一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电路测试领域，公开了一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法，其中装置包括工作台和设置在工作台上的测试机构，所述工作台上设置有用于支撑待测件的支撑组件和与支撑组件四个方向分别对应的四个限位组件，工作台的内部设置有用于带动支撑组件转动的控制组件；启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位，再启动控制组件通过剩余一个限位组件可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转。本发明专利技术通过支撑组件、限位组件和控制组件等之间的配合，可使得支撑组件带动待测件分别向前后左右四个方向偏转，以便于待测件上不同方向元件的快速测试。同方向元件的快速测试。同方向元件的快速测试。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及电路测试
，特别涉及一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件，采用一定工艺把晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，形成具有所需电路功能的微型结构。集成电路在加工过程中需要进行测试，保证所有元件可以正常使用。
[0003]如中国专利公告号CN216387304U，公开了名为一种集成电路测试设备，包括主体，所述主体的外壁固定连接有支撑架，所述支撑架的内壁设置有控制设备，所述控制设备的外壁设置有搁板，所述搁板的外壁与支撑架的内壁滑动连接，所述搁板的外壁固定连接有外框，所述外框的内壁设置有夹具，所述主体的外壁固定连接有连接柱，所述连接柱的内壁设置有照明设备，所述连接柱的内壁设置有放大设备。通过搁板上面的夹具可以对集成电路进行加紧固定，可以通过转动控制设备来控制搁板的位置，达到便于检测的目的。
[0004]该申请通过转动控制设备可带动集成电路偏转，但是控制设备基于主体的转动方向受限，使得集成电路的偏转方向只能基于主体逆时针偏转，对于集成电路其他方向的测试仍然不便，整体的测试效率仍有待提高，存在一定的使用局限性。
[0005]因此，有必要提供一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法解决上述技术问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0007]为实现上述目的，设计一种可带动集成电路向前后左右四个方向偏转，以便于测试的可靠性测试装置及测试方法。
[0008]基于上述思路，本专利技术提供如下技术方案：一种集成电路的可靠性测试装置，包括工作台和设置在工作台上的测试机构，所述工作台上设置有用于支撑待测件的支撑组件和与支撑组件四个方向分别对应的四个限位组件，工作台的内部设置有用于带动支撑组件转动的控制组件；启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位，再启动控制组件通过剩余一个限位组件可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转。
[0009]作为本专利技术的进一步方案：所述支撑组件包括用于放置待测件的平台和固定安装在工作台上的四个底座，四个底座位于平台的四个方向且与四个限位组件位置对应；平台的四个侧面均固定安装有支杆，支杆的内部固定安装有与底座活动贴合的圆杆。
[0010]作为本专利技术的进一步方案：每个侧面的所述支杆数量均为两个，底座位于两个支杆之间均与两个支杆均活动贴合，底座的顶面开设有以供圆杆安置的凹陷。
[0011]作为本专利技术的进一步方案：所述限位组件包括固定安装在工作台上的壳体，壳体的内部滑动安装有与底座位置对应的滑板，滑板的底部延伸至工作台的内部并与控制组件位置对应，滑板的表面与壳体之间固定安装有第一弹簧。
[0012]作为本专利技术的进一步方案：所述壳体和工作台之间共同开设有以供滑板滑动的滑槽，滑板基于滑槽可沿着工作台的径向方向往复滑动；当滑块滑动至与底座的顶面贴合后，可配合底座形成对圆杆的限位使得圆杆只能自转动。
[0013]作为本专利技术的进一步方案：所述控制组件包括与工作台固定连接的电机，电机的输出轴固定安装有悬臂，悬臂远离电机的端部固定安装有可与其中三个滑板活动贴合的弧形杆，悬臂的表面设置有用于带动平台转动的气缸。
[0014]作为本专利技术的进一步方案：所述弧形杆的端部设置有倒角，当弧形杆与限位组件接触时通过倒角可带动限位组件远离底座解除对圆杆的限位。
[0015]作为本专利技术的进一步方案：所述气缸与悬臂固定连接，且气缸的输出端与平台的底面活动贴合，使得气缸带动平台的可转动角度小于90度。
[0016]作为本专利技术的进一步方案：所述气缸与悬臂和平台的底面之间均呈转动连接，使得气缸带动平台的可转动角度大于90度且小于180度。
