一种BiDi光模块测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及光通信技术领域，提供了一种BiDi光模块测试系统，包括用于连接待测模块的第一测试板、用于提供光源的第二测试板、用于切换测试通道的光开关组件以及用于将不同波长分开并输出的波分复用组件，所述第一测试板和所述第二测试板均通过所述光开关组件与所述波分复用组件连通。本实用新型专利技术的一种BiDi光模块测试系统，通过采用光开关和波分复用器的配合，实现BiDi光模块两种波长的收发测试，不再需要重新替换光器件也不需要准备多套测试系统，提高了效率的同时还节省了测试成本。提高了效率的同时还节省了测试成本。提高了效率的同时还节省了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种BiDi光模块测试系统


[0001]本技术涉及光通信
，具体为一种BiDi光模块测试系统。

技术介绍

[0002]随着光通信领域的高速发展，光模块的用量越来越大，尤其是BiDi双向通信技术的光模块，近几年的需求量增长非常迅猛。
[0003]现有的BiDi光模块在测试两种波长的收发时，大多是需要准备两套系统，分开来进行测试，或者是测试不同波长时重新设置新的测试系统，前者测试成本高，后者效率低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种BiDi光模块测试系统，至少可以解决现有技术中的部分缺陷。
[0005]为实现上述目的，本技术实施例提供如下技术方案：一种BiDi光模块测试系统，包括用于连接待测模块的第一测试板、用于提供光源的第二测试板、用于切换测试通道的光开关组件以及用于将不同波长分开并输出的波分复用组件，所述第一测试板和所述第二测试板均通过所述光开关组件与所述波分复用组件连通。
[0006]进一步，所述光开关组件包括第一光开关，所述第一测试板与所述第一光开关的COM口连通，所述第一光开关的CH1输出端和CH2输出端接入所述波分复用组件。
[0007]进一步，所述波分复用组件包括第一波分复用器和第二波分复用器，所述第一光开关的CH1输出端与所述第一波分复用器的COM口连通，所述第一光开关的CH2输出端与所述第二波分复用器的COM连通。
[0008]进一步，所述光开关组件还包括第二光开关，所述第二测试板通过衰减器接入所述第二光开关，所述第二光开关的CH1输出端和所述第二光开关的CH2输出端接入所述波分复用组件。
[0009]进一步，所述光开关组件还包括第三光开关和第四光开关，所述波分复用组件接入所述第三光开关，所述第三光开关的COM口与所述第四光开关的COM口连通。
[0010]进一步，还包括示波器，所述第四光开关的CH1输出端与所述示波器连通。
[0011]进一步，还包括光功率计，所述第四光开关的CH2输出端与所述光功率计连通。
[0012]进一步，还包括光谱仪，所述第四光开关的CH3输出端与所述光谱仪连通。
[0013]进一步，还包括误码仪，所述误码仪与所述第一测试板连通。
[0014]进一步，还包括为所述第一测试板和第二测试板供电的电源。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：一种BiDi光模块测试系统，通过采用光开关和波分复用器的配合，实现BiDi光模块两种波长的收发测试，不再需要重新替换光器件也不需要准备多套测试系统，提高了效率的同时还节省了测试成本。
附图说明
[0016]图1为本技术实施例提供的一种BiDi光模块测试系统的器件之间的连接示意图；
[0017]附图标记中：1
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第一测试板；2
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第二测试板；3
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第一光开关；4
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第二光开关；5
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第三光开关；6
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第四光开关；7
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第一波分复用器；8
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第二波分复用器；9
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衰减器；10
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示波器；11
