一种薄膜厚度测量系统技术方案

本发明专利技术涉及厚度测量技术领域，具体提供了一种薄膜厚度测量系统，包括：厚度测量单元，其包括作业台、传送组件和检测组件，传送组件和检测组件设置在作业台上；传送组件包括收卷辊、三个导向辊和电机一，一个收卷辊和一个导向辊分别设置在作业台上，两个导向辊分别转动设置在检测组件的薄膜输入侧和薄膜输出侧，电机一与收卷辊传动连接；收卷辊转动连接在两个第一固定块之间，第一固定块固定连接在作业台上端，厚度测量单元还包括清洁机构，清洁机构与两个第一固定块连接，托辅机构对应收卷辊设置在作业台的前侧。本发明专利技术能够调节X射线检测机构的位置以及更换X射线检测机构，且能够对收卷辊及导向辊进行清洁，保证了生产的薄膜的质量。质量。质量。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜厚度测量系统


[0001]本专利技术涉及厚度测量
，特别涉及一种薄膜厚度测量系统。

技术介绍

[0002]流延机生产塑料薄膜过程，是将塑料颗粒加热溶解，再经螺杆输送到膜头，最后从膜头的唇口挤出。其唇口内的缝隙宽度由螺栓压紧度控制，每个螺栓控制宽度约为1英寸。根据生产薄膜的宽度不同，一般需要若干个螺栓排列控制全幅的厚度。其中，螺栓又分为电热螺栓和手动螺栓。调节薄膜厚度时，手动螺栓的控制方式是由工人使用扳手旋转调节。电热螺栓是通过电热丝使螺栓加热，改变螺栓的膨胀程度，挤压唇口，最终实现唇口开度改变。传统的厚度自动控制方式则是通过调节加热螺栓的通电功率，改变唇口开度，从而实现薄膜厚度的改变。
[0003]现有技术中，薄膜厚度测量系统通常包括薄膜厚度测量装置，现有的薄膜厚度测量装置中，通常将薄膜采用传送组件传送通过厚度测量装置，通过厚度测量装置的用于厚度检测的检测机构进行厚度检测，传送组件通常包括：收卷辊和导向辊，现有薄膜厚度测量装置通常具有以下问题：1、缺乏对传送组件的收卷辊的清洁机构，容易由于收卷辊的灰尘影响生产的膜的质量；2、检测机构通常位置固定，无法根据需要调节检测机构的位置，以及不便于更换检测机构。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种薄膜厚度测量系统，用以解决
技术介绍
提出的技术问题中至少一项。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术公开了一种薄膜厚度测量系统，包括：厚度测量单元，厚度测量单元包括作业台、传送组件和检测组件，传送组件和检测组件设置在作业台上；传送组件包括收卷辊、三个导向辊和电机一，一个收卷辊和一个导向辊分别设置在作业台上，两个导向辊分别转动设置在检测组件的薄膜输入侧和薄膜输出侧，电机一与收卷辊传动连接；收卷辊转动连接在两个第一固定块之间，第一固定块固定连接在作业台上端，厚度测量单元还包括清洁机构，清洁机构与两个第一固定块连接；托辅机构对应收卷辊设置在作业台的前侧。
[0006]优选的，检测组件包括检测箱，检测箱固定连接在作业台上端，检测箱的前后两侧内壁开设有辅助槽，照明灯固定设置在检测箱的内顶面上，丝杆一转动连接在检测箱的左右两侧，电机二与丝杆一传动连接，电机二固定连接在检测箱外侧，连接块一螺纹连接在丝杆一上，连接块一下端固定连接有连接座，X射线检测机构可拆卸连接在连接座内或连接座
下端，两个辅助杆的一端分别固定在连接块一的前后两端，辅助杆的另一端滑动设置在对应的辅助槽内，检测箱的前后两侧均开设有容薄膜通过的通槽，通槽位于辅助槽下方。
[0007]优选的，清洁机构包括两个升降气杆，两个升降气杆的缸体分别固定设置在两个第一固定块的顶部，清理架的两端固定设置在两个升降气杆的推杆上，丝杆二转动设置在清理架内，滑动块螺纹连接在丝杆二上，电机三固定设置在滑动块的顶部，电机三的转轴穿过滑动块与清扫盘连接，丝杆二的一端固定有锥齿轮一，第二固定块固定设置在一个升降气杆的缸体的一侧，联动轴转动设置在第二固定块上，联动轴的一端设置锥齿轮二，锥齿轮二与锥齿轮一啮合，联动轴的另一端设置锥齿轮三，电机一的输出轴固定连接有主动轴，主动轴上左右间隔的固定套设锥齿轮四和直齿轮二，锥齿轮四与锥齿轮三啮合，直齿轮二与直齿轮一啮合，直齿轮一固定套接在收卷辊上。
