MEMS器件及其制备方法技术

技术编号:38238466 阅读:15 留言:0更新日期:2023-07-25 18:02
本申请实施例提供一种MEMS器件及其制备方法,其中MEMS器件包括:衬底;基于所述衬底形成的第一电极层;位于第一电极层上的第二电极层,所述第二电极层包括横梁与锚点;所述横梁悬置于所述第一电极上,所述横梁沿第一方向延伸且具有相对设置的两端,所述横梁沿第二方向具有相对设置的两侧,所述第一方向和所述第二方向均垂直于衬底厚度方向,且所述第一方向垂直于所述第二方向;所述横梁的至少一端设置有所述锚点,每个所述锚点包括两个锚固部,所述两个锚固部分别固定于所述横梁的两侧,且每个所述锚固部与所述第一电极层电接触。本申请实施例提供的MEMS器件及其制备方法,具有避免横梁弯曲,利于提高MEMS器件的性能的优点。利于提高MEMS器件的性能的优点。利于提高MEMS器件的性能的优点。

【技术实现步骤摘要】
MEMS器件及其制备方法


[0001]本申请涉及电子
,具体涉及一种MEMS器件及其制备方法。

技术介绍

[0002]MEMS(Micro

Electro

Mechanical System,微机电系统)是将微电子技术与机械工程融合到一起的一种工业技术。MEMS器件是利用MEMS技术制作的一种机械可动结构。作为MEMS器件的一类,MEMS谐振器是通过机电耦合作用,实现对电信号的选频滤波功能。MEMS谐振器具有以下优点:体积小、功耗低、抗冲击,与微电子集成电路工艺兼容、易于系统集成、性能稳定,可靠性高,而且工作频率集中在射频波段,最高可达GHz量级,品质因数高。
[0003]就静电电容式的MEMS谐振器来说,目前主要采用两种制备工艺方案,其一是采用SOI衬底的体硅深刻蚀工艺,采用顶层硅作为谐振器的结构层,其优点是无膜层应力,谐振结构频率无漂移,但是器件制作成本较高;另一是采用多次薄膜沉积并刻蚀的平面工艺,以沉积的多晶硅薄膜作为结构层,此方案的优点是与CMOS工艺兼容,成本相对较低,但是由于多晶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MEMS器件,其特征在于,包括:衬底;基于所述衬底形成的第一电极层;位于第一电极层上的第二电极层,所述第二电极层包括横梁与锚点;所述横梁悬置于所述第一电极上,所述横梁沿第一方向延伸且具有相对设置的两端,所述横梁沿第二方向具有相对设置的两侧,所述第一方向和所述第二方向均垂直于衬底厚度方向,且所述第一方向垂直于所述第二方向;所述横梁的至少一端设置有所述锚点,每个所述锚点包括两个锚固部,所述两个锚固部分别固定于所述横梁的两侧,且每个所述锚固部与所述第一电极层电接触。2.根据权利要求1所述的MEMS器件,其特征在于,所述锚固部包括连接段与固定段,所述连接段与所述横梁的一侧连接并沿第二方向延伸,所述固定段与所述连接段连接并沿所述第一方向延伸。3.根据权利要求2所述的MEMS器件,其特征在于,所述固定段沿所述第一方向具有相对的两端,其中至少一端超出所述连接段。4.根据权利要求1所述的MEMS器件,其特征在于,所述横梁包括主体段与外延段;所述主体段呈长条状并沿第一方向延伸;所述外延段设置在所述主体段沿所述第一方向的一端或两端,且所述外延段沿所述第二方向的两端均超出所述主体段;所述锚固部与所述外延段连接。5.根据权利要求4所述的MEMS器件,其特征在于,所述外延段沿所述第二方向具有相对设置的两个侧面;所述锚固部与所述外延段的侧面连接且沿所述第一方向延伸,且所述锚固部沿所述第一方向的两端中至少其一超过所述外延段。6.根据权利要求4所述的MEMS器件,其特征在于,所述锚固部包括两部分;所述外延段沿所述第一方向具有相对设置的两个端面;每个所述端面各连接有所述锚固部的一部分。7.根据权利要求2

5任一项所述的MEMS器件,其特征在于,所述第一电极层具有朝向所述第二电极层的顶面,所述顶面上...

【专利技术属性】
技术研发人员:淮永进张彦秀陈建鹏张立明
申请(专利权)人:北京燕东微电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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