光模块固件测试系统及方法技术方案

技术编号:38349699 阅读:15 留言:0更新日期:2023-08-02 09:29
本发明专利技术涉及光模块测试技术领域,公开了一种光模块固件测试系统及方法。该系统包括测试板、示波器、光分路器以及上位机;测试板与示波器均连接上位机,测试板上搭载待测光模块,待测光模块与测试板通信连接,测试板还通过数据信号管脚连接示波器,待测光模块的发射端通过光分路器连接示波器。本发明专利技术通过上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板,测试板响应测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现待测光模块的固件测试;上位机还读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成待测光模块的测试报表,实现光模块自动化测试,更好地实现测试全覆盖,从而提高了光模块固件测试效率。固件测试效率。固件测试效率。

【技术实现步骤摘要】
光模块固件测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及光模块测试
,尤其涉及一种光模块固件测试系统及方法。

技术介绍

[0002]在光模块的设计开发中,很重要的一部分就是光模块的固件程序开发,面对日趋复杂的应用场景,不同客户会有各自不同的需求,这使得光模块的固件程序开发变得更加复杂。为了确保光模块的固件程序稳定可靠运行,需要高效且全面地对光模块固件进行测试。
[0003]然而,目前很多光模块固件测试都是手动进行的,存在测试效率低下、测试覆盖不全面、部分测试难以进行、报告整理困难等诸多问题。同时,由于光模块遵循的协议种类较繁杂,增大了固件测试的难度,对固件测试工程师的工作提出了更高的要求。如何提高光模块固件测试效率,降低测试难度已成为亟待解决的问题。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种光模块固件测试系统及方法,旨在解决现有手动固件测试效率低下、测试覆盖不全面、报告整理困难以及由于光模块遵循的协议种类较繁杂造成固件测试难度大的技术问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供了一种光模块固件测试系统,所述光模块固件测试系统包括:测试板、示波器、光分路器以及上位机;所述测试板上搭载待测光模块,所述测试板与示波器均连接所述上位机,所述测试板上的待测光模块与所述测试板通信连接,所述测试板还通过数据信号管脚连接所述示波器,所述待测光模块的发射端通过所述光分路器连接所述示波器;其中,所述上位机用于下发待测光模块固件测试的测试指令至所述测试板,所述测试板响应所述测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现所述待测光模块的固件测试;所述上位机还用于读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成所述待测光模块的测试报表。
[0007]进一步地,所述待测光模块通过所述光分路器连接到所述示波器的第一通道;所述光分路器用于将所述待测光模块输出的任一路光分成两路光,其中一路进入所述示波器的第一通道供测试,另一路回环至所述待测光模块的接收端;所述测试板的数据信号管脚连接所述示波器的第二通道。
[0008]进一步地,所述光模块固件测试系统还包括误码仪,所述误码仪分别连接所述上位机和所述测试板,所述误码仪用于为所述测试板上搭载的待测光模块提供发射信号;所述误码仪还用于接收所述待测光模块基于所述发射信号反馈的电信号,并分析所述发射信号和接收到的电信号的信号误差;
所述上位机通过RS232通讯线与所述误码仪连接。
[0009]进一步地,所述光模块固件测试系统还包括程控电源,所述程控电源分别连接所述测试板与所述上位机,所述程控电源响应所述上位机下发的指令为所述测试板供电;所述上位机通过RS232通讯线与所述程控电源连接。
[0010]进一步地,所述测试板与示波器均通过USB通讯线与所述上位机连接。
[0011]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种光模块固件测试方法,所述光模块固件测试方法包括:上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板;所述测试板响应所述测试指令并运行光模块固件测试序列,以实现待测光模块的固件测试;所述上位机读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成所述待测光模块的测试报表。
[0012]进一步地,所述上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板之前,所述方法还包括:在接收到待测光模块固件测试的测试请求时,根据所述测试请求提取请求账号信息;判断所述请求账号信息是否符合预设身份信息;在所述请求账号信息符合所述预设身份信息时,执行所述上位机下发光模块固件测试的测试指令至所述测试板的步骤。
