；S204：根据所述光斑中心坐标及光斑大小对所述光谱摄像头模组的光学中心进行测试。4.根据权利要求3所述的光谱摄像头模组的测试方法，其特征在于，在步骤S202中，对第一图像进行预处理的具体方法为：提取第一图像的第一原始raw图，将所述第一原始raw图转换成bmp图像并对所述bmp图像进行灰度处理得到第一图像的第一灰度图；所述第一灰度图表示为：gray[i*j]＝B*bmp[i*j]+G*bmp[(i+1)*j]+R*bmp[(i+2)*j]；其中，gray[i*j]为第一灰度图，bmp[i*j]为bmp图像，i,j为第一图像的像素行和像素列，i＝1,2,...,w
‑
1，j＝1,2,...,h
‑
1，w,h分别为图像的宽和高，B,G,R分别为像素的三个颜色分量。5.根据权利要求4所述的光谱摄像头模组的测试方法，其特征在于，在步骤S203中，计算第一灰度图中的光斑中心坐标及光斑大小的具体方法为：S2031：确定第一灰度图中光斑边缘的灰度值的梯度变化值；S2032：确定光斑边缘的感兴趣边界点，并根据所述图像的宽和高以及梯度变化值分别计算各感兴趣边界点的位置坐标；S2033：根据所述感兴趣边界点的位置坐标分别计算光斑中心坐标和光斑大小；其中，所述光斑中心坐标表示为：其中：(x
S
,y
S
)为光斑中心坐标，x
S
,y
S
分别为光斑中心坐标的横坐标和纵坐标，(x
lu
,
y
lu
),(x
rd
,y
rd
),(x
ld
,y
ld
),(x
ru
,y
ru
)分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的位置坐标，x
lu
,x
rd
,x
ld
,x
ru
分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的横坐标，y
lu
,y
rd
,y
ld
,y
ru
分别为光斑边缘左上、右下、左下和右上方向的感兴趣边界点的纵坐标；所述光斑大小表示为：其中：D
spot
为光斑大小，x
Δ
为x
lu
,x
rd
,x
ld
,x
ru
，y
Δ
为y
lu
,y
rd
,y
ld
...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡露，刘春，冷煌军，宋凯静，张伟，
申请(专利权)人：盛泰光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：