[0008]优选的，托辅机构包括两个固定盘，两个固定盘左右间隔的固定设置在作业台的前侧，U形旋转架转动设置在两个固定盘之间，套筒套设在U形旋转架的水平端，卡柱固定设置在U形旋转架的上部的左右两侧外侧，固定盘上还开设有容卡柱插入的孔。
[0009]优选的，厚度测量单元基于X射线检测薄膜厚度，测量的薄膜厚度基于以下公式计算：h= 1/[λ * ln(I0/I)]；h为薄膜厚度，I为X射线透过薄膜后的信号强度，I0为X射线透过薄膜前的信号强度，λ为薄膜对X射线的吸收系数；ln为以e为底数的对数。
[0010]优选的，还包括：控制逻辑单元、电气控制单元、螺栓调整机构，控制逻辑单元分别与厚度测量单元、电气控制单元电连接，电气控制单元还与螺栓调整机构电连接；螺栓调整机构包括：X轴平移组件、Y轴平移组件、旋转组件，Y轴平移组件连接在X轴平移组件的移动端，旋转组件连接在Y轴平移组件的移动端，旋转组件的旋转端连接有扳手。
[0011]优选的，控制逻辑单元基于厚度测量单元实测厚度及以下公式确定螺栓调整角度：A = (T
‑
T
S
)*k；其中A为螺栓调整角度，A正值为顺时针方向，A负值为逆时针方向；T为厚度测量单元实测厚度；Ts为薄膜的目标厚度；k为增益系数；控制逻辑单元基于公式确定螺栓调整周期：W = L/V；其中，W为螺栓调整周期，L为流延机的膜头到厚度测量单元的测厚仪的距离，V为薄膜生产线的线速度。
[0012]优选的，导向辊转动连接在安装框内，安装框与作业台或检测组件连接，安装框连接有多功能辅助组件，安装框的前侧或后侧设置第一开口，多功能辅助组件包括：清洁组件，清洁组件包括：丝杆三，丝杆三平行于导向辊，丝杆三转动连接在安装框内，且丝杆三位于导向辊前侧下部或后侧下部，螺纹滑块螺纹连接在丝杆三上，且螺纹滑块的靠近第一开口的一侧连接水平电动伸缩杆的固定端，水平电动伸缩杆的伸缩端连接有毛刷，安装框外侧连接有电机四，电机四用于驱动丝杆三，丝杆三通过传动组件一与导向辊传动连接；薄膜调位组件，薄膜调位组件包括：两个支撑轴，两个支撑轴分别转动连接在安装
框的靠近第一开口的一侧的左右两侧，支撑轴平行于丝杆三，支撑轴通过传动组件二与导向辊传动连接，两个支撑轴分别连接有两个连接杆一，连接块二与两个连接杆一固定连接，连接块二上左右间隔的固定连接有限位板一，两个限位板一的远离连接块二的一侧固定连接有限位板二，限位板一及限位板二上分别连接有限位组件。
[0013]优选的，限位组件包括：螺纹杆，螺纹杆与限位板一或限位板二贯穿螺纹连接，螺纹杆位于限位板一或限位板二内侧的一端与压板接触或转动连接，压板与对应的限位板一或限位板二之间固定连接有弹簧一。
[0014]优选的，连接座中部设置第一腔体，第一腔体下端设置第二开口，第一腔体上端内部固定连接有限位板三，连接座内位于第一腔体左右两侧设置第二腔体，X射线检测机构通过连接机构连接在连接座内，连接机构包括：驱动组件，包括：竖向电动伸缩杆，竖向电动伸缩杆下端固定连接在连接座上端，连接块三中部下端固定连接在竖向电动伸缩杆上端的伸缩端；两组左右对称的传动及限位组件，传动及限位组件包括：竖向杆，竖向杆沿着上下方向滑动贯穿第二腔体，竖向齿条通过连接块三固定连接在竖向杆下端靠近第一腔体的一侧，齿轮架固定连接在连接座下端，传动齿轮转动连接在齿轮架上，传动齿轮与竖向齿条啮合，限位块一与传动齿轮固定连接，限位块一上固定连接有微型散热风扇；两组左右对称的夹紧组件，夹紧组件包括：夹紧板，夹紧板上固定连接有两个上下间隔的水平杆，水平杆的远离夹紧板的一侧为配合弧面，两个限位块二上下间隔的固定连接在竖向杆上，限位块二的靠近水平杆的一侧为斜面，斜面与配合弧面接触，左侧的限位块三本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，包括：厚度测量单元，厚度测量单元包括作业台(1)、传送组件(2)和检测组件(3)，传送组件(2)和检测组件(3)设置在作业台(1)上；传送组件(2)包括收卷辊(21)、三个导向辊(22)和电机一(23)，一个收卷辊(21)和一个导向辊(22)分别设置在作业台(1)上，两个导向辊(22)分别转动设置在检测组件(3)的薄膜输入侧和薄膜输出侧，电机一(23)与收卷辊(21)传动连接；收卷辊(21)转动连接在两个第一固定块(211)之间，第一固定块(211)固定连接在作业台(1)上端，厚度测量单元还包括清洁机构(4)，清洁机构(4)与两个第一固定块(211)连接；托辅机构(5)对应收卷辊(21)设置在作业台(1)的前侧。