摄像单元及摄像系统技术方案

摄像单元具备第1传感器模块、第2传感器模块、处理基板、第1连接构件及第2连接构件。第1传感器模块具有第1透镜及第1传感器。第2传感器模块具有第2透镜及第2传感器。处理基板基于第1图像信号及第2图像信号执行图像处理。第1连接构件将第1传感器模块与处理基板电连接，且具有可挠性。第2连接构件将第2传感器模块与处理基板电连接，且具有可挠性。且具有可挠性。且具有可挠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】摄像单元及摄像系统


[0001]本专利技术涉及一种摄像单元及摄像系统。

技术介绍

[0002]作为现有的摄像系统，例如有专利文献1所记载的摄像系统。该现有的摄像系统具备检测自闪烁器出射的闪烁光的第1传感器模块及第2传感器模块。第1传感器模块及第2传感器模块对自闪烁器的表面及背面出射的各个闪烁光进行摄像。由此，实现了以不同能带取得对象物的放射线图像的双能量摄像。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2012
‑
154733号公报

技术实现思路

[0006]专利技术所要解决的问题
[0007]在上述的摄像系统中，使用多个传感器模块，因而认为构成摄像系统的摄像单元的结构变得复杂。另外，在上述的摄像系统中，在将对象物的摄像最优化时，有对闪烁器的配置产生制约的情况。该情况下，要求确保摄像单元的摄像位置的调整自由度。
[0008]本专利技术的目的在于提供一种可以简单的结构确保摄像位置的调整自由度的摄像单元及摄像系统。
[0009]解决问题的技术手段
[0010]本专利技术的一方面的摄像单元具备第1传感器模块、第2传感器模块、处理基板、第1连接构件及第2连接构件。第1传感器模块具有：第1透镜，其将第1闪烁光聚光；及第1传感器，其检测由第1透镜聚光的第1闪烁光，输出与检测结果对应的第1图像信号。第2传感器模块具有：第2透镜，其将第2闪烁光聚光；及第2传感器，其检测由第2透镜聚光的第2闪烁光，输出与检测结果对应的第2图像信号。处理基板基于第1图像信号及第2图像信号执行图像处理。第1连接构件将第1传感器模块与处理基板电连接，且具有可挠性。第2连接构件将第2传感器模块与处理基板电连接，且具有可挠性。
[0011]在该摄像单元中，将对来自第1传感器模块及第2传感器模块的第1图像信号及第2图像信号进行处理的处理基板共同化。因此，与对每个传感器模块设置处理基板的结构相比，实现结构的简化。另外，该摄像单元中，处理基板的共同化时，将第1传感器模块及第2传感器模块连接于处理基板的第1连接构件及第2连接构件分别具有可挠性。因此，可个别调整第1传感器模块及第2传感器模块的摄像位置。因此，可充分确保摄像位置的调整自由度。
[0012]摄像单元也可还具备：闪烁器，其通过入射放射线而出射闪烁光。由此，可提高将摄像单元组入到摄像系统时的作业性。
[0013]闪烁器也可具有成为放射线的入射面的第1面及与第1面相对的第2面。第1传感器模块也可在第1面与第2面的相对方向上，配置于闪烁器的第1面侧。第1传感器模块也可将
通过入射放射线而自第1面出射的闪烁光作为第1闪烁光来检测。第2传感器模块也可在相对方向上，配置于闪烁器的第2面侧。第2传感器模块也可将通过入射放射线而自第2面出射的闪烁光作为第2闪烁光来检测。由此，例如可适当实现使用低能带的闪烁光与高能带的闪烁光的双能量摄像。
[0014]第1传感器模块及第2传感器模块也可在第1面及第2面的面内方向的一侧，与闪烁器隔开地配置。相对方向上的第1传感器模块的第1透镜与第1面的间隔也可小于相对方向上的第2传感器模块的第2透镜与第2面的间隔。第2透镜的面内方向的位置也可较第1透镜的面内方向的位置更靠近闪烁器侧。该情况下，将摄像单元组入到系统时，可使闪烁器的第1面靠近对象物。另外，即使使闪烁器的第1面靠近对象物的情况下，也可使第1闪烁光的光路长与第2闪烁光的光路长一致。
[0015]闪烁器也可具有成为放射线的入射面的第1面及与第1面相对的第2面。第1传感器模块及第2传感器模块也可在第1面与第2面的相对方向上配置于闪烁器的第1面侧，且排列于第1面的面内方向。第1传感器模块也可将通过入射放射线而自第1面出射的闪烁光作为第1闪烁光来检测。第2传感器模块也可将通过入射放射线而自第1面出射的闪烁光作为第2闪烁光来检测。该情况下，可通过第1传感器模块及第2传感器模块分别精度良好地检测来自闪烁器的单面的闪烁光。
[0016]闪烁器也可具有成为放射线的入射面的第1面及与第1面相对的第2面。第1传感器模块及第2传感器模块也可在第1面与第2面的相对方向上配置于闪烁器的第2面侧，且排列于第2面的面内方向。第1传感器模块也可将通过入射放射线而自第2面出射的闪烁光作为第1闪烁光来检测。第2传感器模块也可将通过入射放射线而自第2面出射的闪烁光作为第2闪烁光来检测。该情况下，可通过第1传感器模块及第2传感器模块分别精度良好地检测来自闪烁器的单面的闪烁光。
