一种晶体属性预测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种晶体属性预测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型；根据初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定目标原子路径，并确定目标原子路径的路径原子距离；基于初始原子的原子位置以及原子类型，确定目标原子路径分别对应的目标路径特征；将目标原子路径分别对应的目标路径特征以及路径原子距离，输入到目标晶体属性预测模型中，并根据目标晶体属性预测模型的输出结果，确定目标晶体的属性预测结果。本发明专利技术实施例的技术方案，可以提高晶体属性预测的准确率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体属性预测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及机器学习领域，尤其涉及一种晶体属性预测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]晶体属性的预测，对于材料的筛选和发现十分重要。
[0003]但是，目前存在的晶体属性预测方法存在准确率低的问题，叩待解决。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种晶体属性预测方法、装置、电子设备及存储介质，以提高晶体属性预测的准确率。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种晶体属性预测方法，可以包括：
[0006]获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型；
[0007]根据初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定基于初始原子构建出的目标原子路径，并确定目标原子路径中的每条目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离；
[0008]基于初始原子的原子位置以及原子类型，确定目标原子路径分别对应的目标路径特征；
[0009]将目标原子路径分别对应的目标路径特征以及路径原子距离，输入到目标晶体属性预测模型中，并根据目标晶体属性预测模型的输出结果，确定目标晶体的属性预测结果。
[0010]根据本专利技术的另一方面，提供了一种晶体属性预测装置，可以包括：
[0011]目标晶体属性预测模型获取模块，用于获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型；
[0012]路径原子距离确定模块，用于根据初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定基于初始原子构建出的目标原子路径，并确定目标原子路径中的每条目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离；
[0013]目标路径特征确定模块，用于基于初始原子的原子位置以及原子类型，确定目标原子路径分别对应的目标路径特征；
[0014]属性预测结果确定模块，用于将目标原子路径分别对应的目标路径特征以及路径原子距离，输入到目标晶体属性预测模型中，并根据目标晶体属性预测模型的输出结果，确定目标晶体的属性预测结果。
[0015]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，可以包括：
[0016]至少一个处理器；以及
[0017]与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0018]存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行时实现本专利技术任意实施例所提供的晶体属性预测方
法。
[0019]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任意实施例所提供的晶体属性预测方法。
[0020]本专利技术实施例的技术方案，获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型；根据初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定基于初始原子构建出的目标原子路径，并确定目标原子路径中的每条目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离；基于初始原子的原子位置以及原子类型，确定目标原子路径分别对应的目标路径特征；将目标原子路径分别对应的目标路径特征以及路径原子距离，输入到目标晶体属性预测模型中，并根据目标晶体属性预测模型的输出结果，确定目标晶体的属性预测结果。本专利技术实施例的技术方案，考虑到组成晶体的原子之间的距离也会影响到晶体的属性，从而基于路径原子距离确定目标晶体的属性预测结果，以使预测的属性预测结果更加精准，提高了晶体属性预测的准确率。
[0021]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或是重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0022]图1是本专利技术实施例一中提供的一种晶体属性预测方法的流程图；
[0023]图2是本专利技术实施例二中提供的一种晶体属性预测方法的流程图；
[0024]图3是本专利技术实施例三中提供的一种晶体属性预测方法的流程图；
[0025]图4是本专利技术实施例四中提供的一种晶体属性预测方法的流程图；
[0026]图5是本专利技术实施例四中提供的一种晶体属性预测方法的可选示例的流程图；
[0027]图6是本专利技术实施例五中提供的晶体属性预测装置的结构框图；
[0028]图7是实现本专利技术实施例的晶体属性预测方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0029]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0030]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。“目标”、“原始”等的情况类似，在此不再赘述。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0031]实施例一
[0032]图1是本专利技术实施例一中所提供的一种晶体属性预测方法的流程图。本实施例可适用于对晶体属性预测的情况。该方法可以由本专利技术实施例提供的晶体属性预测装置来执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式实现，该装置可以集成在电子设备上，该电子设备可以是各种用户终端或服务器。
[0033]参见图1，本专利技术实施例的方法具体包括如下步骤：
[0034]S110、获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型。
[0035]其中，目标晶体是需求进行属性预测的晶体，目标晶体是由至少一个原子组成的，本专利技术实施例中所提及的原子是指原子、离子或分子等能够组成晶体的微观物资单位。
[0036]具体的，可以获取目标晶体中的至少一个初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型。
[0037]在本专利技术实施例中，可以对目标晶体按照其结构进行周期性的展开，按照需求或随机选取至少一个对目标晶体进行周期性展开后得到的原子作为初始原子，至少一个初始原子包括对目标晶体进行周期性展开后的至少一个完整周期内的原子。示例性的，可以是在对目标晶体周期性展开后，随机选取目标晶体中的一个完整周期的原子，再从该完整周期的邻近周期选取至少一个原子或至少一个周期的原子，将上述选取到的各原子作为初始原子。
[003本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体属性预测方法，其特征在于，包括：获取目标晶体中的初始原子的原子位置以及原子类型，并且获取已训练完成的目标晶体属性预测模型；根据所述初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定基于所述初始原子构建出的目标原子路径，并确定所述目标原子路径中的每条目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离；基于所述初始原子的原子位置以及原子类型，确定所述目标原子路径分别对应的目标路径特征；将所述目标原子路径分别对应的目标路径特征以及路径原子距离，输入到所述目标晶体属性预测模型中，并根据所述目标晶体属性预测模型的输出结果，确定所述目标晶体的属性预测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始原子的原子位置以及预设截断半径，确定基于所述初始原子构建出的目标原子路径，包括：从所述初始原子中确定目标原子，其中，所述目标原子的数量与对所述目标晶体进行周期性展开后的任意一个完整周期内的初始原子的数量相同，且所述目标原子中的各个目标原子相互不为等同点；针对所述目标原子中的每个目标原子，根据所述预设截断半径、所述目标原子对应的原子位置以及所述初始原子的原子位置，从所述初始原子中确定路径原子；将所述路径原子组成所述目标原子对应的目标原子路径，以得到所述目标原子分别对应的目标原子路径。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述预设截断半径、所述目标原子对应的原子位置以及所述初始原子的原子位置，从所述初始原子中确定路径原子，包括：根据所述目标原子对应的原子位置以及所述初始原子的原子位置，从所述初始原子中确定出位于所述目标原子的所述预设截断半径内并且距离所述目标原子最近的第一近邻原子；根据所述第一近邻原子对应的原子位置以及所述初始原子的原子位置，从所述初始原子中确定出位于所述第一近邻原子的所述预设截断半径内并且距离所述第一近邻原子最近的第二近邻原子；至少将所述目标原子、所述第一近邻原子和所述第二近邻原子，分别为与所述目标原子对应的路径原子，以得到所述目标原子对应的路径原子。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标原子路径中的每条目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离，包括：至少根据所述目标原子与所述第一近邻原子之间的路径原子距离，及所述第一近邻原子与所述第二近邻原子之间的路径原子距离，确定所述目标原子对应的目标原子路径上的路径原子之间的路径原子距离。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始原子的原子位置以及原子类型，确定所述目标原子路径分别对应的目标路径特征，包括：针对所述目标原子路径中的每条目标原子路径以及所述目标原子路径上的路径原子中的每个路径原子，根据所述初始原子的原子位置，确定所述路径原子与其他原子之间的
周期原...

【专利技术属性】
技术研发人员：王思宇，蒋建慧，邰博，龚奎，王音，
申请(专利权)人：鸿之微科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：