一种芯片功能的验证系统及方法技术方案

技术编号:38507638 阅读:19 留言:0更新日期:2023-08-19 16:53
本发明专利技术涉及芯片功能验证技术领域,公开了一种芯片功能的验证系统及方法,包括:被测芯片、可调电路模块、用于监控所述被测芯片功能运行状态的功能监控电路模块及为所述被测芯片、所述可调电路模块供电的电源系统模块,所述电源系统模块分别与所述可调电路模块、所述被测芯片相连,所述被测芯片与可调电路模块相连,所述功能监控电路模块与可调电路模块连接以获取所述被测芯片搭载可调电路模块下的功能运行状态。通过本发明专利技术提供的芯片功能验证系统为单个芯片功能验证提供多种负载进行验证,保证芯片功能的验证的充分性。保证芯片功能的验证的充分性。保证芯片功能的验证的充分性。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片功能的验证系统及方法


[0001]本专利技术涉及芯片功能验证
,特别涉及一种芯片功能的验证系统及方法。

技术介绍

[0002]芯片正常流片生产后,为填补芯片设计初期,仿真、设计验证不充分的空白,需要对芯片的软、硬件的功能进行搭载实际功能负载进行功能验证。传统常规开发板的验证方式是单个芯片功能只带一种负载进行验证。例如:验证一种具有can通信功能的芯片,传统方法只设计一种CAN总线的负载收发器进行功能验证。
[0003]目前,符合车规要求的芯片需要更高的可靠性。现阶段针对车规芯片的功能验证方法多为单一负载,即一种芯片的单一功能只带一种特定的负载进行验证,这容易产生芯片功能验证不充分的问题。同时使用者使用情况的不同,也会使芯片存在兼容性的问题。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术中对芯片功能验证不充分的问题,本专利技术提供了一种芯片功能的验证系统及方法。
[0005]本专利技术的
技术实现思路
如下:
[0006]一种芯片功能的验证系统,包括:
[0007]被测芯片、可调电路模块、用于监本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片功能的验证系统,其特征在于:包括:被测芯片、可调电路模块、用于监控所述被测芯片功能运行状态的功能监控电路模块及为所述被测芯片、所述可调电路模块供电的电源系统模块,所述电源系统模块分别与所述可调电路模块、所述被测芯片相连,所述被测芯片与可调电路模块相连,所述功能监控电路模块与可调电路模块连接以获取所述被测芯片搭载可调电路模块下的功能运行状态。2.根据权利要求1所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:所述可调电路模块包括有多组可选择负载/功能电路单元。3.根据权利要求2所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:还包括有通道选择开关,所述通道选择开关设置于可调电路模块与被测芯片之间的连接通路上以切换不同的可选择负载/功能电路单元与被测芯片间的连接。4.根据权利要求3所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:还包括有开关控制电路模块,所述开关控制电路模块与所述通道选择开关连接以控制通道选择开关的启动。5.根据权利要求3所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:所述被测芯片上包括至少一个功能集合单元,所述功能集合单元通过通道选择开关与所述可调电路模块连接。6.根据权利要求5所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:所述被测芯片上设置有软件控制单元,所述软件控制单元用于集成被测芯片的不同功能于功能集合单元上。7.根据权利要求5所述的一种芯片功能的验证系统,其特征在于:所述可调电路模块至少包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:雷黎丽成刚李齐
申请(专利权)人:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
类型:发明
国别省市:

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