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光功率计；12
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光谱仪；13
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误码仪；14
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电源。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1，本技术实施例提供一种BiDi光模块测试系统，包括用于连接待测模块的第一测试板1、用于提供光源的第二测试板2、用于切换测试通道的光开关组件以及用于将不同波长分开并输出的波分复用组件，所述第一测试板1和所述第二测试板2均通过所述光开关组件与所述波分复用组件连通。在本实施例中，通过采用光开关和波分复用器的配合，实现BiDi光模块两种波长的收发测试，不再需要重新替换光器件也不需要准备多套测试系统，提高了效率的同时还节省了测试成本。具体地，通过光开关可以切换测试通道，避免两套测试方案产生干涉，通过波分复用组件可以将不同波长分开然后再输出，二者再配合其他的测试器件即可完成两种波长的收发测试。
[0020]作为本技术实施例的优化方案，请参阅图1，所述光开关组件包括第一光开关3，所述第一测试板1与所述第一光开关3的COM口连通，所述第一光开关3的CH1输出端和CH2输出端接入所述波分复用组件。优选的，所述波分复用组件包括第一波分复用器7和第二波分复用器8，所述第一光开关3的CH1输出端与所述第一波分复用器7的COM口连通，所述第一光开关3的CH2输出端与所述第二波分复用器8的COM连通。在本实施例中，光开关组件由多个光开关组成，这里细化的第一光开关3承担着连接第一测试板1和第一波分复用器7和第二波分复用器8的作用。
[0021]作为本技术实施例的优化方案，请参阅图1，所述光开关组件还包括第二光开关4，所述第二测试板2通过衰减器9接入所述第二光开关4，所述第二光开关4的CH1输出端和所述第二光开关4的CH2输出端接入所述波分复用组件。所述光开关组件还包括第三光开关5和第四光开关6，所述波分复用组件接入所述第三光开关5，所述第三光开关5的COM口与所述第四光开关6的COM口连通。在本实施例中，第一波分复用器7的波长1与第三光开关5的CH1相连，第二波分复用器8的波长2与第三光开关5的CH2相连。第三光开关5的COM口与第四光开关6的COM口相连，第四光开关6的CH1、CH2、CH3分别与示波器10、光功率计11和光谱仪12相连，完成发射参数的测试。另外，发射光源的第二测试板2与衰减器9的CH1输入相连，衰减器9的CH1输出与第二光开关4的COM口相连，其中第二光开关4的CH1与第二波分复用器8的波长2相连，第二光开关4的CH2与所述第一波分那个器的波长1相连完成接收测试。利用光开关将待测模块的光路分成两路，分别与两个波分复用器相连，分出发射波长的光路利用光开关与示波器10、光功率计11和光谱仪12并联，完成发射测试。光源经过衰减器9与波
分复用器相连，分出待测模块的接收波长光路输入至待测模块，完成接收测试。
[0022]作为本技术实施例的优化方案，请参阅图1，还包括误码仪13，所述误码仪13与所述第一测试板1连通。还包括为所述第一测试板1和第二测试板2供电的电源14。在本实施例中，误码仪13和电源均采用现有器件，这里就不多做介绍。其中电源14直接输出3.3V，简化了连线。
[0023]作为本技术实施例的优化方案，请参阅图1，本系统采用第一波分复用器7和第二波分复用器8，既满足收发一体化测试，也满足BiDi光模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种BiDi光模块测试系统，其特征在于：包括用于连接待测模块的第一测试板、用于提供光源的第二测试板、用于切换测试通道的光开关组件以及用于将不同波长分开并输出的波分复用组件，所述第一测试板和所述第二测试板均通过所述光开关组件与所述波分复用组件连通。2.如权利要求1所述的一种BiDi光模块测试系统，其特征在于：所述光开关组件包括第一光开关，所述第一测试板与所述第一光开关的COM口连通，所述第一光开关的CH1输出端和CH2输出端接入所述波分复用组件。3.如权利要求2所述的一种BiDi光模块测试系统，其特征在于：所述波分复用组件包括第一波分复用器和第二波分复用器，所述第一光开关的CH1输出端与所述第一波分复用器的COM口连通，所述第一光开关的CH2输出端与所述第二波分复用器的COM连通。4.如权利要求1所述的一种BiDi光模块测试系统，其特征在于：所述光开关组件还包括第二光开关，所述第二测试板通过衰减器接入所述第二光开关，所述第二光开关的CH1输...

【专利技术属性】
技术研发人员：帅亮，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：