本发明专利技术公开了一种射频电路测试方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：对待测试FPCA中所包含的电路进行逻辑划分，得到第一射频电路和第二射频电路，第一射频电路包括对外射频接口，第二射频电路不包括对外射频接口；将第一射频电路与第二射频电路进行电气连接；通过所述对外射频接口对第一射频电路和第二射频电路进行品质测试，得到测试结果。采用本发明专利技术可以减少测试端口，降低测试成本，提高射频电路测试的效率和准确性。射频电路测试的效率和准确性。射频电路测试的效率和准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种射频电路测试方法、装置及相关设备
[0001]本专利技术涉及FPCA产品检测
，尤其涉及一种射频电路测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
[0002]矢量网络分析仪(network analyzer，VNA)又可以称为微波矢量网络分析仪，是一种能在宽频带内进行扫描测量以确定网络参量的综合性微波测量仪器，可直接测量有源或无源、可逆或不可逆的双口和单口网络的复数散射参数，并以扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性。
[0003]柔性电路板组装(flexible printed circuit assembly，FPCA)是指在FPC空板上贴各类元件成品，当前在电子产品上应用较广，主要应用于手机及各种穿戴设备等。FPCA中常常含有复杂射频电路(如手机天线，内含多路调谐天线)，这些电路具有多个射频接口，由于产品设计等因素的影响，这些接口的位置和形状都不一致，没有一个统一标准，导致在对这些电路进行品质测试时存在各种问题，例如需要较多端口的测试设备或将多个测试设备进行串并联从而完成电路测试，测试成本较大，测试准确性和测试效率较低。
[0004]因此，如何高效准确的完成射频电路的测试，降低测试成本，提高测试准确性和效率是目前亟待解决的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例提供一种射频电路测试方法、装置、计算机设备和存储介质，能够降低测试成本，提高测试的效率和准确性。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种射频电路测试方法，包括以下步骤：基于待测试成品柔性电路板FPCA，对所述待测FPCA中所包含的电路进行逻辑划分，得到第一射频电路和第二射频电路，其中，所述第一射频电路包括对外射频接口，所述对外射频接口用于连接测试设备，所述测试设备用于对FPCA进行电路品质测试，所述第二射频电路不包括对外射频接口；将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行电气连接；通过所述对外射频接口对所述第一射频电路和所述第二射频电路进行品质测试，得到测试结果。
[0007]在一种可能的实现方式中，查找所述第一射频电路和所述第二射频电路中孤立的钢片元件，所述钢片元件对所述第一射频电路和所述第二射频电路的电路影响小于影响阈值；改变所述钢片元件的电路特性，以使得所述钢片元件对所述第一射频电路和所述第二射频电路的电路影响大于所述影响阈值；记录所述钢片元件在改变电路特性之后得到的测试波形，并与所述钢片元件未改变电路特性之前得到测试波形进行比较，得到比较结果；基于所述比较结果，确定所述钢片元件是否从所述第一射频电路或所述第二射频电路中脱落
。
[0008]在另一种可能的实现方式中，利用电气特性良好的金属块将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行连接，所述金属块包括铜块。
[0009]在另一种可能的实现方式中，在所述钢片元件的下方增加一个金属铜块，所述金属铜块的物理规格是所述钢片元件的N倍，其中，所述物理规格包括体积，所述N为大于1的正整数。
[0010]在另一种可能的实现方式中，通过所述对外射频接口接收测试设备输入的激励信号，记录所得到的信号波形；根据所述信号波形确定所述第一射频电路和所述第二射频电路的品质。
[0011]为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种射频电路测试装置，包括：划分模块，用于对待测FPCA中包含的电路进行逻辑划分，得到第一射频电路和第二射频电路，其中，所述第一射频电路包括对外射频接口，所述对外射频接口用于连接测试设备，所述测试设备用于对FPCA进行电路品质测试，所述第二射频电路不包括对外射频接口；连接模块，用于将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行电气连接；测试模块，用于通过所述对外射频接口对所述第一射频电路和所述第二射频电路进行品质测试，得到测试结果。
[0012]为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
[0013]为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
[0014]本专利技术实施例提供的射频电路测试方法、装置、计算机设备及存储介质，通过对待测试FPCA中的电路进行逻辑划分，找到存在对外射频接口，可以直接连外在测试设备的第一射频电路，以及不存在对外射频接口，相对孤立且不可以直接连接外在测试设备的第二射频电路，然后对第一射频电路与第二射频电路进行电气连接，从而使得第二射频电路也间接的可以通过第一射频电路的对外射频接口与测试设备相连，从而完成电路品质的测试。通过这种方式，可以有效减少测试端口，降低测试成本，提高射频电路测试的效率和准确性。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本申请可以应用于其中的示例性系统架构图。
[0017]图2是本申请的射频电路测试方法的一个实施例的流程图。
[0018]图3是本申请的一种FPCA上的射频电路示意图。
[0019]图4是本申请的另一种FPCA上的射频电路示意图。
[0020]图5是本申请的另一种FPCA上的射频电路示意图。
[0021]图6是根据本申请的射频电路测试装置的一个实施例的结构示意图。
[0022]图7是根据本申请的计算机设备的一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。
[0024]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0025]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]请参阅图1，如图1所示本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频电路测试方法，其特征在于，所述方法包括：基于待测试成品柔性电路板FPCA，对所述待测试FPCA中所包含的电路进行逻辑划分，得到第一射频电路和第二射频电路，其中，所述第一射频电路包括对外射频接口，所述对外射频接口用于连接测试设备，所述测试设备用于对FPCA进行电路品质测试，所述第二射频电路不包括对外射频接口；将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行电气连接；通过所述对外射频接口对所述第一射频电路和所述第二射频电路进行品质测试，得到测试结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在通过所述对外射频接口对所述第一射频电路和所述第二射频电路进行品质测试时，所述方法还包括：查找所述第一射频电路和所述第二射频电路中孤立的钢片元件，所述钢片元件对所述第一射频电路和所述第二射频电路的电路影响小于影响阈值；改变所述钢片元件的电路特性，以使得所述钢片元件对所述第一射频电路和所述第二射频电路的电路影响大于所述影响阈值；记录所述钢片元件在改变电路特性之后得到的测试波形，并与所述钢片元件未改变电路特性之前得到测试波形进行比较，得到比较结果；基于所述比较结果，确定所述钢片元件是否从所述第一射频电路或所述第二射频电路中脱落。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行电气连接，包括：利用电气特性良好的金属块将所述第一射频电路与所述第二射频电路进行连接，所述金属块包括铜块。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述改变所述钢片元件的电路特性，以使得所述钢片元件对所述第一射频电路和所述第二射频电路的电路影响大于所述影响阈值包括：在所述钢片元件的下方增加一个金属铜块，所述金属铜块的物理规格是所述钢片元件的N倍，其中，所述物理规格包括体积，所述N为大于1的正整数。5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述通过所述对外射频接口对所述第一射频电路和所述第二射频电路进行品质测试，得到测试结果包括：通过所述对外射频接口...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑炜，
申请(专利权)人：深圳市燕麦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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