深度距离校正方法以及镜头畸变校正与深度误差检测方法技术

本发明专利技术公开了一种深度距离校正方法以及镜头畸变校正与深度误差检测方法，深度距离校正方法包括：待测深度相机通过校正设备获取原始图像；计算原始图像中各像素的相位角；在频域上对相位角进行优化得到优化相位角；将优化相位角转化为对应的优化深度距离；对优化深度距离进行校正，得到校正深度距离。本发明专利技术中，在频域上对相位角进行优化后再转化为深度距离进行校正，可以对测试过程中的散射现象进行优化，校正精度更高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于相机校正领域，特别是涉及一种深度距离校正方法以及镜头畸变校正与深度误差检测方法。

技术介绍

1、深度相机的tof(time of flight，飞行时间技术)模组利用时间差计算深度距离,原理为传感器发出经调制的近红外光，通过计算光线发射和反射时间差来换算被拍摄景物的距离，以产生深度信息，计算时间差的方式为电容储存的时间差,因电容本身为物理元件,不同电容的参数会存在一定的差别，因此需要对此进行校正。

技术实现思路

1、针对上述现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种深度距离校正方法以及镜头畸变校正与深度误差检测方法。

2、为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：

3、一种深度距离校正方法，包括以下步骤：

4、s100、使待测深度相机获取原始图像；

5、s200、计算原始图像中各像素的相位角θd；

6、s300、在频域上对相位角θd进行优化，得到优化相位角θd'；

7、s400、将优化相位角θd'转化为对本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种深度距离校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的深度距离校正方法，其特征在于：所述待测深度相机具有iToF模组，所述iToF模组具有光发射端和光接收端；

3.如权利要求2所述的深度距离校正方法，其特征在于：所述输入光耦合器和输出光耦合器采用偏振、光柵衍射或全像的耦合方式；所述光源发射的光信号进入光波导的入射角满足斯涅尔定律。

4.如权利要求2所述的深度距离校正方法，其特征在于：在所述S100步骤中，所述iToF模组在获取原始图像时采用四相位延迟的深度距离计算方法进行四次测量，每次测量时光源发射光脉冲的相位改变90度，每个像素...

【技术特征摘要】

1.一种深度距离校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的深度距离校正方法，其特征在于：所述待测深度相机具有itof模组，所述itof模组具有光发射端和光接收端；

3.如权利要求2所述的深度距离校正方法，其特征在于：所述输入光耦合器和输出光耦合器采用偏振、光柵衍射或全像的耦合方式；所述光源发射的光信号进入光波导的入射角满足斯涅尔定律。

4.如权利要求2所述的深度距离校正方法，其特征在于：在所述s100步骤中，所述itof模组在获取原始图像时采用四相位延迟的深度距离计算方法进行四次测量，每次测量时光源发射光脉冲的相位改变90度，每个像素分别得到四次测量的结果c0、c90、c180、c270；其中，c0表示第一次测量的结果，c90表示第二次测量的结果，c180表示第三次测量的结果，c270表示第四次测量的结果；

5.如权利要求2所述的深...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴峻豪，林宽德，林昌盛，
申请(专利权)人：盛泰光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：