可针对存储器的个别字线提供计数器以用于跟踪字线存取。在一些实例中,可针对个别字线提供多个计数器。在一些实例中,所述计数器可包含于所述字线上。在一些实例中,响应于字线存取,所述计数器可递增。在一些实例中,所述计数器可响应于字线保持开放的时间周期而递增。在一些实例中,所述计数器可响应于字线存取和字线保持开放的时间周期两者而递增。在一些实例中,所述计数器的计数值可在递增之后写回到所述计数器。在一些实例中,可在接收到预充电命令之前写回所述计数值。充电命令之前写回所述计数值。充电命令之前写回所述计数值。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于跟踪字线存取的设备和方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2020年11月23日提交的第17/102,266号美国非临时申请的申请权益。此申请以全文引用的方式且出于所有目的并入本文中。
技术介绍
[0003]信息可作为物理信号(例如,电容性元件上的电荷)存储在存储器的个别存储器单元上。存储器可以是易失性存储器,且物理信号可随时间推移衰减(这可能使存储于存储器单元中的信息降级或毁坏)。可能需要通过例如重写信息以将物理信号恢复到初始值来周期性地刷新存储器单元中的信息。
[0004]随着存储器组件的大小减小,存储器单元的密度极大地增加。可进行自动刷新操作,其中周期性地刷新存储器单元的序列。重复存取特定存储器单元或存储器单元群组(通常称为
‘
行锤击(row hammer)
’
攻击)可能导致附近存储器单元中数据降级的速率增加。类似地,行的延长激活可能导致附近存储器单元中数据降级的速率增加(通常称为
‘
猛击(clobber)
’
攻击)。除了自动刷新操作之外,可能还需要在目标刷新操作中标识且刷新受到攻击影响的存储器单元。标识受到行锤击影响的存储器单元可能需要额外电路系统和/或增加定时要求。
技术实现思路
[0005]本文所公开的设备和方法可提供用于检测各种存储器攻击的确定性技术。本文所公开的设备和方法中的至少一些可允许跟踪字线的激活次数和/或激活时间。跟踪值可存储在与个别字线相关联的计数值存储器单元中。在一些实施例中,跟踪值可写回到计数值存储器单元而无需等待预充电命令,这可最小化对tRP和/或其它存储器操作定时参数的影响。在一些实施例中,当执行目标刷新时,存储器可警示外部装置(例如,控制器),这可准许在调度的刷新模式之外执行目标刷新操作。
[0006]根据本公开的实例,一种设备可包含:存储器阵列,其包括多个字线,其中所述多个字线中的每个字线包括多个计数器,每个计数器经配置以存储与所述多个字线中的对应字线的激活次数和激活时间量相关联的值,其中所述多个计数器中的每个计数器包括至少一个计数值存储器单元;以及计数控制电路,其经配置以当所述多个字线中的字线被激活时从所述字线的所述多个计数器接收所述值、更新所述值中的至少一者且向所述多个计数器中的至少一者提供至少一个经更新值。
[0007]根据本公开的实例,一种设备可包含:存储器阵列,其包括多个字线,其中所述多个字线中的每个字线包括多个计数值存储器单元,所述多个计数值存储器单元经配置以存储与所述多个字线中的对应字线的激活次数和激活时间量相关联的值;计数控制电路,其经配置以当所述多个字线中的字线被激活时从所述字线的所述多个计数值存储器单元接收所述值、将所述值与阈值进行比较且当所述值等于或大于所述阈值时激活触发信号;以及刷新控制电路,其经配置以在接收到有效触发信号时锁存当前行地址且执行目标刷新操
作。
[0008]根据本公开的实例,一种方法可包含:响应于字线的激活,接收多个值,所述多个值中的每个值与所述字线的激活次数和激活时间长度中的至少一者相关联;至少部分地基于所述多个值的比较,确定所述字线的正确值;通过更新所述正确值来生成经更新值;以及将所述经更新值提供给所述字线的多个计数器中的计数器。
附图说明
[0009]图1是根据本公开的实施例的半导体装置的框图。
[0010]图2是根据本公开的实施例的存储器单元阵列的框图。
[0011]图3是根据本公开的实施例的刷新控制电路和计数控制电路的框图。
[0012]图4是根据本公开的实施例的计数控制电路的框图。
[0013]图5说明根据本公开的实施例的字线的多个计数器的实例实施方案。
[0014]图6是根据本公开的实施例的方法的流程图。
具体实施方式
[0015]某些实施例的以下描述在本质上仅是示例性的,绝非意在限制本公开的范围或本公开的应用或用途。在对本专利技术的系统和方法的实施例的以下详细描述中,参考形成本文的一部分的附图,且通过说明其中可实践所描述的系统和方法的具体实施例来展示附图。足够详细地描述这些实施例,以使所属领域的技术人员能够实践当前公开的系统和方法,且应理解,可利用其它实施例,且在不脱离本公开的精神和范围的情况下可进行结构和逻辑改变。此外,为清晰起见,某些特征的详细描述在其对于所属领域的技术人员来说将显而易见时将不予以论述,以免使本公开的实施例的描述混淆不清。因此,以下详细描述不应以限制性的意义来理解,且本公开的范围仅由所附权利要求书来限定。
