一种芯片设计检测台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片设计检测台，包括底座，所述底座顶部固定连接有缓冲伸缩杆，所述缓冲伸缩杆顶部固定连接有检测台，所述底座的顶部和检测台的底部均对称固定连接有第一转动块，底座顶部所述的第一转动块一侧转动连接有第一连杆，所述第一连杆顶部一侧转动连接有第二连杆，所述第一连杆和第二连杆连接的一侧设置有横杆，挤压弹簧的特性可以起到一定的缓冲减震的作用，在检测台的下压过程中同时带动第三连杆向外侧进行转动，此时第三连杆将带动活塞位于箱体的内侧进行滑动，在箱体的内部设置有气压和弹簧，可以在活塞的活塞运动中，从而提高减震缓冲的效果，进一步避免了在检测过程中的芯片遭受外力的损坏。检测过程中的芯片遭受外力的损坏。检测过程中的芯片遭受外力的损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片设计检测台


[0001]本技术属于芯片检测
，具体涉及一种芯片设计检测台。

技术介绍

[0002]芯片是一种半导体元件产品的统称，芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，而芯片在批量生产投入市场之前需要进行抽检，主要是对芯片内回路进行电流检测，通过专业的检测设备能够清晰的检测出芯片内电流回路是否断开或者短路，从而保证投入市场中的芯片处于最佳状态。
[0003]现有的芯片设计检测台在对芯片检测时，往往不方便进行减震，使得检测台在检测过程中可能因外力的影响而发生震动，从而对芯片造成损坏，以增加生产成本。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种芯片设计检测台，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的芯片设计检测台在对芯片检测时，往往不方便进行减震，使得检测台在检测过程中可能因外力的影响而发生震动，从而对芯片造成损坏，以增加生产成本的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片设计检测台，包括底座，所述底座顶部固定连接有缓冲伸缩杆，所述缓冲伸缩杆顶部固定连接有检测台，所述底座的顶部和检测台的底部均对称固定连接有第一转动块，底座顶部所述的第一转动块一侧转动连接有第一连杆，所述第一连杆顶部一侧转动连接有第二连杆，所述第一连杆和第二连杆连接的一侧设置有横杆，所述横杆一侧对称固定连接有挤压弹簧，所述检测台底部四角处均固定连接有第二转动块，所述第二转动块内侧的下端转动连接有第三连杆，所述第三连杆一侧设置有活塞，所述活塞外侧滑动连接有于箱体的内侧，所述检测台内部设置有滑槽，所述检测台一侧设置有第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有双向螺杆，所述双向螺杆外侧的两端对称螺纹连接有移动块，所述移动块顶部固定连接有支撑块，所述支撑块一侧设置有转动夹持机构。
[0006]优选的，所述缓冲伸缩杆对称设置有四个。
[0007]优选的，所述缓冲伸缩杆外侧设置有缓冲弹簧。
[0008]优选的，所述活塞通过转杆与第三连杆转动连接。
[0009]优选的，所述活塞和箱体之间均固定连接有弹簧。
[0010]优选的，所述箱体通过螺栓与底座固定连接，所述第一电机通过螺栓与检测台固定连接。
[0011]优选的，所述双向螺杆与检测台之间均固定连接有轴承固定座。
[0012]优选的，所述转动夹持机构包括第二电机，所述第二电机的输出端固定连接有自
动伸缩杆，所述自动伸缩杆一侧固定连接有夹持机构。
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种芯片设计检测台，具备以下有益效果：
[0014]1、本技术通过设置缓冲伸缩杆、缓冲弹簧、连杆、挤压弹簧、第二连杆、活塞和箱体，可以有效的对检测过程中的芯片进行减震，进而避免因外在碰撞导致芯片损坏，在进行芯片检测时，将芯片放置于检测台上的夹持机构中进行夹持，当受到外力的影响导致检测台带动芯片进行震动时，设置的缓冲伸缩杆受到外力进行收缩，在缓冲伸缩杆的外侧设置的缓冲弹簧可以减缓震动量，同时第一连杆和第二连杆带动横杆对挤压弹簧两端的方向进行相对挤压，由于挤压弹簧的特性可以起到一定的缓冲减震的作用，在检测台的下压过程中同时带动第三连杆向外侧进行转动，此时第三连杆将带动活塞位于箱体的内侧进行滑动，在箱体的内部设置有气压和弹簧，可以在活塞的活塞运动中，从而提高减震缓冲的效果，进一步避免了在检测过程中的芯片遭受外力的损坏；
