一种半导体制冷片测试用固定工装制造技术

本实用新型专利技术涉及制冷片加工技术领域，提供了一种半导体制冷片测试用固定工装，包括工作台和固定在工作台上的固定座，所述工作台上还设有下压单元，所述下压单元包括位于固定座正上方的压杆、用于调节压杆高度的调节模块、用于测量压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面压力的压力测试模块；所述压杆为导热系数低于预设值的压杆。本实用新型专利技术通过调节模块对压杆进行高度调节，同时通过压力测试模块测量出压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面的压力，根据压力来调节压杆的下压程度，以提高后续测试的准确性，同时可保持不同半导体的测试过程中保持一致的压力，保证测量结果的横向可比性。比性。比性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片测试用固定工装


[0001]本技术涉及制冷片加工
，具体为一种半导体制冷片测试用固定工装。

技术介绍

[0002]半导体制冷组件，也称热电制冷器件，它是根据珀尔帖效应而制造的一种电子制冷组件。当直流电流通过两种不同的半导体材料所形成的闭合回路时，半导体的接点处就会分别产生放热和吸热的现象。半导体制冷器件具有体积小、温差大、热转换效率高、使用方便和无公害等特点。
[0003]在实际生产中，质量检测和性能检测是半导体制冷片生产制作的重要环节，而在检测过程中，半导体制冷片的定位精准度和压紧力大小等因素均会影响质量检测和性能检测的结果。
[0004]CN202220774798.5公开了一种基于制冷片加工用定位装置，包括底座、通槽和电动伸缩杆，底座顶端的中心位置处设置有通槽，通槽的内部设置有辅助结构，底座的顶端安装有电动伸缩杆，电动伸缩杆的一侧安装有夹持板，夹持板的一侧设置有防护结构，夹持板的底端设置有导向结构。该装置在使用时，操作人员可转动底部的转钮，由调节杆带动支撑台向上方进行移动，以此在进行夹持操作时，操作人员可将制冷片放置于凸出的支撑台上，在夹持时，支撑台可辅助对制冷片进行支撑。该装置通过辅助结构支撑制冷片避免了制冷片脱落，但是其与市面上常见的定位装置一样，即均通过肉眼观察压紧的程度，无法直观量化压紧的力，会出现拧力过大导致半导体制冷片损坏或拧力过小导致接触不良的现象从而影响测试结果。
[0005]基于此，本案解决的技术问题是：在半导体制冷片的性能测试过程中，如何提高下压半导体制冷片的压力的精确性和如何保持不同测试中的压力一致。

