【技术实现步骤摘要】
抗电浆腐蚀薄膜结构与其制造方法
[0001]一种薄膜结构,特别是一种抗电浆腐蚀薄膜结构。
技术介绍
[0002]在半导体产业中,电浆广泛应用于各式半导体制程设备中,然而随着制程能力的进步,对于腔体部件表面处理要求越来越严格,目前设备腔体大部分为铝制腔体,但铝抗电浆侵蚀能力不佳,因此业界大多是对设备与电浆接触的部位进行表面微结构处理,使其具备抗电浆腐蚀的特性。
[0003]而目前常用的表面微结构处理是电浆喷涂,是以氧化钇(Y2O3)或钇铝石榴石(Yttrium aluminum garnet,YAG)等材料进行表面处理,其抗电浆腐蚀性优于铝。但因该喷涂材料表面具有多孔隙特性,不利于半导体制程。电浆化学气相沉积(Plasma
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enhanced chemical vapor deposition,PECVD)、原子层沉积(Atomic layer deposition,ALD)或物理气相沉积(Physical vapor deposition,PVD)虽可产生无孔隙的薄膜,但其沉积速度慢并且成本昂贵,要 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种抗电浆腐蚀薄膜结构,包括:一基材;一第一抗腐蚀层,设置于该基材上,并与该基材接触;一第二抗腐蚀层,设置于该第一抗腐蚀层上;及一第三抗腐蚀层,设置于该第二抗腐蚀层上;其中,该第一抗腐蚀层与该第三抗腐蚀层是经由气相沉积方法形成;其中,该第二抗腐蚀层是经由电浆喷涂形成。2.如权利要求1所述的抗电浆腐蚀薄膜结构,其特征在于,气相沉积方法为电浆化学气相沉积(PECVD)、原子层沉积(ALD)或物理气相沉积(PVD)。3.如权利要求1所述的抗电浆腐蚀薄膜结构,其特征在于,该第一抗腐蚀层与该第三抗腐蚀层的厚度为5~20μm;该第二抗腐蚀层的厚度为100~250μm。4.如权利要求1所述的抗电浆腐蚀薄膜结构,其特征在于,该第二抗腐蚀层与该第一抗腐蚀层的厚度比介于5~50之间;该第二抗腐蚀层与该第三抗腐蚀层的厚度比介于5~50之间。5.如权利要求1所述的抗电浆腐蚀薄膜结构,其特征在于,该第一抗腐蚀层、该第二抗腐蚀层与该第三抗腐蚀层的材料包括氧化钇(Y2O3)、氟氧化钇(YOF)或钇铝石榴石(Yttrium aluminum garnet,YAG)。6.一种抗电浆腐蚀薄膜结构制造方法,包括:S10:提供一基材;S20:在该基材上以气相沉积方法形成第一抗腐蚀层;...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴宗丰,李文亮,林佳德,蔡宇砚,苏修贤,邱国扬,陈柏翰,
申请(专利权)人:翔名科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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