[0015]2、本技术通过设置第一电机、双向螺杆、移动块、第二电机、自动伸缩杆和活塞，可以根据不同芯片的大小进行调节，同时可以检测芯片的正反两面，以提高检测效果，使用时，通过驱动第一电机使得双向螺杆发生旋转，此时双向螺杆外侧两端螺纹连接的移动块位于滑槽的内部进行相对运动，支撑块将带动自动伸缩杆和夹持机构对不同大小的芯片进行夹持，当需要检测芯片的正反两面时，只需通过驱动第二电机使得自动伸缩杆和夹持机构发生旋转，便可完成不同面的检测，从而有效的提高工作效率。
[0016]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术结构科学合理，使用安全方便，为人们提供了很大的帮助。
附图说明
[0017]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制，在附图中：
[0018]图1为本技术提出的一种芯片设计检测台一侧的轴测结构示意图；
[0019]图2为本技术提出的一种芯片设计检测台的正面结构示意图；
[0020]图3为本技术提出的一种芯片设计检测台的俯视结构示意图；
[0021]图4为本技术提出的一种芯片设计检测台的螺杆结构示意图；
[0022]图中：底座1、缓冲伸缩杆2、缓冲弹簧3、检测台4、移动块5、第一转动块6、第一连杆7、第二连杆8、横杆9、挤压弹簧10、第二转动块11、第三连杆12、活塞13、弹簧14、箱体15、转杆16、滑槽17、第一电机18、双向螺杆19、支撑块20、第二电机21、自动伸缩杆22、夹持机构23。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1
‑
4，本技术提供一种技术方案：一种芯片设计检测台，包括底座1，底座1顶部固定连接有缓冲伸缩杆2，缓冲伸缩杆2顶部固定连接有检测台4，底座1的顶部和
检测台4的底部均对称固定连接有第一转动块6，底座1顶部的第一转动块6一侧转动连接有第一连杆7，第一连杆7顶部一侧转动连接有第二连杆8，第一连杆7和第二连杆8连接的一侧设置有横杆9，横杆9一侧对称固定连接有挤压弹簧10，检测台4底部四角处均固定连接有第二转动块11，第二转动块11内侧的下端转动连接有第三连杆12，第三连杆12一侧设置有活塞13，活塞13外侧滑动连接有于箱体15的内侧，缓冲伸缩杆2的外侧设置的缓冲弹簧3可以减缓震动量，同时第一连杆7和第二连杆8带动横杆9对挤压弹簧10两端的方向进行相对挤压，由于挤压弹簧10的特性可以起到一定的缓冲减震的作用，在检测台4的下压过程中同时带动第三连杆12向外侧进行转动，此时第三连杆12将带动活塞13位于箱体15的内侧进行滑动，在箱体15的内部设置有气压和弹簧14，可以在活塞13的活塞运动中，从而提高减震缓冲的效果，检测台4内部设置有滑槽17，检测台4一侧设置有第一电机18，第一电机18的输本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片设计检测台，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶部固定连接有缓冲伸缩杆(2)，所述缓冲伸缩杆(2)顶部固定连接有检测台(4)，所述底座(1)的顶部和检测台(4)的底部均对称固定连接有第一转动块(6)，底座(1)顶部所述的第一转动块(6)一侧转动连接有第一连杆(7)，所述第一连杆(7)顶部一侧转动连接有第二连杆(8)，所述第一连杆(7)和第二连杆(8)连接的一侧设置有横杆(9)，所述横杆(9)一侧对称固定连接有挤压弹簧(10)，所述检测台(4)底部四角处均固定连接有第二转动块(11)，所述第二转动块(11)内侧的下端转动连接有第三连杆(12)，所述第三连杆(12)一侧设置有活塞(13)，所述活塞(13)外侧滑动连接有于箱体(15)的内侧，所述检测台(4)内部设置有滑槽(17)，所述检测台(4)一侧设置有第一电机(18)，所述第一电机(18)的输出端固定连接有双向螺杆(19)，所述双向螺杆(19)外侧的两端对称螺纹连接有移动块(5)，所述移动块(5)顶部固定连接有支撑块(20)，所述支撑块(20)一侧设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨涛，
申请(专利权)人：苏州跃之华半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：