[0013]进一步地,所述上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板,包括:上位机接收待测光模块固件测试的脚本测试指标;在所述脚本测试指标为脚本自动化测试时,接收待测光模块的目标光模块协议;获取所述目标光模块协议对应的目标测试脚本;根据所述目标测试脚本生成光模块固件测试序列;在接收到测试开始指令时,上位机下发所述光模块固件测试序列至测试板。
[0014]进一步地,所述根据所述目标测试脚本生成光模块固件测试序列,包括:根据所述目标测试脚本的测试序列生成光模块固件测试序列;或者,获取多个测试脚本,基于预设测试需求根据所述目标测试脚本和多个测试脚本编辑目标测试序列,根据所述目标测试序列生成光模块固件测试序列。
[0015]进一步地,所述上位机接收待测光模块固件测试的脚本测试指标之后,还包括:在所述脚本测试指标为脚本验证时,获取本地测试脚本;根据所述本地测试脚本生成光模块固件测试序列;在接收到测试开始指令时,上位机下发所述光模块固件测试序列至测试板。
[0016]本专利技术提供的光模块固件测试系统包括测试板、示波器、光分路器以及上位机;测试板与示波器均连接上位机,测试板上搭载待测光模块,待测光模块与测试板通信连接,测试板还通过数据信号管脚连接示波器,待测光模块的发射端通过光分路器连接示波器。本专利技术通过上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板,测试板响应测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现待测光模块的固件测试;上位机还读取示波器所显示的固
件测试波形并进行测量和记录,以生成待测光模块的测试报表,实现光模块自动化测试并生成测试报表,极大提高了光模块固件测试效率,实现测试全覆盖以更好地应对日趋复杂的应用场景,从而解决了现有手动进行固件测试效率低下、测试覆盖不全面、报告整理困难的技术问题。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例方案涉及光模块固件测试系统的模块示意图;图2为本专利技术实施例方案涉及光模块固件测试系统的硬件框图;图3为本专利技术实施例方案涉及光模块固件测试方法第一实施例的流程示意图;图4为本专利技术实施例方案涉及光模块固件测试系统的框架设计图;图5为本专利技术实施例方案涉及光模块固件测试方法第二实施例的流程示意图。
[0018]附图标号说明:测试板10、示波器20、光分路器30、上位机40、待测光模块11、误码仪50、程控电源60、接地端GND。
[0019]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0020]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0021]需要说明,本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
[0022]另外,在本专利技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块固件测试系统,其特征在于,所述光模块固件测试系统包括:测试板、示波器、光分路器以及上位机;所述测试板与示波器均连接所述上位机,所述测试板上搭载待测光模块,所述待测光模块与所述测试板通信连接,所述测试板还通过数据信号管脚连接所述示波器,所述待测光模块的发射端通过所述光分路器连接所述示波器;其中,所述上位机用于下发待测光模块固件测试的测试指令至所述测试板,所述测试板响应所述测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现所述待测光模块的固件测试;所述上位机还用于读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成所述待测光模块的测试报表。2.如权利要求1所述的光模块固件测试系统,其特征在于,所述待测光模块通过所述光分路器连接到所述示波器的第一通道;所述光分路器用于将所述待测光模块输出的任一路光分成两路光,其中一路进入所述示波器的第一通道供测试,另一路回环至所述待测光模块的接收端;所述测试板的数据信号管脚连接所述示波器的第二通道。3.如权利要求1所述的光模块固件测试系统,其特征在于,所述光模块固件测试系统还包括误码仪,所述误码仪分别连接所述上位机和所述测试板,所述误码仪用于为所述测试板上搭载的待测光模块提供发射信号;所述误码仪还用于接收所述待测光模块基于所述发射信号反馈的电信号,并分析所述发射信号和接收到的电信号的信号误差;所述上位机通过RS232通讯线与所述误码仪连接。4.如权利要求1所述的光模块固件测试系统,其特征在于,所述光模块固件测试系统还包括程控电源,所述程控电源分别连接所述测试板与所述上位机,所述程控电源响应所述上位机下发的指令为所述测试板供电;所述上位机通过RS232通讯线与所述程控电源连接。5.如权利要求1至4中任一项所述的光模块固件测试系统,其特征在于,所述测试板与示波器均通过USB通讯线与所述上位机连接。6.一种光模块固件测试方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑定瑞李林科吴天书杨现文张健
申请(专利权)人:武汉联特科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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