ONU性能劣化的自动诊断和控制方法技术

本发明专利技术公开了一种ＯＮＵ性能劣化的自动诊断和控制方法。所述方法应用于ＥＰＯＮ系统中，ＥＰＯＮ系统包括ＯＬＴ、ＯＤＮ和ＯＮＵ，包括：１１０）ＯＬＴ监控ＯＮＵ的上行信号，当检测到信号不正常时发出系统告警，同时进入系统诊断模式；１２０）按照特定策略操作ＯＮＵ，再对ＯＮＵ的上行信号进行分析，逐步缩小范围，找出故障ＯＮＵ；１３０）隔离发生故障的ＯＮＵ。本发明专利技术提出的控制机制和诊断算法能使ＥＰＯＮ系统自动定位和隔离故障点，使管理人员能在复杂条件下远程诊断和维护网络，大大提升了网络的运维水平。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种ＯＮＵ性能劣化的自动诊断和控制方法，所述方法应用于ＥＰＯＮ系统中，所述ＥＰＯＮ系统包括ＯＬＴ、ＯＤＮ和ＯＮＵ，其特征在于，包括：　１１０）ＯＬＴ监控ＯＮＵ的上行信号，当检测到信号不正常时发出系统告警，同时进入系统诊断模式；　 １２０）按照特定策略操作ＯＮＵ，再对ＯＮＵ的上行信号进行分析，逐步缩小范围，找出故障ＯＮＵ；　１３０）隔离发生故障的ＯＮＵ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘武，郑直，胡保民，
申请(专利权)人：武汉长光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：83[中国|武汉]