技术实现思路

[0006]为解决上述技术问题，本技术提供了一种半导体制冷片测试用固定工装，本技术通过调节模块对压杆进行高度调节，同时通过压力测试模块测量出压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面的压力，根据压力来调节压杆的下压程度，以提高后续测试的准确性，同时可保持不同半导体的测试过程中保持一致的压力，保证测量结果的横向可比性。
[0007]本技术的技术方案是：
[0008]一种半导体制冷片测试用固定工装，包括工作台和固定在工作台上的固定座，所述工作台上还设有下压单元，所述下压单元包括位于固定座正上方的压杆、用于调节压杆高度的调节模块、用于测量压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面压力的压力测试模块；所述压杆为导热系数低于预设值的压杆。
[0009]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述下压单元还包括支座，所述支座
上设有水平延伸的凹槽和由上而下贯穿凹槽的孔；所述调节模块包括丝杆、与丝杆配合的调节螺母；所述调节螺母嵌入所述凹槽内；所述丝杆穿过孔与压杆连接。
[0010]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述调节螺母上设有与孔形状匹配的凸台；所述凸台嵌入到孔中。
[0011]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述调节螺母的直径为丝杆直径的N倍；N≥3；所述调节螺母的外轮廓为梅花形。
[0012]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述N为4～10。
[0013]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述支座上设有一条竖直延伸的导向槽；所述丝杆的上部设有一导向片；所述导向片嵌入导向槽中。
[0014]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述支座包括上支座、下支座，所述上支座和下支座通过螺栓连接；所述上支座和下支座上均设有一凸条；两条凸条组成所述凹槽；所述下支座连接在工作台上。
[0015]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述下压单元和工作台之间通过位移单元连接；所述位移单元由用于调节下压单元左右位置的左右位移模块和用于调节下压单元前后位置的前后位移模块组成。
[0016]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述左右位移模块包括与工作台固定连接的第一滑轨、与第一滑轨配合的第一滑块和用于调节第一滑块沿第一滑轨水平移动的第一旋钮；所述前后位移模块包括与第一滑块固定连接的第二滑轨，与第二滑轨配合的第二滑块和用于调节第二滑块沿第二滑轨水平移动的第二旋钮；所述第一滑轨和第二滑轨的给进方向相互垂直。
[0017]在上述的半导体制冷片测试用固定工装中，所述固定座以可拆卸的方式固定在工作台上，所述固定座的上表面设有多个定位块，半导体制冷片置于多个定位块围成的区域内。
[0018]本技术上述技术方案中的一个技术方案至少具有如下优点或有益效果之一：
[0019]本技术通过在固定座的正上方设置的压杆和对应的调节模块相配合来进行下压定位，使操作更为简单、便捷；同时，还设置有压力测试模块，用于测量压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面压力，防止拧力过大导致半导体制冷片损坏或拧力过小导致接触不良从而影响测试结果；再者，压杆为导热系数低于预设值的压杆，有效地减少热传递，提高了后续测试的准确度。
附图说明
[0020]图1为本技术的实施例1的工装立体示意图；
[0021]图2为本技术的实施例1的图1的爆炸图；
[0022]图3为本技术的实施例1的工装侧视图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]实施例1
[0025]请参阅图1
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3，一种半导体制冷片测试用固定工装，包括工作台1和固定在工作台1上的固定座2，所述工作台1上还设有下压单元3，所述下压单元3包括位于固定座2正上方的压杆4、用于调节压杆4高度的调节模块5、用于测量压杆4作用于固定座2上的半导体制冷片表面压力的压力测试模块6；所述压杆4为导热系数低于预设值的压杆4。
[0026]需要说明的是，所述压杆为导热系数小于0.20w/(m.k)的材料的压杆，比如PEEK、POM、电木等材料；在本实施例中，更为优选地，选用PEEK材料制成的压杆。
[0027]在本实施例中，需要进一步说明的是，所述压力测试模块6与外设的可视化组件连接。
[0028]在夹持时，先将半导体制冷片置于固定座2上，然后通过调节模块5调节压杆4的高度，使压杆4的下端接触半导体制冷片的表面，持续操作调节模块5并观察压力测试模块6的压力值，当压力值达到设定值后，停止操作调节模块5；开始对半导体制冷片进行测试。
[0029]本实施例通过在固定座2的正上方设置的压杆4和对应的调节模块5相配合来进行下压定位，使操作更为简单、便捷；同时，还设置有压力测试模块6，用于测量压杆4作用于固定座2上的半导体制冷片表面压力并由外设的可视化组件实时显示，防止拧力过大导致半导体制冷片损坏或拧力过小导致接触不良而影响测试结果；再者，压杆4为P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片测试用固定工装，包括工作台和固定在工作台上的固定座，所述工作台上还设有下压单元，其特征在于，所述下压单元包括位于固定座正上方的压杆、用于调节压杆高度的调节模块、用于测量压杆作用于固定座上的半导体制冷片表面压力的压力测试模块；所述压杆为导热系数低于预设值的压杆。2.根据权利要求1所述的半导体制冷片测试用固定工装，其特征在于，所述下压单元还包括支座，所述支座上设有水平延伸的凹槽和由上而下贯穿凹槽的孔；所述调节模块包括丝杆、与丝杆配合的调节螺母；所述调节螺母嵌入所述凹槽内；所述丝杆穿过孔与压杆连接。3.根据权利要求2所述的半导体制冷片测试用固定工装，其特征在于，所述调节螺母上设有与孔形状匹配的凸台；所述凸台嵌入到孔中。4.根据权利要求3所述的半导体制冷片测试用固定工装，其特征在于，所述调节螺母的直径为丝杆直径的N倍；N≥3；所述调节螺母的外轮廓为梅花形。5.根据权利要求4所述的半导体制冷片测试用固定工装，其特征在于，所述N为4～10。6.根据权利要求2
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5任一所述的半导体制冷片测试用固定工装，其特征在于，所述支座上设有一条竖直延伸的导向槽；所述丝杆的上部设有一导向片；所述导向片嵌入导向槽中。7.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈玉成，高涛，曾广锋，
申请(专利权)人：东莞先导先进科技有限公司，
类型：新型
国别省市：