[0016]易失性存储器装置中的信息可存储在存储器单元中(例如,作为电容性元件上的电荷),且可能随时间推移而衰减。存储器单元可组织成存储器阵列的行(字线)和列(位线),且存储器单元可逐行刷新。为了防止信息归因于此衰减而丢失或损坏,存储器装置可进行刷新操作。在刷新操作期间,信息可被重写到字线以恢复其初始状态。可对序列中的存储器的字线执行自动刷新操作,使得随时间推移以快于数据降级的预期速率的速率刷新存储器的每个字线。
[0017]对存储器的各种存取模式(通常称为攻击)可能导致一或多个存储器单元中数据降级的速率增加,使得所述存储器单元会在作为自动刷新操作的部分刷新所述存储器单元之前衰减。举例来说,对存储器的特定行的重复存取或特定行(例如,侵害者行)的延长激活(例如,将行保持在有效电压电平)可使接近侵害者行的行(例如,受害者行)中的衰减速率增加。这些重复存取和延长激活周期可能是针对存储器的有意攻击的部分,和/或可归因于存储器的
‘
自然
’
存取模式。受害者行中增加的衰减速率可能需要刷新受害者行以作为目标刷新操作的部分。存储器装置可周期性地执行目标刷新操作。目标刷新操作可作为自动刷新操作的补充。举例来说,存储器装置可执行包含数个自动刷新操作和数个目标刷新操作的一组刷新操作,且接着重复此循环。在一些存储器中,目标刷新操作可能
‘
窃取
’
原本用于自动刷新操作的时隙。存储器装置通常可在执行存取操作某一时间周期、执行刷新操作某
一时间周期、执行存取操作等之间循环。
[0018]存储器装置可包含用于检测侵害者行且确定要在目标刷新操作期间刷新的对应受害者行的电路系统。检测侵害者行可包含例如在读取或写入操作期间跟踪行的存取。当行的存取符合一或多个准则时,所述行可确定为侵害者行。举例来说,当行的存取次数在某一时间周期内达到阈值时,存储器装置可确定所述行是侵害者行。侵害者行的受害者行可随后被确定且在目标刷新操作期间刷新。
[0019]通常,一或多种取样技术用于跟踪行存取(例如,非随机、半随机、伪随机和/或随机取样)。也就是说,仅跟踪一些字线存取。因此,可能会错过一些侵害者行,具体地说,在攻击者发现了用于避开取样周期的技术的情况下。此外,跟踪存取次数的技术可能会错过其中字线被激活(例如,“保持开放”)某一延长的时间周期而不是被反复存取的侵害者行。因本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种设备,其包括:存储器阵列,其包括多个字线,其中所述多个字线中的每个字线包括多个计数器,每个计数器经配置以存储与所述多个字线中的对应字线的激活次数和激活时间量相关联的值,其中所述多个计数器中的每个计数器包括至少一个计数值存储器单元;以及计数控制电路,其经配置以当所述多个字线中的字线被激活时从所述字线的所述多个计数器接收所述值、更新所述值中的至少一者且向所述多个计数器中的至少一者提供至少一个经更新值。2.根据权利要求1所述的设备,其中所述多个计数器另外经配置以存储与所述值相关联的错误校正码(ECC)信息。3.根据权利要求2所述的设备,其中所述计数控制电路包含错误校正电路,所述错误校正电路经配置以接收所述ECC信息、使用所述ECC信息来校正所述值中的错误以及产生与所述经更新值相关联的另一ECC信息。4.根据权利要求1所述的设备,其中所述计数控制电路包括定时器以对所述字线保持在激活电压的时长计数。5.根据权利要求1所述的设备,其中所述计数控制电路包括定时器以对激活信号有效的时长计数。6.根据权利要求1所述的设备,其中所述计数控制电路另外经配置以针对所述字线被激活的多个时间间隔中的每一者更新至少一个值。7.根据1所述的设备,其中所述计数控制电路经配置以比较来自所述多个计数器的所述值、确定正确值以及更新所述正确值以产生所述至少一个经更新值。8.根据权利要求1所述的设备,其中所述计数控制电路另外经配置以比较所述值与阈值,且当所述值等于或大于所述阈值时激活触发信号。9.一种设备,其包括:存储器阵列,其包括多个字线,其中所述多个字线中的每个字线包括多个计数值存储器单元,所述多个计数值存储器单元经配置以存储与所述多个字线中的对应字线的激活次数和激活时间量相关联的值;计数控制电路,其经配置以当所述多个字线中的字线被激活时从所述字线的所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:潘栋,
申请(专利权)人:美光科技公司,
类型:发明
国别省市:
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