【技术实现步骤摘要】
本公开涉及光模块测试,特别涉及一种光模块测试系统。
技术介绍
1、对于高速光模块,其需要测试项目很多,误码仪、测试设备等昂贵,测试时间较长,且在传统光模块工业测试中,需要在特定的温度作点测试,高速光模块功耗高,等待温度时间较长,因此测试设备使用率不高。
2、且传统的光模块工业生产测试时,由于光模块的工作模式,一般将发射和接收分开来测试,其中发射侧包括:发射端高温测试、发射端低温测试、发射端常温测试;接收侧包括:接收端高温测试、接收端低温测试、接收端常温测试。多次插拔测试容易增大系统误差和人为操作危险,且具有耗时长、效率低等缺点,因此亟需设计一种新思路光模块测试方案,去满足市场需求。并且,由于高速误码仪及射频线缆价格昂贵,插拔次数寿命有限,因此总体成本较高,生产测试需要尽可能降低物料成本。
技术实现思路
1、本技术的目的在于克服现有技术中的至少一种缺陷,提供了一种光模块测试系统。
2、本技术的技术方案是这样实现的:本技术公开了一种光模块测试系统,包括误码检测模块、测试光源和第一光开关,所述第一光开关具有多个输入端以及一个输出端,所述第一光开关的多个输入端通过第二光纤线路分别一一对应与多个待测试光模块的光发射端连接,第一光开关的输出端与测试设备连接,所述待测试光模块的光接收端通过第一光纤线路与测试光源连接,所述待测试光模块与误码检测模块连接。
3、进一步地,所述测试光源与待测试光模块之间的第一光纤线路上设置有光衰。
4、进一步地,所述待测
5、进一步地,所述误码检测模块采用误码仪。
6、进一步地,本技术的光模块测试系统还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用光模块,所述测试板上设有用于与所述光模块连接的第二射频连接器,所述第一射频连接器通过导电线路与第二射频连接器连接。
7、进一步地,本技术的光模块测试系统还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用信号处理模块,所述信号处理模块设置在测试板上,并通过导电线路与所述第一射频连接器连接。
8、进一步地,所述测试光源为光模块或光发射次模块。
9、进一步地,本技术的光模块测试系统还包括第一射频开关和第二射频开关,所述第一射频开关包括一个输入端和与多个输出端;所述第一射频开关的输入端与误码检测模块的发射端连接,所述第一射频开关的多个输出端分别一一对应与多个待测试光模块的电输入端连接;所述第二射频开关包括多个输入端和与一个输出端,所述第二射频开关的多个输入端分别一一对应与多个待测试光模块的电输出端连接,所述第二射频开关的输出端与误码检测模块的接收端连接。
10、进一步地,本技术的光模块测试系统还包括第二光开关,所述第二光开关具有一个输入端以及多个输出端,所述第二光开关的输入端与第一光开关的输出端连接,所述第二光开关的多个输出端分别一一对应与多个测试设备连接。
11、进一步地,本技术的光模块测试系统还包括第三光开关,所述第三光开关具有一个输入端以及多个输出端,所述第三光开关的输入端与测试光源连接,所述第三光开关的多个输出端分别一一对应与多个待测试光模块的光接收端连接。
12、本技术至少具有如下有益效果:由于本技术的光模块测试系统包括误码检测模块、测试光源和第一光开关,所述第一光开关具有多个输入端以及一个输出端,所述第一光开关的多个输入端通过第二光纤线路分别一一对应与多个待测试光模块的光发射端连接,第一光开关的输出端与测试设备连接,所述待测试光模块的光接收端通过第一光纤线路与测试光源连接,所述待测试光模块与误码检测模块连接。采用上述方案使得多个不同台位的待测光模块可以使用一套发射参数测试设备进行测试,提高了设备的使用效率。
13、本技术的光模块测试系统还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用光模块,所述测试板上设有用于与所述光模块连接的第二射频连接器,所述第一射频连接器通过导电线路与第二射频连接器连接。采用上述方案可实现对待测试光模块进行误码测试,与现有技术相比,节省了误码仪、射频线等昂贵设备,大大减少测试成本。
14、本技术的光模块测试系统还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用信号处理模块,所述信号处理模块设置在测试板上,并通过导电线路与所述第一射频连接器连接。采用上述方案可实现对待测试光模块进行误码测试,与现有技术相比,节省了误码仪、射频线等昂贵设备,大大减少测试成本。
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1.一种光模块测试系统,其特征在于:包括误码检测模块、测试光源和第一光开关,所述第一光开关具有多个输入端以及一个输出端,所述第一光开关的多个输入端通过第二光纤线路分别一一对应与多个待测试光模块的光发射端连接,第一光开关的输出端与测试设备连接,所述待测试光模块的光接收端通过第一光纤线路与测试光源连接,所述待测试光模块与误码检测模块连接。
2.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述测试光源与待测试光模块之间的第一光纤线路上设置有光衰。
3.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述待测试光模块的电输出端与误码检测模块的接收端连接,所述误码检测模块的发射端与待测试光模块的电输入端连接。
4.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述误码检测模块采用误码仪。
5.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用光模块,所述测试板上设有用于与所述光模块连接的第二射频连接器,所述第一射频连接器通过导电线路与第二射频连接器连
6.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用信号处理模块,所述信号处理模块设置在测试板上,并通过导电线路与所述第一射频连接器连接。
7.根据权利要求1至6任一所述的光模块测试系统,其特征在于:所述测试光源为光模块或光发射次模块。
8.根据权利要求1至6任一所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括第一射频开关和第二射频开关,所述第一射频开关包括一个输入端和与多个输出端;所述第一射频开关的输入端与误码检测模块的发射端连接,所述第一射频开关的多个输出端分别一一对应与多个待测试光模块的电输入端连接;所述第二射频开关包括多个输入端和与一个输出端,所述第二射频开关的多个输入端分别一一对应与多个待测试光模块的电输出端连接,所述第二射频开关的输出端与误码检测模块的接收端连接。
9.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括第二光开关,所述第二光开关具有一个输入端以及多个输出端,所述第二光开关的输入端与第一光开关的输出端连接,所述第二光开关的多个输出端分别一一对应与多个测试设备连接。
10.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括第三光开关,所述第三光开关具有一个输入端以及多个输出端,所述第三光开关的输入端与测试光源连接,所述第三光开关的多个输出端分别一一对应与多个待测试光模块的光接收端连接。
...【技术特征摘要】
1.一种光模块测试系统,其特征在于:包括误码检测模块、测试光源和第一光开关,所述第一光开关具有多个输入端以及一个输出端,所述第一光开关的多个输入端通过第二光纤线路分别一一对应与多个待测试光模块的光发射端连接,第一光开关的输出端与测试设备连接,所述待测试光模块的光接收端通过第一光纤线路与测试光源连接,所述待测试光模块与误码检测模块连接。
2.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述测试光源与待测试光模块之间的第一光纤线路上设置有光衰。
3.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述待测试光模块的电输出端与误码检测模块的接收端连接,所述误码检测模块的发射端与待测试光模块的电输入端连接。
4.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:所述误码检测模块采用误码仪。
5.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述误码检测模块采用光模块,所述测试板上设有用于与所述光模块连接的第二射频连接器,所述第一射频连接器通过导电线路与第二射频连接器连接。
6.根据权利要求1所述的光模块测试系统,其特征在于:还包括测试板,所述测试板上设有用于与待测试光模块连接的第一射频连接器,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘康辉,李林科,吴天书,杨现文,张健,
申请(专利权)人:武汉联特科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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