[0017]在第1面及第2面的面内方向上，第1传感器模块的第1透镜与第2传感器模块的第2透镜的视野的一部分彼此也可重叠。该情况下，由于第1透镜的视野与第2透镜的视野连续，因而可无死角、广范围地对闪烁光进行摄像。
[0018]第1传感器模块及第2传感器模块也可在第1面及第2面的面内方向的一侧，与闪烁器隔开地配置。相对方向上的第1传感器模块的第1透镜与闪烁器的间隔也可与相对方向上的第2传感器模块的第2透镜与闪烁器的间隔相等。相对于闪烁器的第1透镜及第2透镜的面内方向的位置也可一致。该情况下，可使第1透镜及第2透镜共同化。另外，由于无须因入射至第1透镜的第1闪烁光的光路长与入射至第2透镜的第2闪烁光的光路长的差所致的图像修正，因而可避免处理基板的图像处理的复杂化。
[0019]本专利技术的一方面的摄像系统具备：搬送装置，其搬送对象物；放射线源，其向由搬送装置搬送的对象物出射放射线；及上述的摄像单元，其基于与透过对象物的放射线对应的图像信号，执行图像处理。根据该摄像系统，如上所述，可实现结构的简化，且充分确保摄像位置的调整自由度。
[0020]专利技术的效果
[0021]根据本专利技术，可提供一种可以简单的结构确保摄像位置的调整自由度的摄像单元及摄像系统。
附图说明
[0022]图1是显示第1实施方式的摄像系统的概略结构的图。
[0023]图2是图1所示的摄像单元的俯视图。
[0024]图3是显示第2实施方式的摄像单元的概略结构的图。
[0025]图4是图3所示的摄像单元的俯视图。
[0026]图5是显示图3所示的第1透镜及第2透镜的视野的图。
[0027]图6是显示第3实施方式的摄像单元的概略结构的图。
[0028]图7是图6所示的摄像单元的俯视图。
具体实施方式
[0029]以下，针对本专利技术的实施方式，一边参照附图一边进行说明。附图的说明中，对同一要件标注同一符号，省略重复的说明。另外，各附图为了方便说明，强调说明对象部位而描述。因此，附图的各构件的尺寸比例未必与实际的一致。
[0030][第1实施方式][0031]图1是显示本专利技术的第1实施方式的摄像系统的概略结构的图。图2是图1所示的摄像单元的俯视图。如图1及图2所示，第1实施方式的摄像系统1为用于取得对象物A的放射线图像的装置。摄像系统1为闪烁器双面观察方式的X射线摄影系统。摄像系统1例如应用于在线X射线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种摄像单元，其中，具备：第1传感器模块，其具有：第1透镜，其将第1闪烁光聚光；及第1传感器，其检测由所述第1透镜聚光的所述第1闪烁光，输出与检测结果对应的第1图像信号；第2传感器模块，其具有：第2透镜，其将第2闪烁光聚光；及第2传感器，其检测由所述第2透镜聚光的所述第2闪烁光，输出与检测结果对应的第2图像信号；处理基板，其基于所述第1图像信号及所述第2图像信号执行图像处理；可挠性的第1连接构件，其将所述第1传感器模块与所述处理基板电连接；及可挠性的第2连接构件，其将所述第2传感器模块与所述处理基板电连接。2.如权利要求1所述的摄像单元，其中，还具备：闪烁器，其通过入射放射线而出射闪烁光。3.如权利要求2所述的摄像单元，其中，所述闪烁器具有成为所述放射线的入射面的第1面及与所述第1面相对的第2面，所述第1传感器模块在所述第1面与所述第2面的相对方向上，配置于所述闪烁器的所述第1面侧，将通过入射所述放射线而自所述第1面出射的所述闪烁光作为所述第1闪烁光来检测，所述第2传感器模块在所述相对方向上，配置于所述闪烁器的所述第2面侧，将通过入射所述放射线而自所述第2面出射的所述闪烁光作为所述第2闪烁光来检测。4.如权利要求3所述的摄像单元，其中，所述第1传感器模块及所述第2传感器模块在所述第1面及所述第2面的面内方向的一侧，与所述闪烁器隔开地配置，所述相对方向上的所述第1传感器模块的所述第1透镜与所述第1面的间隔小于所述相对方向上的所述第2传感器模块的所述第2透镜与所述第2面的间隔，所述第2透镜的所述面内方向的位置较所述第1透镜的所述面内方向的位置更靠近所述闪烁器侧。5.如权利要求2所述的摄像单元，其中，所述闪烁器具有成为所述放射线的入射面的第1面及与所述第1面相对的第2面，所述第1传感器模块及所...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木春树，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：