[0017]本专利技术提供如下技术方案：一种集成电路的可靠性测试方法，包括以下步骤：
[0018]S1、先将待测件放到支撑组件上，然后启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位；
[0019]S2、再启动控制组件通过剩余一个限位组件，可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转；
[0020]S3、继续启动控制组件改变方向可调整支撑组件未被解除限位的方向，进而使得支撑组件可带动待测件向不同的方向偏转。
[0021]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：通过支撑组件、限位组件和控制组件等之间的配合，可使得支撑组件带动待测件分别向前后左右四个方向偏转，以便于待测件上不同方向元件的快速测试，可有效提高整体的测试效率，实用性更高。
附图说明
[0022]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明：
[0023]图1为本专利技术的整体结构立体图；
[0024]图2为本专利技术的支杆和圆杆结构示意图；
[0025]图3为本专利技术的弧形杆和开口结构示意图；
[0026]图4为本专利技术的壳体内部结构示意图；
[0027]图5为本专利技术的气缸和平台结构示意图；
[0028]图6为本专利技术的罩壳和支杆结构示意图；
[0029]图7为本专利技术的调节组件结构示意图；
[0030]图8为本专利技术的悬臂和弧形杆结构示意图；
[0031]图9为本专利技术的滑座和空腔结构示意图；
[0032]图10为本专利技术的移动组件结构示意图。
[0033]图中：1、工作台；2、支撑组件；3、限位组件；4、控制组件；5、滑槽；6、滑动组件；7、调
节组件；8、移动组件；9、待测件；101、开口；201、底座；202、平台；203、支杆；204、圆杆；205、空腔；206、凹槽；301、壳体；302、滑板；303、第一弹簧；304、横杆；305、罩壳；401、电机；402、悬臂；403、弧形杆；404、气缸；601、滑座；602、夹块；603、第二弹簧；701、导柱；702、凸块；703、拉绳；704、第三弹簧；801、齿条；802、齿轮；803、挡板。
具体实施方式
[0034]实施例一：
[0035]请参阅图1至图3，本专利技术实施例提供一种集成电路的可靠性测试装置，主要用于实现对待测件9前后左右四个方位的快速测试，该装置包括工作台1和设置在工作台1上的测试机构(图中未示出)，测试机构可与待测件9的接口连接形成导通，进而检测集成电路的好坏；其中，测试机构为现有的成熟技术，在这里不做详细说明。
[0036]进一步的，工作台1上设置有用于支撑待测件9的支撑组件2和与支撑组件2四个方向分别位置对应的四个限位组件3，四个限位组件3分别用于限定支撑组件2前后左右的四个方向；当其中一个限位组件3与支撑组件2活动贴合时，支撑组件2即只能向该限位组件3对应的方向转动，若两个限位组件3同时与支撑组件2活动贴合时，支撑组件2则被完全限位无法转动。
[0037]进一步本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路的可靠性测试装置，包括工作台和设置在工作台上的测试机构，其特征在于，所述工作台上设置有用于支撑待测件的支撑组件和与支撑组件四个方向分别对应的四个限位组件，工作台的内部设置有用于带动支撑组件转动的控制组件；启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位，再启动控制组件通过剩余一个限位组件可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转。2.根据权利要求1所述的集成电路的可靠性测试装置，其特征在于，所述支撑组件包括用于放置待测件的平台和固定安装在工作台上的四个底座，四个底座位于平台的四个方向且与四个限位组件位置对应；平台的四个侧面均固定安装有支杆，支杆的内部固定安装有与底座活动贴合的圆杆。3.根据权利要求2所述的集成电路的可靠性测试装置，其特征在于，每个侧面的所述支杆数量均为两个，底座位于两个支杆之间均与两个支杆均活动贴合，底座的顶面开设有以供圆杆安置的凹陷。4.根据权利要求2所述的集成电路的可靠性测试装置，其特征在于，所述限位组件包括固定安装在工作台上的壳体，壳体的内部滑动安装有与底座位置对应的滑板，滑板的底部延伸至工作台的内部并与控制组件位置对应，滑板的表面与壳体之间固定安装有第一弹簧。5.根据权利要求4所述的集成电路的可靠性测试装置，其特征在于，所述壳体和工作台之间共同开设有以供滑板滑动的滑槽，滑板基于滑槽可沿着工作台的径向方向往复滑动；当滑块滑动至与底座的顶面贴合后，可配合底座形成...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱淑丹，陈德君，孙建齐，卢隽，
申请(专利权)人：深圳市堃联技术有限公司，
类型：发明
国别省市：