获取存储装置环境温度的方法、电子设备及可读存储装置制造方法及图纸

本申请公开了一种获取存储装置工作环境温度的方法。该方法包括：获取待测存储装置至少一存储块在预设温度下进行擦除操作的第一擦除时间；以及根据预设的第一模型的基础数据，确定预设温度对应的第二擦除时间；其中，第一模型用于表示擦除时间和工作环境温度的对应关系，基础数据为获取第一模型使用的数据；根据第一擦除时间和第二擦除时间，对第一模型进行修正，以得到第二模型；根据第二模型确定待测存储装置的工作环境温度。本申请还公开了一种电子设备以及计算机可读存储装置。通过上述方式，本申请能够在无需设置温度传感器的情况下获取存储装置中存储块的工作环境温度。况下获取存储装置中存储块的工作环境温度。况下获取存储装置中存储块的工作环境温度。

【技术实现步骤摘要】
获取存储装置环境温度的方法、电子设备及可读存储装置


[0001]本申请涉及温度获取领域，特别是涉及一种获取存储装置环境温度的方法、电子设备及计算机可读存储装置。

技术介绍

[0002]存储器作为现代生活工作中必不可少的电子器件，已经进入了我们生活中的方方面面。存储器依照自身的性能分为易失性存储器和非易失性存储器。易失性存储器是指当电源供应中断后，存储器所存储的数据就会消失的存储器。非易失性存储器是指当电源供应中断后，存储器所存储的数据并不会消失的存储器，其恢复供电之后，就能够从中读取相应的数据。而非易失性存储器中，Flash的应用十分广泛。而Flash主要分为Nor和Nand两种技术。其中Nand Flash在使用时对环境温度十分敏感，当温度环境过高时，需要采取一定的措施以保证Nand Flash工作的可靠性。但是由于有些Nand Flash内部和主控并没有内置温度传感器，无法获取到此时Flash或者是主控的工作环境温度。

技术实现思路

[0003]本申请主要目的是提供一种获取存储装置工作环境温度的方法、电子设备以及计算机可读存储装置，能够解决存储装置中未安装温度传感器而无法获取其工作环境温度的技术问题。
[0004]为解决上述技术问题，本申请采用的第一个技术方案是：提供一种获取存储装置工作环境温度的方法。该方法包括：获取待测存储装置至少一存储块在预设温度下进行擦除操作的第一擦除时间；以及根据预设的第一模型的基础数据，确定预设温度对应的第二擦除时间；其中，第一模型用于表示擦除时间和工作环境温度的对应关系，基础数据为获取第一模型使用的数据；根据第一擦除时间和第二擦除时间，对第一模型进行修正，以得到第二模型；根据第二模型确定待测存储装置的工作环境温度。
[0005]其中，根据预设的第一模型的基础数据，确定预设温度对应的第二擦除时间包括：获取基础数据中，在预设温度下的擦除时间；确定擦除时间中出现频率最高的时间为第二擦除时间。
[0006]其中，根据第一擦除时间和第二擦除时间，对第一模型进行修正，以得到第二模型之前进一步包括：获取存储块的类型信息；获取与存储块的类型信息对应的第一模型。
[0007]其中，获取与存储块的类型信息对应的第一模型包括：获取与存储块的类型信息相同的样板存储块；获取不同温度下样板存储块的多个擦除时间；基于擦除时间和温度进行高斯过程回归得到第一模型。
[0008]其中，不同温度之间的温度间隔不超过5摄氏度。
[0009]其中，该方法还包括确定温度的阈值范围；根据阈值范围确定对应的温度间隔。
[0010]其中，根据第一擦除时间和第二擦除时间，对第一模型进行修正，以得到第二模型包括：根据第一擦除时间和第二擦除时间得到误差擦除时间；根据误差擦除时间对第一模
型中的擦除时间进行修正，以得到第二模型。
[0011]其中，该方法还包括获取待测存储装置工作时存储块的一擦除时间；将擦除时间代入第二模型得到待测存储装置的工作环境温度。
[0012]为解决上述技术问题，本申请采用的第二个技术方案是：提供一种电子设备。该电子设备包括存储器和处理器，存储器用于存储程序数据，程序数据能够被处理器执行，以实现如第一个技术方案中所述的方法。
[0013]为解决上述技术问题，本申请采用的第三个技术方案是：提供一种计算机可读存储装置。该计算机可读存储装置存储有程序数据，能够被处理器执行，以实现如第一个技术方案中所述的方法。
[0014]本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请通过获取不同温度下Flash中存储块的擦除时间数据，进一步分析得到与该存储块相关的温度与擦除时间相关函数模型。进一步地，获取待测存储装置中的相应存储块在预设温度下的擦除时间，跟从用于分析相关函数模型的数据中获取的预设温度下的擦除时间进行比较，得到误差时间，从而根据相关的函数模型和误差时间得到待测存储装置中相应存储块的温度与擦除时间相关的函数模型，根据待测存储装置中存储块在不同工作温度下的擦除时间即可获得温度数据，无需在存储装置中设置温度传感器来获取Flash的工作环境温度。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第一实施例的流程示意图；
[0017]图2是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第二实施例的流程示意图；
[0018]图3是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第三实施例的流程示意图；
[0019]图4是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第四实施例的流程示意图；
[0020]图5是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第五实施例的流程示意图；
[0021]图6是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第六实施例的流程示意图；
[0022]图7是本申请获取存储装置工作环境温度的方法第七实施例的流程示意图；
[0023]图8是本申请电子设备一实施例的流程示意图；
[0024]图9是本申请计算机可读存储装置一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0026]本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含
了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0028]如图1所示，图1为本申请获取存储装置工作环境温度的方法第一实施例的流程示意图。其包括以下步骤：
[0029]S11：获取待测存储装置至少一存储块在预设温度下进行擦除操作的第一擦除时间。
[0030]在待测存储装置中选取一正常存储块，在一稳定的工作环境温度下对该存储块进行多次擦除操作，得到多个擦除时间。选取多个擦除时间中出现频率最多的擦除时间，作为第一擦除时间，即在该稳定的温度下该存储块的擦除时间。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种获取存储装置工作环境温度的方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测存储装置至少一存储块在预设温度下进行擦除操作的第一擦除时间；以及根据预设的第一模型的基础数据，确定所述预设温度对应的第二擦除时间；其中，所述第一模型用于表示擦除时间和工作环境温度的对应关系，所述基础数据为获取所述第一模型使用的数据；根据所述第一擦除时间和所述第二擦除时间，对所述第一模型进行修正，以得到第二模型；根据所述第二模型确定所述待测存储装置的所述工作环境温度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设的第一模型的基础数据，确定所述预设温度对应的第二擦除时间包括：获取所述基础数据中，在所述预设温度下的擦除时间；确定所述擦除时间中出现频率最高的时间为所述第二擦除时间。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一擦除时间和所述第二擦除时间，对所述第一模型进行修正，以得到第二模型之前进一步包括：获取所述存储块的类型信息；获取与所述存储块的类型信息对应的第一模型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取与所述存储块的类型信息对应的第一模型包括：获取与所述存储块的类型信息相同的样板存储块；获取不同温度下所述样板存储块的多个擦除时间；基于所述擦除时间和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄泳仪，何少尉，柳耿，
申请(专利权)人：中山市江波龙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：