一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置制造方法及图纸

技术编号:38370384 阅读:10 留言:0更新日期:2023-08-05 17:34
本实用新型专利技术公开了一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,涉及镜片检查技术领域,支撑组件,支撑组件的顶端区中段连接有固定组件,固定组件的后端设置有腐蚀特征点检查装置组件,支撑组件机台、集液槽、内腔和第二柜门,机台的顶端区中段分别设置有第一卡槽和第二卡槽,且机台的前端区中段设置有第一柜门,集液槽的顶端连接有集液口,集液槽的顶端两侧分别开设有第一卡槽和第二卡槽,且集液槽的内腔设置有漏槽,内腔下端两侧分别连接有第一底脚和第二底脚,第二柜门通过第一合页与机台的一端转动相连接,且第二柜门的一端设置有第三柜门,该装置整体造价低廉且操作结构简单,进而起到降低生产成本的作用。起到降低生产成本的作用。起到降低生产成本的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置


[0001]本技术涉及镜片检测
,具体为一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置。

技术介绍

[0002]随着单晶硅抛光片的不断应用和发展,单晶硅抛光镜片在加工过程中的缺点也逐渐显现,单晶硅抛光镜片在抛光使用的过程中,会产生腐蚀特征点,其中腐蚀特征点为单晶硅抛光镜片在抛光中出现的瑕疵,其中所产生的瑕疵会导致单晶硅抛光镜片使用效果下降。
[0003]经检索,现公开了一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置(公开号CN210189476U),该检测装置通过固定杆和定位槽对齐,固定杆和固定槽相连接的弹簧推动固定杆在固定槽中进行滑动,固定杆和固定槽卡合,竖筒的位置固定,从而方便使用者对装置上抛光片本体转动的位置进行判断,从而进一步对下一批待检测的抛光片本体进行过更换,然而上述的技术方案中虽然能够起到检测高度自由调节的作用,但是该装置整体造价昂贵和操作繁琐,进而增加生产成本,为此我们提出了一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足,本技术提供了一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,解决了但是该装置整体造价昂贵和操作繁琐,进而增加生产成本的问题。
[0005]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,支撑组件,所述支撑组件的顶端区中段连接有固定组件,所述固定组件的后端设置有腐蚀特征点检查装置组件;
[0006]所述支撑组件机台、集液槽、内腔和第二柜门,所述机台的顶端区中段分别设置有第一卡槽和第二卡槽,且机台的前端区中段设置有第一柜门。
[0007]优选的,所述集液槽的顶端连接有集液口,所述集液槽的顶端两侧分别开设有第一卡槽和第二卡槽,且集液槽的内腔设置有漏槽。
[0008]优选的,所述内腔下端两侧分别连接有第一底脚和第二底脚。
[0009]优选的,所述第二柜门通过第一合页与机台的一端转动相连接,且第二柜门的一端设置有第三柜门,所述第三柜门通过第二合页与机台的一端转动相连接。
[0010]优选的,所述固定组件电机、第一支撑架、第一活动杆和第二支撑架,所述电机下端连接有电机座,且电机的一端转动连接有第一转轴。
[0011]优选的,所述第一支撑架的内部贯穿连接有第一转轴,所述第一转轴的一端转动连接有第二转轴,所述第二转轴的一端通过吸盘装置腔与第一固定吸盘固定相连接。
[0012]优选的,所述第一活动杆的一端连接有第二活动吸盘,且第一活动杆的另一端转动连接有第二活动杆,所述第一活动杆的外部套筒连接有套筒。
[0013]优选的,所述第二支撑架的一端连接有液压缸装置,且第二支撑架的另一端活动连接有连接盘,所述第二支撑架的内部贯穿连接有第二活动杆。
[0014]优选的,所述腐蚀特征点检查装置组件检查台和支撑大臂,所述检查台的顶端区中段设置有检查放置槽,且检查台的后端设置有滑槽。
[0015]优选的,所述支撑大臂的区中段贯穿连接有连接杆,所述连接杆的一端贯穿于特征点检查装置的内部,所述支撑大臂的下端连接有滑块,所述滑块内部滑动连接有滑槽。
[0016]有益效果
[0017]本技术提供了一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置。与现有技术相比具备以下有益效果:
[0018]一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,首先将需要抛光的镜片的一面与第一固定吸盘相吸附,然后通过液压缸装置分别驱动第二活动杆和第一活动杆向前移动,第二活动杆和第一活动杆向前移动的过程中,进而带动一端第二活动吸盘的向前移动,当第二活动吸盘移动至镜片的另一面并与镜片相吸附,进而起到固定镜片的作用,当需要抛光的镜片分别通过第一固定吸盘和第二活动吸盘吸附固定时,通过启动电机,进而带动一端第一转轴的转动,通过第一转轴的转动,进而带动一端第二转轴的转动,第二转轴转动的同时,进而带动吸盘装置腔和第一固定吸盘的转动,通过第一固定吸盘的转动,进而带动需要抛光镜片的转动,抛光镜片转动的过程中,进而通过抛光机对其进行抛光打磨即可,当镜片抛光打磨以后,将其从第一固定吸盘和第二活动吸盘取下放置在检查台表面的检查放置槽当中,然后将特征点检查装置通过滑块将其特征点检查装置滑动至检查放置槽的正上方对其镜片检查即可,该装置整体造价低廉且操作结构简单,进而起到降低生产成本的作用。
附图说明
[0019]图1为本技术的结构示意图;
[0020]图2为本技术中支撑组件的结构示意图;
[0021]图3为本技术中支撑组件的俯视结构示意图;
[0022]图4为本技术中腐蚀特征点检查装置组件的结构示意图;
[0023]图5为本技术中固定组件的结构示意图。
[0024]图中:1、固定组件;101、电机;102、电机座;103、第一转轴;104、第一支撑架;105、第二转轴;106、吸盘装置腔;107、第一固定吸盘;108、第一活动杆;109、连接盘;110、第二支撑架;111、液压缸装置;112、第二活动杆;113、套筒;114、第二活动吸盘;2、腐蚀特征点检查装置组件;201、特征点检查装置;202、支撑大臂;203、连接杆;204、检查放置槽;205、检查台;206、滑块;207、滑槽;3、支撑组件;301、第一卡槽;302、集液口;303、第二卡槽;304、机台;305、第一底脚;306、集液槽;307、内腔;308、第二底脚;309、第一柜门;310、第二柜门;311、第一合页;312、漏槽;313、第二合页;314、第三柜门。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1,本技术提供一种技术方案:一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,包括支撑组件3,支撑组件3的顶端区中段连接有固定组件1,固定组件1的后端设置有腐蚀特征点检查装置组件2;
[0027]请参阅图2和图3,支撑组件3包括机台304、集液槽306、内腔307和第二柜门310,机台304的顶端区中段分别设置有第一卡槽301和第二卡槽303,且机台304的前端区中段设置有第一柜门309,集液槽306的顶端连接有集液口302,集液槽306的顶端两侧分别开设有第一卡槽301和第二卡槽303,且集液槽306的内腔设置有漏槽312,内腔307下端两侧分别连接有第一底脚305和第二底脚308,第二柜门310通过第一合页311与机台304的一端转动相连接,且第二柜门310的一端设置有第三柜门314,第三柜门314通过第二合页313与机台304的一端转动相连接。
[0028]请参阅图5,固定组件1包括电机101、第本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,其特征在于:包括支撑组件(3),所述支撑组件(3)的顶端区中段连接有固定组件(1),所述固定组件(1)的后端设置有腐蚀特征点检查装置组件(2);所述支撑组件(3)包括机台(304)、集液槽(306)、内腔(307)和第二柜门(310),所述机台(304)的顶端区中段分别设置有第一卡槽(301)和第二卡槽(303),且机台(304)的前端区中段设置有第一柜门(309)。2.根据权利要求1所述的一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,其特征在于:所述集液槽(306)的顶端连接有集液口(302),所述集液槽(306)的顶端两侧分别开设有第一卡槽(301)和第二卡槽(303),且集液槽(306)的内腔设置有漏槽(312)。3.根据权利要求1所述的一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,其特征在于:所述内腔(307)下端两侧分别连接有第一底脚(305)和第二底脚(308)。4.根据权利要求1所述的一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,其特征在于:所述第二柜门(310)通过第一合页(311)与机台(304)的一端转动相连接,且第二柜门(310)的一端设置有第三柜门(314),所述第三柜门(314)通过第二合页(313)与机台(304)的一端转动相连接。5.根据权利要求1所述的一种光学镜片抛光腐蚀特征点快速检测装置,其特征在于:所述固定组件(1)包括电机(101)、第一支撑架(104)、第一活动杆(108)和第二支撑架(110),所述电机(101)下端连接有电机座(102),且电机(101)的一端转动连接有第一转轴...

【专利技术属性】
技术研发人员:范利康屈定山毛官富
申请(专利权)人:和创光电武汉有限公司
类型:新型
国别省市:

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