2.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，检测组件(3)包括检测箱(31)，检测箱(31)固定连接在作业台(1)上端，检测箱(31)的前后两侧内壁开设有辅助槽(32)，照明灯(34)固定设置在检测箱(31)的内顶面上，丝杆一(35)转动连接在检测箱(31)的左右两侧，电机二(36)与丝杆一(35)传动连接，电机二(36)固定连接在检测箱(31)外侧，连接块一(39)螺纹连接在丝杆一(35)上，连接块一(39)下端固定连接有连接座(310)，X射线检测机构(37)可拆卸连接在连接座(310)内或连接座(310)下端，两个辅助杆(38)的一端分别固定在连接块一(39)的前后两端，辅助杆(38)的另一端滑动设置在对应的辅助槽(32)内，检测箱(31)的前后两侧均开设有容薄膜通过的通槽(33)，通槽(33)位于辅助槽(32)下方。3.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，清洁机构(4)包括两个升降气杆(41)，两个升降气杆(41)的缸体分别固定设置在两个第一固定块(211)的顶部，清理架(42)的两端固定设置在两个升降气杆(41)的推杆上，丝杆二(43)转动设置在清理架(42)内，滑动块(44)螺纹连接在丝杆二(43)上，电机三(45)固定设置在滑动块(44)的顶部，电机三(45)的转轴穿过滑动块(44)与清扫盘(46)连接，丝杆二(43)的一端固定有锥齿轮一(410)，第二固定块(47)固定设置在一个升降气杆(41)的缸体的一侧，联动轴(48)转动设置在第二固定块(47)上，联动轴(48)的一端设置锥齿轮二(411)，锥齿轮二(411)与锥齿轮一(410)啮合，联动轴(48)的另一端设置锥齿轮三(412)，电机一(23)的输出轴固定连接有主动轴，主动轴上左右间隔的固定套设锥齿轮四(413)和直齿轮二(49)，锥齿轮四(413)与锥齿轮三(412)啮合，直齿轮二(49)与直齿轮一(414)啮合，直齿轮一(414)固定套接在收卷辊(21)上。4.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，托辅机构(5)包括两个固定盘(51)，两个固定盘(51)左右间隔的固定设置在作业台(1)的前侧，U形旋转架(52)转动设置在两个固定盘(51)之间，套筒(54)套设在U形旋转架(52)的水平端，卡柱(53)固定设置在U形旋转架(52)的上部的左右两侧外侧，固定盘(51)上还开设有容卡柱(53)插入的孔。5.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，厚度测量单元基于X射线检测薄膜厚度，测量的薄膜厚度基于以下公式计算：h= 1/[λ * ln(I0/I)]；h为薄膜厚度，I为X射线透过薄膜后的信号强度，I0为X射线透过薄膜前的信号强度，λ为薄膜对X射线的吸收系数；ln为以e为底数的对数。6.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度测量系统，其特征在于，还包括：控制逻辑单元、
电气控制单元、螺栓调整机构，控制逻辑单元分别与厚度测量单元、电气控制单元电连接，电气控制单元还与螺栓调整机构电连接；螺栓调整机构包括：X轴平移组件(61)、Y轴平移组件(62)、旋转组件(63)，Y轴平移组件(62)连接在X轴平移组件(61)的移动端，旋转组件(63)连接在Y轴平移组件(62)的移动端，旋转组件(63)的旋转端连接有扳手(64)...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨牧，曹精忠，杨辉华，
申请(专利权)人：钛玛科北京工业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：