【技术实现步骤摘要】
用于薄膜沉积设备的流体分配装置、相关设备和方法
[0001]本申请是申请日为2020年9月23日、申请号为“202011011287.X”、专利技术名称为“用于薄膜沉积设备的流体分配装置、相关设备和方法”的专利技术专利申请的分案申请。
[0002]本专利技术大体上涉及薄层沉积方法和相关联的装备。特别地,本专利技术涉及一种用于薄膜沉积反应器的、用以在反应空间中建立流体的层流流动的流体分配装置。
技术介绍
[0003]薄膜沉积方法,其中,薄膜涂层从气相沉积在基板上,在本领域中被广泛地描述。大体上被视为化学气相沉积(CVD)的子类的原子层沉积(ALD)技术,已经证明了其在三维基板结构上制造高质量的保形涂层的效率性。
[0004]ALD是基于交替的自饱和表面反应的,其中,将非反应性(惰性)气态载体中的被设置为化学化合物或元素的不同反应物(前体)顺次地脉冲到容纳基板的反应空间中。沉积反应物之后,用惰性气体吹扫基板。常规的ALD循环以两个半反应(脉冲第一前体
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吹扫;脉冲第二前体
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吹扫)进行,从而以自限制(自饱和)的方式形成一层材料,通常厚度为0.05
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0.2nm。
[0005]在每个脉冲期间,特定的前体化学品被注射到连续地流经反应空间的惰性(载体)流体中。脉冲由吹扫周期分隔,随之反应空间被所述载体气体吹扫,以从前面的脉冲中移除前体化学品。在沉积进程中,一个或多个循环被根据需要重复多次以获得具有预定厚度的膜。用于每个前体的典型的基板暴露时间的范围在 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于薄膜沉积设备(200)的流体分配装置(100),所述流体分配装置(100)包括:
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扩展区域(101),所述扩展区域(101)包括子区域(101
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1、101
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2),所述子区域(101
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1、101
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2)用于经由被布置在每个子区域上的至少一个进口(103)接收流体流(F1、F2),使得所述流体流(F1、F2)在基本上朝向彼此的方向上传播经过所述子区域,
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过渡区域(102),在所述过渡区域(102)中,经由所述子区域(101
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1、101
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2)到达所述过渡区域的流体流(F1、F2)相结合,其中,每个子区域(101
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1、101
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2)具有内部,其中所述内部具有的横跨其的距离沿着流体流动(F1、F2)的方向、在每个进口(103)与所述过渡区域(102)之间的截面平面上增加至扩展宽度(D1);以及
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流动成形元件(105),所述流动成形元件(105)被配置成将进入所述过渡区域(102)的流体流(F1、F2)的流动方向调整成基本上朝向所述薄膜沉积设备(200)的反应室(201),使得在所述反应室(201)的入口处被建立的并且传播经过所述反应室(201)的长度的流动(F)是层流的。2.根据权利要求1所述的装置(100),其中,在每个子区域(101
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1、101
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2)的内部中在所述进口(103)与所述过渡区域(102)之间的距离处建立的流体流动是层流的。3.根据权利要求1或2中任一项所述的装置(100),其中,所述过渡区域(102)是使入口(102A)和出口(102B)被设置为开口的通道(102A
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102B),所述开口具有宽度(d2、d2')以及长度,所述长度以与每个子区域(101
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1、101
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2)的扩展宽度对应的距离(D1)延伸。4.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,所述过渡区域(102)还包括收缩地带(104),所述收缩地带(104)是通过所述通道(102A
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102B)的侧向表面(112、121)倾斜到在所述距离(D1)处基本上恒定的宽度(d3)形成的。5.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,所述通道(102A
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102B)的至少一部分具有以一曲率倾斜的侧向表面。6.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,所述扩展区域(101)的所述子区域(101
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2)被设置在与所述沉积设备的纵向轴线(Y)基本上正交的截面平面(P1)处。7.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,传播经过所述扩展区域(101)的所述流体流(F1、F2)的方向与传播经过所述反应室(201)的流体流动(F)的方向基本上垂直。8.根据前述权利要求1至5任一项所述的装置(100),其中,所述扩展区域(101)的所述子区域(101
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1、101
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2)分别被设置在截面平面(P1')处,并且其中,每个这样的平面(P1')相对于截面平面(P1)倾斜一角度。9.根据权利要求8所述的装置(100),其中,所述截面平面(P1')是镜像对称的。10.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,在所述过渡区域(102)处,每个流体流(F1、F2)从所述截面平面(P1,P1')朝向沿着所述沉积设备的纵向轴线(Y)的、被限定为所述子区域(101
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1、101
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2)对称平面的截面平面(P2)进行转向。11.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),其中,所述子区域(101
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2)具有在其内部上基本上恒定的高度(h1)。12.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),所述装置(100)还包括位于所述过渡区域(102)中的混合布置结构(106)。13.根据任一项前述权利要求所述的装置(100),所述装置(100)还包括等离子体产生
布置结构(107),所述等离子体产生布置结构(107)可选地被设置在所述过渡区域(102)中。14.一种薄膜沉积设备(200),所述薄膜沉积设备(200)包括:
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反应室(201),所述反应室(201)用于容纳基板(10),所述基板以其侧面彼此相邻的方式进行布置;
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流体分配装置(100),所述流体分配装置(100)包括扩展区域(101)、过渡区域(102)以及流动成形元件(105),所述扩展区域(101)具有子区域(101
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2),流体流(F1、F2)经由被布置在每个子区域上的至少一个进口(103)被接收到所述子区域中,使得所述流体流(F1、F2)在基本上朝向彼此的方向上传播经过所述子区域,在所述过渡区域中,经由所述子区域(101
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2)到达所述过渡区域的流体流(F1、F2)相结合;其中,每个子区域(101
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2)具有内部,其中所述内部具有的横跨其的距离沿着流体流动(F1、F2)的方向、在每个进口(103)与所述过渡区域(102)之间的截面平面上增加至扩展宽度(D1),所述流动成形元件(105)被配置成将进入所述过渡区域(102)的流体流(F1、F2)的流动方向调整成基本上朝向所述薄膜沉积设备(200)的所述反应室(201),使得在所述反应室(201)的入口处被建立的并且于所述基板(10)的侧面之间传播经过所述反应室(201)的长度的流动(F)是层流的。15.根据权利要求14所述的设备(200),其中,所述设备(200)包括根据权利要求1至13中任一项所限定的内容而实现的流体分配装置(100)。16.根据权利要求14或15中任一项所述的设备(200),其中,所述反应室(201)在其整个长度上具有恒定的截面。17.根据权利要求14至16中任一项所述的设备(200),其中,所述过渡区域(102)由具有入口开口(102A)和出口开口(102B)的通道(102A
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102B)建立,并且其中,所述入口开口和/或所述出口开口具有与所述反应室(201)相同的截面。18.根据权利要求14至17中任一项所述的设备(200),其中,所述反应室(201...
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